System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种输入稀疏性自适应ADC电路及模块制造技术_技高网
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一种输入稀疏性自适应ADC电路及模块制造技术

技术编号:44211160 阅读:0 留言:0更新日期:2025-02-06 18:43
本发明专利技术涉及模拟数字转换电路设计技术领域,具体涉及一种输入稀疏性自适应ADC电路及模块。本发明专利技术公开了一种输入稀疏性自适应ADC电路,包括:稀疏性检测电路部、稀疏性控制电路部、时序产生电路部、SAR‑ADC主电路部。本发明专利技术增加了对输入阵列的稀疏性检测,并能够检测出的阵列输入稀疏度,自适应地减少比较周期、缩短量化时间,从而实现在精度不变的情况下减小功耗浪费、提高量化效率。本发明专利技术解决了现有ADC处理阵列输入时存在冗余比较过程的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及模拟数字转换电路设计,更具体的,涉及:1、一种输入稀疏性自适应adc电路;2、一种输入稀疏性自适应adc模块。


技术介绍

1、模数转换器(analog to digital converter, adc)作为存内计算量化电路的核心模块,其功耗和面积影响着存算一体芯片的能效比和集成度。

2、adc和数模转换器(digital to analog converter,dac)在cim设计中分别占约15%的面积和约50%的能源消耗。因此cim仍然面临着一个重大挑战,因为adc会造成很大的功率和面积开销。若能研究出更低功耗的适用于存内计算的adc,将极大提升存算电路的整体性能。

3、现有adc处理阵列输入时,不论阵列输入稀疏度如何,都会进行相同数量的比较周期。然而专利技术人认为某些情况下,无需进行部分比较周期。因此,专利技术人设计了一种输入稀疏性自适应adc电路及模块,可以根据阵列输入的稀疏度,提前预判adc的输出,在精度不变的情况下,减少比较周期、缩短量化时间、减小功耗浪费。


技术实现思路

1、基于此,有必要针对现有adc处理阵列输入时存在冗余比较过程的问题,提供了一种输入稀疏性自适应adc电路及模块。

2、本专利技术采用以下技术方案实现:

3、第一方面,本专利技术提供了一种输入稀疏性自适应adc电路,包括:稀疏性检测电路部、稀疏性控制电路部、时序产生电路部、sar-adc主电路部。

4、稀疏性检测电路部用于依据使能信号saen、调控信号cap_rst、参考信号vref1~vref2对阵列输入in<0:63>进行稀疏性检测,生成控制信号outn1~outn2、控制信号outp1~outp2。

5、稀疏性控制电路部用于结合时序信号clk、复位信号rst对outn1~outn2进行处理,生成使能信号saen5、使能信号saenb5、复位信号rst5。

6、时序产生电路部用于结合rst5、rst、saen5对outp1~outp2进行处理,生成saen、信号序列db<1:2>、信号序列d<3:4>。

7、sar-adc主电路部用于结合阵列电压vcal、saen5、saenb5、outn1~outn2、outp1~outp2对db<1:2>、d<3:4>进行处理,生成adc输出out1~out2。

8、其中,若in<0:63>的稀疏性小于50%,outn1=1、outp1=0、outn2=1、outp2=0,sar-adc主电路部经过5个比较周期生成out1~out2;

9、若in<0:63>的稀疏性在50%-75%之间,outn1=0、outp1=1、outn2=1、outp2=0,sar-adc主电路部经过4个比较周期生成out1~out2;

10、若in<0:63>的稀疏性大于75%,outn1=0、outp1=1、outn2=0、outp2=1,sar-adc主电路部经过3个比较周期生成out1~out2。

11、该种输入稀疏性自适应adc电路的实现根据本公开的实施例的方法或过程。

12、第二方面,本专利技术公开了输入稀疏性自适应adc模块,采用了如第一方面公开的输入稀疏性自适应adc电路的布局。

13、该种基于输入稀疏性自适应adc电路构建的存算电路的实现根据本公开的实施例的方法或过程。

14、与现有技术相比,本专利技术具备如下有益效果:

15、本专利技术设计了一种输入稀疏性自适应adc,增加了对输入阵列的稀疏性检测,并能够检测出的阵列输入稀疏度,自适应地减少比较周期、缩短量化时间,从而实现在精度不变的情况下减小功耗浪费、提高量化效率。

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【技术保护点】

1.一种输入稀疏性自适应ADC电路,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的输入稀疏性自适应ADC电路,其特征在于,所述稀疏性检测电路部包括:电容阵列CIN0~CIN63、开关阵列S0~S63、2个比较器SA0,1~SA0,2;

3.根据权利要求2所述的输入稀疏性自适应ADC电路,其特征在于,SA0,1包括:12个PMOS管PM1~PM12、8个NMOS管NM1~NM8、1个传输门GM1、1个反相器INVM1;

4.根据权利要求2所述的输入稀疏性自适应ADC电路,其特征在于,SA0,2包括:12个PMOS管PN1~PN12、8个NMOS管NN1~NN8、1个传输门GN1、1个反相器INVN1;

5.根据权利要求1所述的输入稀疏性自适应ADC电路,其特征在于,所述稀疏性控制电路部包括:6个D触发器D0~D5、3个与门AND1~AND3;

6.根据权利要求1所述的输入稀疏性自适应ADC电路,其特征在于,所述时序产生电路部包括:5个D触发器D6~D10、2个或门OR1~OR2、1个与非门NAND1、1个反相器INV1;p>

7.根据权利要求1所述的输入稀疏性自适应ADC电路,其特征在于,所述SAR-ADC主电路部包括:1个比较器SA1、8个D触发器D11~D18、10个电容C11~C20、2个异或门XOR1~XOR2、1个与非门NAND0、1个反相器NAND0、7个或门OR11~OR17、2个或非门NOR11~NOR12、1个传输门G0;

8.根据权利要求7所述的输入稀疏性自适应ADC电路,其特征在于,C11~C20的电容比值为8:8:4:4:2:2:1:1:1:1。

9.根据权利要求7所述的输入稀疏性自适应ADC电路,其特征在于,SA1包括:12个PMOS管P1~P12、16个NNOS管N1~N16、1个传输门G1;

10.一种输入稀疏性自适应ADC模块,其特征在于,其采用如权利要求1-9中任一项所述的输入稀疏性自适应ADC电路的布局。

...

【技术特征摘要】

1.一种输入稀疏性自适应adc电路,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的输入稀疏性自适应adc电路,其特征在于,所述稀疏性检测电路部包括:电容阵列cin0~cin63、开关阵列s0~s63、2个比较器sa0,1~sa0,2;

3.根据权利要求2所述的输入稀疏性自适应adc电路,其特征在于,sa0,1包括:12个pmos管pm1~pm12、8个nmos管nm1~nm8、1个传输门gm1、1个反相器invm1;

4.根据权利要求2所述的输入稀疏性自适应adc电路,其特征在于,sa0,2包括:12个pmos管pn1~pn12、8个nmos管nn1~nn8、1个传输门gn1、1个反相器invn1;

5.根据权利要求1所述的输入稀疏性自适应adc电路,其特征在于,所述稀疏性控制电路部包括:6个d触发器d0~d5、3个与门and1~and3;

6.根据权利要求1所述的输入稀疏性自适应adc电路,其特征在于,所述时序产...

【专利技术属性】
技术研发人员:李鑫陈家琦王园阳潘震邢欣苗梦迪吕怡文周永亮戴成虎李志刚蔺智挺吴秀龙
申请(专利权)人:安徽大学
类型:发明
国别省市:

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