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【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及自动进样,尤其涉及一种限位结构及自动放样设备。
技术介绍
1、现有技术中epr的样品管通常比较长,在使用epr谱仪进行谐振测量分析时,需要通过自动进样设备将样品管放入进样孔,但自动进样过程中设备无法感知样品管是否与进样口的内壁产生接触,如果样品管的轴线与进样口的轴线偏差过大,样品管容易卡在进样口处甚至可能受力发生破裂;此外,现有技术中的进样孔与样品管的配合间隙较小,需要准确地将样品管对齐进样孔并放入其中,但现有技术中大多采用机械手直接夹持进样管并将其放置在进样孔内的方法,机械手无法准确判断样品管是否与进样孔产生接触,直接放置可能会导致样品管折断的风险;此外,在无人值守的进样系统中,也存在着相同的问题。
2、因此,亟需一种限位结构、自动进样设备以及自动进样方法,以解决样品管不容易放置在进样孔内以及自动进样不方便,无法快速且高效进样的问题。
技术实现思路
1、本专利技术的一个目的在于提供一种限位结构,以解决样品管不容易放置在进样孔内的问题。
2、为达此目的,本专利技术采用以下技术方案:
3、一种限位结构,设置于样品管的一端,夹持件能够夹持所述限位结构并将所述样品管置于放样孔内,其特征在于,包括:
4、主体部,同轴设置于所述样品管的外周,所述主体部包括依次连接的第一主体和第二主体,所述第一主体的直径大于所述第二主体的直径,所述第二主体的直径大于所述样品管的外径,在重力作用下,所述限位结构能够与所述样品管竖直向下落入所述放样孔内
5、作为优选,所述限位结构由刚性材料制成,且所述限位结构的外周涂有润滑涂料。
6、作为优选,所述第一主体远离所述第二主体一端与所述抵接斜面的距离大于所述限位台阶与所述放样孔顶端的距离。
7、作为优选,所述第一主体远离所述第二主体一端设置有悬挂部,所述抵接斜面抵接至所述放样孔的限位台阶时,所述悬挂部能够抵接至所述放样孔顶端的外周。
8、作为优选,所述第二主体远离所述第一主体的一端设置有导向斜面。
9、本专利技术的另一个目的在于提供一种自动进样设备,以解决自动进样不方便以及进样效率低的问题。
10、为达此目的,本专利技术采用以下技术方案:
11、一种自动进样设备,其特征在于,包括存放机构、谐振仪、夹持件以及所述限位结构;所述存放机构用于存放设所述样品管,所述样品管上设置有所述限位结构,所述谐振仪设置有所述放样孔,所述夹持件能够夹持所述限位结构,并将所述样品管放置于所述放样孔内。
12、作为优选,所述自动进样设备还包括滑动组件,所述滑动组件包括输出方向分别为第一方向、第二方向以及第三方向的第一直线滑轨、第二直线滑轨以及第三直线滑轨,所述夹持件设置于所述第一直线滑轨底端,且能够沿所述第一方向滑动,所述第一直线滑轨设置于所述第二直线滑轨的一端,所述第二直线滑轨滑动连接于所述第三直线滑轨,所述第二直线滑轨能够带动所述夹持件沿所述第二方向滑动,所述第二直线滑轨能够沿所述第三方向滑动;所述第一方向为竖直方向,所述第一方向、所述第二方向以及所述第三方向两两垂直。
13、作为优选,所述放样孔处设置有第一检测件,所述第一检测件用于检测所述放样孔内是否放置有所述样品管。
14、作为优选,所述放样孔处设置有第二检测件,所述夹持件上设置有定位部,所述定位部底端设置有对齐位点,所述对齐位点与所述第二检测件正对时,所述样品管正对所述放样孔,以使所述夹持件松开所述样品管后,所述样品管落入所述放样孔内。
15、作为优选,所述第二检测件为测距器件,所述对齐位点与所述第二检测件之间具有第一特征距离。
16、作为优选,所述夹持件上设置有指示位点,所述指示位点用于指示所述第二检测件正对的位置与所述对齐位点之间的方位关系,所述指示位点与所述第二检测件之间具有第二特征距离。
17、作为优选,所述指示位点为多个,多个所述指示位点围绕所述对齐位点分布设置,且多个所述指示位点能够分别与所述第二检测件之间能够形成不相同的所述第二特征距离。
18、作为优选,所述指示位点为四个,且四个所述指示位点沿所述第二方向和所述第三方向两两排布。
19、作为优选,所述夹持件上设置有距离标识,所述距离标识为矩形且能够与所述第二检测件之间具有第三特征距离,所述距离标识的边平行于所述第二方向或者所述第三方向;
20、所述对齐位点位于所述距离标识的中心处,过所述对齐位点且平行于所述第二方向或者所述第三方向的线将所述距离标识内部的位置分割为四个部分,所述四个部分分别对应四个所述指示位点。
21、本专利技术的另一个目的在于提供一种自动进样方法,以解决自动进样速度慢,进样精度低的问题。
22、为达此目的,本专利技术采用以下技术方案:
23、一种自动进样方法,其特征在于,基于如权利要求9所述的自动进样设备,所述自动进样方法包括如下步骤:
24、s100、所述夹持件夹持所述限位结构,从所述存放机构内取出所述样品管;
25、s200、所述夹持件带动所述样品管移动至所述放样孔上方;
26、s300、沿所述第二方向、所述第三方向驱动所述夹持件,以使所述对齐位点与所述第二检测件正对;
27、s400、所述对齐位点与所述第二检测件正对后,所述夹持件松开所述限位结构,以使所述样品管落入所述放样孔内。
28、作为优选,所述自动进样方法还包括如下步骤:
29、s500、检测所述样品管处于为第一状态或第二状态:
30、s502、所述样品管处于所述第一状态时开始测样;
31、s503、所述样品管处于所述第二状态时所述夹持件从所述放样孔内取出所述样品管,并将所述样品管放回所述存放机构,并重复上述步骤s100至s400,重新装载另一个所述样品管。
32、作为优选,所述步骤s500还包括如下步骤:
33、s501、所述谐振仪对所述样品管进行调谐,所述样品管能够完成调谐时,所述样品管处于所述第一状态,所述样品管未完成调谐时,所述样品管处于所述第二状态。
34、作为优选,所述步骤s501包括:
35、s5011、所述谐振仪的调谐电机能够带动调谐杆走完预设行程,并达到临界耦合状态,所述样品管能够完成调谐;
36、s5011、所述谐振仪的调谐电机不能够带动所述调谐杆走完预设行程,且未达到所述临界耦合状态,所述样品管则未完成调谐。
37、作为优选,调谐过程中产生的数值能够形成调谐曲线,所述调谐曲线的全部数值均小于设定阈值时,所述样品管达到所述临界耦合状态。
38、本专利技术的有益效果:
39、本专利技术属于自动进样
,公开了一种限位结构。该结构包括本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种限位结构,设置于样品管(100)的一端,夹持件能够夹持所述限位结构并将所述样品管(100)置于放样孔(54)内,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的限位结构,其特征在于,所述限位结构由刚性材料制成,且所述限位结构的外周涂有润滑涂料。
3.根据权利要求1所述的限位结构,其特征在于,所述第一主体(11)远离所述第二主体(12)一端与所述抵接斜面(13)的距离大于所述限位台阶与所述放样孔(54)顶端的距离。
4.根据权利要求3所述的限位结构,其特征在于,所述第一主体(11)远离所述第二主体(12)一端设置有悬挂部(20),所述抵接斜面(13)抵接至所述放样孔(54)的限位台阶时,所述悬挂部(20)能够抵接至所述放样孔(54)顶端的外周。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的限位结构,其特征在于,所述第二主体(12)远离所述第一主体(11)的一端设置有导向斜面(14)。
6.一种自动进样设备,其特征在于,包括存放机构(30)、谐振仪(50)、夹持件以及如权利要求1-5中任一项所述的限位结构;所述存放机构(30)用
7.根据权利要求6所述的自动进样设备,其特征在于,所述自动进样设备还包括滑动组件(40),所述滑动组件(40)包括输出方向分别为第一方向、第二方向以及第三方向的第一直线滑轨(41)、第二直线滑轨(42)以及第三直线滑轨(43),所述夹持件设置于所述第一直线滑轨(41)底端,且能够沿所述第一方向滑动,所述第一直线滑轨(41)设置于所述第二直线滑轨(42)的一端,所述第二直线滑轨(42)滑动连接于所述第三直线滑轨(43),所述第二直线滑轨(42)能够带动所述夹持件沿所述第二方向滑动,所述第二直线滑轨(42)能够沿所述第三方向滑动;所述第一方向为竖直方向,所述第一方向、所述第二方向以及所述第三方向两两垂直。
8.根据权利要求6所述的自动进样设备,其特征在于,所述放样孔(54)处设置有第一检测件(70),所述第一检测件(70)用于检测所述放样孔(54)内是否放置有所述样品管(100)。
9.根据权利要求7所述的自动进样设备,其特征在于,所述放样孔(54)处设置有第二检测件(80),所述夹持件上设置有定位部(60),所述定位部(60)底端设置有对齐位点(61),所述对齐位点(61)与所述第二检测件(80)正对时,所述样品管(100)正对所述放样孔(54),以使所述夹持件松开所述样品管(100)后,所述样品管(100)落入所述放样孔(54)内。
10.根据权利要求9所述的自动进样设备,其特征在于,所述第二检测件(80)为测距器件,所述对齐位点(61)与所述第二检测件(80)之间能够形成第一特征距离。
11.根据权利要求10所述的自动进样设备,其特征在于,所述定位部(60)上设置有指示位点,所述指示位点用于指示所述第二检测件(80)正对的位置与所述对齐位点(61)之间的方位关系,所述指示位点与所述第二检测件(80)之间能够形成第二特征距离。
12.根据权利要求11所述的自动进样设备,其特征在于,所述指示位点为多个,多个所述指示位点围绕所述对齐位点(61)分布设置,且多个所述指示位点能够分别与所述第二检测件(80)之间能够形成不相同的所述第二特征距离。
13.根据权利要求12所述的自动进样设备,其特征在于,所述指示位点设置有四个,四个所述指示位点沿所述第二方向和所述第三方向两两排布。
14.根据权利要求13所述的自动进样设备,其特征在于,所述夹持件上设置有距离标识(66),所述距离标识(66)为矩形且能够与所述第二检测件(80)之间具有第三特征距离,所述距离标识(66)的边平行于所述第二方向或者所述第三方向;
15.一种自动进样方法,其特征在于,基于如权利要求9-14任一所述的自动进样设备,所述自动进样方法包括如下步骤:
16.根据权利要求15所述的自动进样方法,其特征在于,所述自动进样方法还包括如下步骤:
17.根据权利要求16所述的自动进样方法,其特征在于,所述步骤S500还包括如下步骤:
18.根据权利要求17所述的自动进样方法,其特征在于,所述步骤S501包括:
19.根据权利要求18所述的自动进样方法,其特征在于,调谐过程中产生的数值能够形成调谐曲线,所述调谐曲线的全部数值均小于设定阈值时,所述样品管...
【技术特征摘要】
1.一种限位结构,设置于样品管(100)的一端,夹持件能够夹持所述限位结构并将所述样品管(100)置于放样孔(54)内,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的限位结构,其特征在于,所述限位结构由刚性材料制成,且所述限位结构的外周涂有润滑涂料。
3.根据权利要求1所述的限位结构,其特征在于,所述第一主体(11)远离所述第二主体(12)一端与所述抵接斜面(13)的距离大于所述限位台阶与所述放样孔(54)顶端的距离。
4.根据权利要求3所述的限位结构,其特征在于,所述第一主体(11)远离所述第二主体(12)一端设置有悬挂部(20),所述抵接斜面(13)抵接至所述放样孔(54)的限位台阶时,所述悬挂部(20)能够抵接至所述放样孔(54)顶端的外周。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的限位结构,其特征在于,所述第二主体(12)远离所述第一主体(11)的一端设置有导向斜面(14)。
6.一种自动进样设备,其特征在于,包括存放机构(30)、谐振仪(50)、夹持件以及如权利要求1-5中任一项所述的限位结构;所述存放机构(30)用于存放设所述样品管(100),所述样品管(100)上设置有所述限位结构,所述谐振仪(50)设置有所述放样孔(54),所述夹持件能够夹持所述限位结构,并将所述样品管(100)放置于所述放样孔(54)内。
7.根据权利要求6所述的自动进样设备,其特征在于,所述自动进样设备还包括滑动组件(40),所述滑动组件(40)包括输出方向分别为第一方向、第二方向以及第三方向的第一直线滑轨(41)、第二直线滑轨(42)以及第三直线滑轨(43),所述夹持件设置于所述第一直线滑轨(41)底端,且能够沿所述第一方向滑动,所述第一直线滑轨(41)设置于所述第二直线滑轨(42)的一端,所述第二直线滑轨(42)滑动连接于所述第三直线滑轨(43),所述第二直线滑轨(42)能够带动所述夹持件沿所述第二方向滑动,所述第二直线滑轨(42)能够沿所述第三方向滑动;所述第一方向为竖直方向,所述第一方向、所述第二方向以及所述第三方向两两垂直。
8.根据权利要求6所述的自动进样设备,其特征在于,所述放样孔(54)处设置有第一检测件(70),所述第一检测件(70)用于检测所述放样孔(54)内是否放置有所述样品管(100)。
【专利技术属性】
技术研发人员:秦卓杨,李坤,石致富,贺羽,
申请(专利权)人:国仪量子技术合肥股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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