【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体芯片，尤其涉及一种芯片测试方法、系统、设备及存储介质。
技术介绍
1、随着系统级(system on chip，soc)芯片复杂度的提高，soc芯片的一项功能测试往往需要不同类型的通道输入信号相互配合，再对不同类型的输出信号进行捕获和分析。因而，与数字测试机可以通过单一的数字测试板完成芯片测试不同，soc芯片测试不仅需要数字测试板，还需要其他类型的板卡配合满足soc芯片不同的测试需求，如提供高压信号的高压板卡、提供各类模拟信号的混合信号板卡。
2、由于芯片测试过程中不同测试板卡的信号相互关联，在芯片测试时需要各测试保持同步，否则会影响芯片测试的时序，而由于自身设计和信号传输距离等原因，测试过程中不同类型测试板卡的信号输出存在偏差，导致不同类型板卡的同步精度低。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种芯片测试方法、系统、设备及存储介质，以解决现有测试过程中不同类型的板卡的信号输出存在偏差，导致不同类型板卡的同步精度低的问题。
2、第一方面，本申请实施例提供了一种芯片测试方法，应用于芯片测试设备中，芯片测试设备包括通过背板相互连接主控板、数字测试板和配合测试板，数字测试板和配合测试板为类型不同的测试板卡；数字测试板上存储有预先生成的测试向量，配合测试板存储有预先生成的测试操作数据，测试操作数据与测试向量的时序同步；该方法包括：
3、主控板通过测试指令同步触发数字测试板和配合测试板，以使配合测试板根据测试操作数据执行测试操作，并使数字
4、可选地，主控板通过测试指令同步触发数字测试板和配合测试板，以使配合测试板根据测试操作数据执行测试操作，并使数字测试板同步根据测试向量执行测试操作，以对待测芯片进行同步测试，包括：
5、主控板发送测试指令，以使数字测试板和配合测试板响应测试指令以等待触发脉冲信号，触发脉冲信号用于同步触发数字测试板和配合测试板执行测试操作；
6、主控板同步发送触发脉冲信号，以使配合测试板在接到触发脉冲信号后根据测试操作数据执行测试操作，并使数字测试板在同步接到触发脉冲信号后根据测试向量执行测试操作，以对待测芯片进行同步测试。
7、可选地，配合测试板在接到触发脉冲信号后根据测试操作数据执行测试操作，并使数字测试板在同步接到触发脉冲信号后根据测试向量执行测试操作，以对待测芯片进行同步测试，包括：
8、配合测试板在接到触发脉冲信号后，按照第一延时时间进行延时调整，并在延时调整后根据测试操作数据执行测试操作，以触发并输出模拟信号至待测芯片,和/或触发对待测芯片的输出信号的采样操作；
9、数字测试板在接到触发脉冲信号后，按照根据第二延时时间进行延时调整，并在延时调整后根据测试向量执行测试操作，以生成并同步输出测试信号至待测芯片，和/或触发对待测芯片的输出信号的采样操作,实现对待测芯片进行同步测试；
10、其中，第一延时时间和第二延时时间，分别用于对配合测试板、数字测试板输出的信号进行延时校准，确保配合测试板和数字测试板能够同步输出信号。
11、可选地，测试操作数据包括模拟信号数据和信号触发数据，信号触发数据与测试向量的时序同步，按照第一延时时间进行延时调整，并根据测试操作数据执行测试操作，以触发并输出模拟信号至待测芯片，包括：
12、配合测试板在延时第一延时时间后，根据信号触发数据确定模拟信号数据中各模拟信号的触发时间；
13、配合测试板在各模拟信号的触发时间，触发并输出对应模拟信号至待测芯片。
14、可选地，芯片测试设备还包括校准板，数字测试板和配合测试板分别与校准板连接，第一延时时间和第二延时时间通过如下方式校准得到：
15、主控板同步触发数字测试板和配合测试板，以使数字测试板和配合测试板分别向校准板输出信号，并控制校准板接收信号并记录接收时间；
16、主控板接收校准板反馈的第一接收时间和第二接收时间，并根据第一接收时间和第二接收时间，校准得到第一延时时间和第二延时时间；
17、其中，第一接收时间为校准板接收到配合测试板输出信号的时间，第二接收时间为校准板接收到数字测试板输出信号的时间。
18、可选地，芯片测试设备包括数据生成装置，测试操作数据包括对待测芯片的模拟信号数据和触发模拟信号输出的信号触发数据，配合测试板的测试操作数据通过如下方式获取：
19、数据生成装置根据测试任务，确定配合测试板对待测芯片输出的模拟信号数据，并确定数字测试板与配合测试板的信号触发时间的对应关系，得到触发时间对应关系；
20、数据生成装置根据测试向量和触发时间对应关系，生成与测试向量时序同步的配合测试板的信号触发数据。
21、可选地，根据测试向量和触发时间对应关系，生成与测试向量时序同步的配合测试板的信号触发数据，包括：
22、数据生成装置读取数字测试板的测试向量，得到测试向量中按时序排列的多个测试向量行，测试向量行用于指示当前时间点数字测试板对待测芯片的测试操作；
23、数据生成装置根据各测试向量行，对应生成触发配合测试板输出模拟信号的触发信息，得到按照时序排列的多个触发信息，并输出得到信号触发数据。
24、可选地，触发信息通过触发标志位表示，根据各测试向量行，对应生成触发配合测试板输出模拟信号的触发信息，得到按照时序排列的多个触发信息，并输出得到信号触发数据，包括：
25、当确定配合测试板在测试向量行的时间点需要输出模拟信号时，在测试向量行的对应位置生成模拟信号的触发标志位，得到多个触发信息；
26、当确定配合测试板在测试向量行的时间点不需要输出模拟信号时，在测试向量行的对应位置生成预设值，得到多个预设值，预设值与触发标志位不同；
27、按照测试向量的时序信息，输出多个触发信息和预设值得到信号触发数据。
28、第二方面，本申请实施例提供了一种芯片测试设备，包括通过背板相互连接的主控板、数字测试板和配合测试板，数字测试板和配合测试板为类型不同的测试板卡；
29、数字测试板上存储有预先生成的测试向量，配合测试板存储有预先生成的测试操作数据，测试操作数据与测试向量的时序同步；
30、主控板通过测试指令同步触发数字测试板和配合测试板，以使配合测试板根据测试操作数据执行测试操作，并使数字测试板同步根据测试向量执行测试操作，以对待测芯片进行同步测试。
31、第三方面，本申请实施例提供了一种芯片测试系统，包括待测芯片和芯片测试设备，芯片测试设备包括通过背板相互连接的主控板、数字测试板和配合测试板，数字测试板和配合测试板为类型不同的测试板卡；数字测试板上存储有预先生成的测试向量，配合测试板存储有预先生成的测试操作数据，测试操作数据与测试向量的时序同步；
32、主控板通过测试指令同步触发数字测本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，应用于芯片测试设备中，所述芯片测试设备包括通过背板相互连接的主控板、数字测试板和配合测试板，所述数字测试板和所述配合测试板为类型不同的测试板卡；所述数字测试板上存储有预先生成的测试向量，所述配合测试板存储有预先生成的测试操作数据，所述测试操作数据与所述测试向量的时序同步；
2.如权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述主控板通过测试指令同步触发所述数字测试板和所述配合测试板，以使所述配合测试板根据所述测试操作数据执行测试操作，并使所述数字测试板同步根据所述测试向量执行测试操作，以对待测芯片进行同步测试，包括：
3.如权利要求2所述的芯片测试方法，其特征在于，所述配合测试板在接到所述触发脉冲信号后根据所述测试操作数据执行测试操作，并使所述数字测试板在同步接到所述触发脉冲信号后根据所述测试向量执行测试操作，以对所述待测芯片进行同步测试，包括：
4.如权利要求3所述的芯片测试方法，其特征在于，所述测试操作数据包括模拟信号数据和信号触发数据，所述信号触发数据与所述测试向量的时序同步，所述按照第一延时时间进行延时调
5.如权利要求3所述的芯片测试方法，其特征在于，所述芯片测试设备还包括校准板，所述数字测试板和所述配合测试板分别与所述校准板连接，所述第一延时时间和所述第二延时时间通过如下方式校准得到：
6.如权利要求1-5任一项所述的芯片测试方法，其特征在于，所述芯片测试设备包括数据生成装置，所述测试操作数据包括模拟信号数据和触发模拟信号输出的信号触发数据，所述配合测试板的测试操作数据通过如下方式获取：
7.一种芯片测试设备，其特征在于，包括通过背板相互连接的主控板、数字测试板和配合测试板，所述数字测试板和所述配合测试板为类型不同的测试板卡；所述数字测试板上存储有预先生成的测试向量，所述配合测试板存储有预先生成的测试操作数据，所述测试操作数据与所述测试向量的时序同步；
8.一种芯片测试系统，其特征在于，包括待测芯片和芯片测试设备，所述芯片测试设备包括通过背板相互连接的主控板、数字测试板和配合测试板，所述数字测试板和所述配合测试板为类型不同的测试板卡；所述数字测试板上存储有预先生成的测试向量，所述配合测试板存储有预先生成的测试操作数据，所述测试操作数据与所述测试向量的时序同步；
9.一种电子设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至6任一项所述芯片测试方法的步骤。
10.一种可读存储介质，所述可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述芯片测试方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，应用于芯片测试设备中，所述芯片测试设备包括通过背板相互连接的主控板、数字测试板和配合测试板，所述数字测试板和所述配合测试板为类型不同的测试板卡；所述数字测试板上存储有预先生成的测试向量，所述配合测试板存储有预先生成的测试操作数据，所述测试操作数据与所述测试向量的时序同步；
2.如权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述主控板通过测试指令同步触发所述数字测试板和所述配合测试板，以使所述配合测试板根据所述测试操作数据执行测试操作，并使所述数字测试板同步根据所述测试向量执行测试操作，以对待测芯片进行同步测试，包括：
3.如权利要求2所述的芯片测试方法，其特征在于，所述配合测试板在接到所述触发脉冲信号后根据所述测试操作数据执行测试操作，并使所述数字测试板在同步接到所述触发脉冲信号后根据所述测试向量执行测试操作，以对所述待测芯片进行同步测试，包括：
4.如权利要求3所述的芯片测试方法，其特征在于，所述测试操作数据包括模拟信号数据和信号触发数据，所述信号触发数据与所述测试向量的时序同步，所述按照第一延时时间进行延时调整，并在延时调整后根据所述测试操作数据执行测试操作，以触发并输出模拟信号至所述待测芯片，包括：
5.如权利要求3所述的芯片测试方法，其特征在于，所述芯片测试设备还包括校准板，所述数字测试板和所述配合测试板分别与所述校准板连接，所述第...
【专利技术属性】
技术研发人员：许应，刘恒甫，马雪振，成源涛，
申请(专利权)人：深圳市辰卓科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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