【技术实现步骤摘要】
本技术涉及光纤熔点检测领域，具体涉及一种无源光纤熔接质量的测量装置与方法。
技术介绍
1、光在光纤中传输时会产生损耗，这种损耗主要是由光纤自身的传输损耗和光纤熔点处的熔接损耗组成，现有的光纤熔接技术主要是用熔纤机将光纤和光纤熔合在一起变成一个整体。熔点损耗和熔接工艺过程息息相关。由于光纤接续质量影响光纤线路传输损耗，因此要尽可能降低降低光纤熔接损耗，以确保光纤传输质量和稳定性。
2、目前常用的判断光纤熔接质量的设备是光时域反射仪和光频域反射仪，它根据光的后向散射与菲涅耳反向原理制作，利用光在光纤中传播时产生的后向散射光来获取衰减的信息，可用于测量光纤衰减、接头损耗、光纤故障点定位以及了解光纤沿长度的损耗分布情况等。但该设备较为复杂，昂贵，性价比低。
技术实现思路
1、本技术的目的在于针对现有检测光纤熔接质量的设备结构复杂、造价昂贵，性价比低，不适用于中小型企业，针对此不足，提出了一种无源光纤熔接质量的测量装置与方法。
2、为了实现上述目标，本技术采用如下的技术方案：
3、一种无源光纤熔接质量的测量装置，包括待测光纤，所述待测光纤由两根无源光纤熔接制成，且熔接处形成熔点，还包括光源发生器、分束器、环形器、第一光电探测器、第二光电探测器和第三光电探测器；所述第一光电探测器与分束器连接，所述第二光电探测器与环形器连接；所述待测光纤一端与环形器的输出端连接，另一端与第三光电探测器连接；
4、其中，光源发生器发射出光信号，光信号进入分束器，通过
5、作为本技术的进一步优选，所述第三光电探测器和环形器的输出端均设置有光纤法兰盘接口。
6、作为本技术的进一步优选，所述待测光纤的两端安装有光纤接头，用于与光纤法兰盘接口连接。
7、一种无源光纤熔接质量的测量方法，包括以下步骤：
8、s1、校准并将测量装置校零；
9、s2、基于待测光纤的工作波段，选择光源发生器的输出波段；
10、s3、光源发生器发射恒定强度的光信号，并发射至分束器内；
11、s4、分束器将光信号按固定比例分为两部分，一部分传输至第一光电探测器，通过第一光电探测器监测分束器分束出的光强p0；
12、s5、另一部分传输至环形器，通过环形器进入待测光纤，并将待测光纤的背向散射光传输至第二光电探测器，通过第二光电探测器监测待测光纤的背向散射光强p2；
13、s6、基于分束器的分束比例、分束器的插损、环形器的插损，计算得到环形器的出光功率p1；
14、s7、通过，熔点的回损=p1-p2，
15、计算得到熔点的回损参数，并记录参数
16、s8、光信号通过待测光纤传输至第三光电探测器，通过第三光电探测器监测待测光纤的透光光强p3；
17、s9、基于待测光纤的透光光强p3，
18、通过，熔点的插损=p1-p3，
19、计算得到熔点的插损参数，并记录参数；
20、s10、将待测光纤的两根无源光纤断开，重新熔接，重复s3-s8，监测记录熔点的插损参数和回损参数；
21、s11、若干次后，计算熔点的插损波动和回损波动；
22、s12、根据熔点的插损波动和回损波动判断测量装置的稳定性。
23、作为本技术的进一步优选，所述校准并将测量装置校零，包括：
24、选择标准光纤接入测量装置；
25、打开光源发生器，将第一光电探测器、第二光电探测器和第三光电探测器校零。
26、作为本技术的进一步优选，所述根据熔点的插损波动和回损波动判断测量装置的稳定性，包括：
27、s121、通过多次熔接、测量、掐断熔点，再次熔接、测量的实验，得到多次熔点的插损和回损；
28、s122、通过
29、插损波动=最大插损-最小插损；
30、回损波动=最大回损-最小回损；
31、计算得到插损波动和回损波动；
32、s123、判断插损波动和回损波动是否在预设范围内；
33、s124、若在插损波动和回损波动均在预设范围内，则测量装置稳定；
34、s125、若在插损波动和回损波动不在预设范围内 ，则更换光源发生器和光电探测器。
35、本技术提出的一种无源光纤熔接质量的测量装置与方法，与现有技术相比，具有如下有益效果：
36、1、本技术结构简单，易得，成本低，适用范围广；
37、2、本技术通过检测熔点的插损波动和回损波动能够为熔接机提供熔接参数，提高光纤熔接质量；
38、3、本技术不仅适用于优化已知型号光纤的熔接参数，也适用于未知型号光纤的熔接参数优化。
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1.一种无源光纤熔接质量的测量装置，包括待测光纤，所述待测光纤由两根无源光纤熔接制成，且熔接处形成熔点，其特征在于，还包括光源发生器、分束器、环形器、第一光电探测器、第二光电探测器和第三光电探测器；所述第一光电探测器与分束器连接，所述第二光电探测器与环形器连接；所述待测光纤一端与环形器的输出端连接，另一端与第三光电探测器连接；
2.根据权利要求1所述的一种无源光纤熔接质量的测量装置，其特征在于，所述第三光电探测器和环形器的输出端均设置有光纤法兰盘接口。
3.根据权利要求2所述的一种无源光纤熔接质量的测量装置，其特征在于，所述待测光纤的两端安装有光纤接头，用于与光纤法兰盘接口连接。
【技术特征摘要】
1.一种无源光纤熔接质量的测量装置，包括待测光纤，所述待测光纤由两根无源光纤熔接制成，且熔接处形成熔点，其特征在于，还包括光源发生器、分束器、环形器、第一光电探测器、第二光电探测器和第三光电探测器；所述第一光电探测器与分束器连接，所述第二光电探测器与环形器连接；所述待测光纤一端与环形器的输出端连接，另一端...
【专利技术属性】
技术研发人员：张豪，干耀贤，
申请(专利权)人：南京牧镭激光科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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