【技术实现步骤摘要】
本申请涉及大数据及mlcc老化测试，具体而言，涉及一种mlcc老化测试方法、系统和介质。
技术介绍
1、mlcc（multilayer ceramic capacitor，多层片式陶瓷电容器）作为电子电路中不可或缺的关键元件，被广泛应用于各类电子设备中，如智能手机、电脑、汽车电子、通信设备等。随着电子设备的性能不断提升和使用环境的多样化，mlcc 在长期使用过程中可能会出现老化现象，老化会导致 mlcc 的电容值发生变化、等效串联电阻增大、绝缘性能下降等问题，进而影响电子设备的性能、可靠性和寿命。一些现有的老化测试方法往往只关注mlcc的部分性能参数，无法全面评估其老化状态，例如，某些方法只能测量电容值的变化，而忽略了等效串联电阻、绝缘电阻等其他重要参数的变化，而且目前尚缺乏一种对电压依赖性、频率稳定性和环境适应性进行综合评估的老化测试技术。
2、针对上述问题，目前亟待有效的技术解决方案。
技术实现思路
1、本申请的目的在于提供一种mlcc老化测试方法、系统和介质，通过对mlcc的老化测试结果处理获得耐压性能评估指数、频率稳定性评估指数和环境适应性评估指数，进而处理获得可靠性评估指数，根据可靠性评估指数进行产品质量判定，并根据mlcc在不同老化测试环境下的特征参数变化曲线对mlcc的工艺参数进行优化，以实现通过老化测试发现潜在的质量问题的目的。
2、本申请还提供了mlcc老化测试方法，包括以下步骤：
3、对mlcc进行老化测试，获得测试结果数据，
4、根据所述耐压性能测试数据进行处理，获得耐压性能评估指数，根据所述频率稳定性测试数据进行处理，获得频率稳定性评估指数；
5、根据所述环境适应性测试数据进行处理，获得环境适应性评估指数，根据环境适应性评估指数以及所述耐压性能评估指数和频率稳定性评估指数进行处理，获得可靠性评估指数，根据可靠性评估指数进行产品质量判定。
6、可选地，在本申请所述的mlcc老化测试方法中，所述对mlcc进行老化测试，获得测试结果数据，包括耐压性能测试数据、频率稳定性测试数据和环境适应性测试数据，包括：
7、所述耐压性能测试数据包括击穿电压值、绝缘电阻变化值和介质击穿程度数据；
8、所述频率稳定性测试数据包括容量变化值、相位角变化值、esr变化量数据和esl变化量数据；
9、所述环境适应性测试数据包括电容损耗因数数据、漏电流数据、电导率变化数据、物理损伤程度数据和热应力损伤程度数据。
10、可选地，在本申请所述的mlcc老化测试方法中，所述根据所述耐压性能测试数据进行处理，获得耐压性能评估指数，根据所述频率稳定性测试数据进行处理，获得频率稳定性评估指数，包括：
11、根据所述击穿电压值、绝缘电阻变化值和介质击穿程度数据进行处理，获得耐压性能评估指数；
12、根据所述容量变化值、相位角变化值、esr变化量数据和esl变化量数据进行处理，获得频率稳定性评估指数。
13、可选地，在本申请所述的mlcc老化测试方法中，所述根据所述环境适应性测试数据进行处理，获得环境适应性评估指数，根据环境适应性评估指数以及所述耐压性能评估指数和频率稳定性评估指数进行处理，获得可靠性评估指数，根据可靠性评估指数进行产品质量判定，包括：
14、根据所述电容损耗因数数据、漏电流数据、电导率变化量数据、物理损伤程度数据和热应力损伤程度数据进行计算，获得环境适应性评估指数；
15、根据所述环境适应性评估指数、耐压性能评估指数和频率稳定性评估指数进行计算，获得可靠性评估指数；
16、将所述可靠性评估指数与预设可靠性评估指数阈值进行对比，若阈值对比结果不符合预设阈值对比结果要求，则进行产品质量不合格判定。
17、可选地，在本申请所述的mlcc老化测试方法中，还包括：
18、获取mlcc在不同老化测试环境下的特征参数数据，包括电容值、电容损耗因数值和绝缘电阻值；
19、根据所述电容值、电容损耗因数值和绝缘电阻值绘制特征参数变化曲线，包括电容值变化曲线、电容损耗因数变化曲线和绝缘电阻变化曲线；
20、对所述电容值变化曲线、电容损耗因数变化曲线和绝缘电阻变化曲线分别进行特征点识别，并获取特征点对应的特征参数变化率，包括电容值变化率、电容损耗因数变化率和绝缘电阻变化率；
21、将所述电容值变化率、电容损耗因数变化率、绝缘电阻变化率分别与预设电容值变化率阈值、电容损耗因数变化率阈值、绝缘电阻变化率阈值进行对比，获得阈值对比结果；
22、将阈值对比结果不符合预设阈值对比结果要求的特征参数变化率对应的特征参数变化曲线进行标记。
23、可选地，在本申请所述的mlcc老化测试方法中，还包括：
24、将标记的特征参数变化曲线对应的特征参数数据、特征参数变化率及其对应测试环境数据输入预设电容器工艺溯源检测平台中进行识别，获得溯源工艺参数类型数据；
25、获取mlcc的历史老化测试记录数据，根据历史老化测试记录数据提取历史特征参数数据并绘制历史特征参数变化曲线，所述历史特征参数数据包括历史电容值、历史电容损耗因数值和历史绝缘电阻值；
26、获取所述历史特征参数变化曲线中各特征点的历史特征参数变化率，包括历史电容值变化率、历史电容损耗因数变化率和历史绝缘电阻变化率。
27、可选地，在本申请所述的mlcc老化测试方法中，还包括：
28、根据所述历史老化测试记录数据提取所述溯源工艺参数类型数据对应的历史工艺参数数据；
29、根据所述历史工艺参数数据结合所述历史电容值、历史电容损耗因数值、历史绝缘电阻值以及所述历史电容值变化率、历史电容损耗因数变化率、历史绝缘电阻变化率进行模型训练，获得工艺参数适配模型；
30、将所述电容值、电容损耗因数值、绝缘电阻值以及所述电容值变化率、电容损耗因数变化率和绝缘电阻变化率输入所述工艺参数适配模型中进行处理，获得适配工艺参数数据；
31、根据所述适配工艺参数数据以及所述溯源工艺参数类型数据对mlcc的工艺参数进行优化。
32、第二方面，本申请提供了一种mlcc老化测试系统，该系统包括：存储器及处理器，所述存储器中存储mlcc老化测试方法的程序，所述mlcc老化测试方法的程序被所述处理器执行时实现以下步骤：
33、对mlcc进行老化测试，获得测试结果数据，包括耐压性能测试数据、频率稳定性测试数据和环境适应性测试数据；
34、根据所述耐压性能测试数据进行处理，获得耐压性能评估指数，根据所述频率稳定性测试数据进行处理，获得频率稳定性评估指数；
35、根据所述环境适应性测试数据进行处理，获得环境适应性评估指数，根据环境适应性评估指数以及所述耐压性能评估指数和频本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种MLCC老化测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的MLCC老化测试方法，其特征在于，所述对MLCC进行老化测试，获得测试结果数据，包括耐压性能测试数据、频率稳定性测试数据和环境适应性测试数据，包括：
3.根据权利要求2所述的MLCC老化测试方法，其特征在于，所述根据所述耐压性能测试数据进行处理，获得耐压性能评估指数，根据所述频率稳定性测试数据进行处理，获得频率稳定性评估指数，包括：
4.根据权利要求3所述的MLCC老化测试方法，其特征在于，所述根据所述环境适应性测试数据进行处理，获得环境适应性评估指数，根据环境适应性评估指数以及所述耐压性能评估指数和频率稳定性评估指数进行处理，获得可靠性评估指数，根据可靠性评估指数进行产品质量判定，包括：
5.根据权利要求4所述的MLCC老化测试方法，其特征在于，还包括：
6.根据权利要求5所述的MLCC老化测试方法，其特征在于，还包括：
7.根据权利要求6所述的MLCC老化测试方法，其特征在于，还包括：
8.一种MLCC老化测试系
9.根据权利要求8所述的MLCC老化测试系统，其特征在于，所述对MLCC进行老化测试，获得测试结果数据，包括耐压性能测试数据、频率稳定性测试数据和环境适应性测试数据，包括：
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储MLCC老化测试程序，所述MLCC老化测试程序被处理器执行时，实现如权利要求1至7中任一项所述的MLCC老化测试方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种mlcc老化测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的mlcc老化测试方法，其特征在于，所述对mlcc进行老化测试，获得测试结果数据，包括耐压性能测试数据、频率稳定性测试数据和环境适应性测试数据，包括：
3.根据权利要求2所述的mlcc老化测试方法，其特征在于，所述根据所述耐压性能测试数据进行处理，获得耐压性能评估指数，根据所述频率稳定性测试数据进行处理，获得频率稳定性评估指数，包括：
4.根据权利要求3所述的mlcc老化测试方法，其特征在于，所述根据所述环境适应性测试数据进行处理，获得环境适应性评估指数，根据环境适应性评估指数以及所述耐压性能评估指数和频率稳定性评估指数进行处理，获得可靠性评估指数，根据可靠性评估指数进行产品质量判定，包括：
5.根据权利要求4所述的mlcc老化测...
【专利技术属性】
技术研发人员：宾能凤，杨显文，任美蓉，
申请(专利权)人：深圳市宇阳科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：
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