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【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及晶圆生产设备,尤其涉及一种晶圆衬底定位装置。
技术介绍
1、在半导体制造行业中,晶圆衬底作为制造芯片的基础材料,其加工精度和质量控制至关重要。在晶圆衬底进行倒角加工之前,精确确定晶圆衬底的中心位置以及晶圆衬底上的加工凹槽(v型槽或者平槽)位置是确保后续加工步骤顺利进行和产品质量的关键环节。
2、目前,市场上存在多种用于确定晶圆衬底中心和加工凹槽位置的技术方案。其中,一种常见的方法是利用三个相机对晶圆衬底进行多次图像采样。该方法的基本流程如下:首先,通过三个相机从不同角度或位置对晶圆衬底进行拍摄,获取晶圆衬底的图像;然后,将这些图像转换为灰度图像,以简化后续处理;接着,对灰度图像进行边缘检测,提取出晶圆衬底的边缘轮廓,得到一系列边缘像素点;最后,对这些边缘像素点进行进一步的处理和分析,以确定晶圆衬底的中心和加工凹槽的准确位置。
3、然而,这种基于多个相机图像采样的方法在实际应用中存在一些明显的问题和局限性。首先,由于该方法依赖于图像处理和边缘检测算法,因此容易受到环境因素的影响,如光线变化、相机镜头污染或晶圆表面缺陷等,这些因素都可能导致图像质量下降,从而影响边缘检测的准确性和稳定性。
技术实现思路
1、本申请旨在至少解决相关技术中存在的技术问题之一。为此,本申请提出一种晶圆衬底定位装置,用以解决现有晶圆衬底加工对于晶圆衬底的中心位置以及晶圆衬底上的加工凹槽位置准确性低的缺陷。
2、根据本申请实施例提出的一种晶圆衬底定位装置,包括:<
...【技术保护点】
1.一种晶圆衬底定位装置,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的晶圆衬底定位装置,其特征在于,所述调整机构(1)包括:高度移动组件(11)、水平移动组件(12)、安装台(13)、驱动部件(14)、吸盘安装板(15)、吸附部件(16)和旋转部件(17),所述高度移动组件(11)竖直安装于所述装置主体(5),可沿所述装置主体(5)的Z向移动;所述安装台(13)固定安装在所述高度移动组件(11)的第一法兰(111)上,所述驱动部件(14)固定安装于所述安装座(13)上,所述旋转部件(17)安装于所述驱动部件(14)的第二法兰(141)上;所述水平移动组件(12)水平固定安装于所述旋转部件(17)上,所述水平移动组件(12)可沿所述驱动部件(14)回转中心的径向移动;所述吸盘安装板(15)固定安装于所述水平移动组件(12)的第三法兰(121)上,所述吸附部件(16)安装于所述吸盘安装板(15)上,用于吸附晶圆衬底(8)。
3.根据权利要求2所述的晶圆衬底定位装置,其特征在于,所述预设位置设于所述旋转部件(17)的转轴和所述旋转盘(3)的转轴之间的连线上。
...【技术特征摘要】
1.一种晶圆衬底定位装置,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的晶圆衬底定位装置,其特征在于,所述调整机构(1)包括:高度移动组件(11)、水平移动组件(12)、安装台(13)、驱动部件(14)、吸盘安装板(15)、吸附部件(16)和旋转部件(17),所述高度移动组件(11)竖直安装于所述装置主体(5),可沿所述装置主体(5)的z向移动;所述安装台(13)固定安装在所述高度移动组件(11)的第一法兰(111)上,所述驱动部件(14)固定安装于所述安装座(13)上,所述旋转部件(17)安装于所述驱动部件(14)的第二法兰(141)上;所述水平移动组件(12)水平固定安装于所述旋转部件(17)上,所述水平移动组件(12)可沿所述驱动部件(14)回转中心的径向移动;所述吸盘安装板(15)固定安装于所述水平移动组件(12)的第三法兰(121)上,所述吸附部件(16)安装于所述吸盘安装板(15)上,用于吸附晶圆衬底(8)。
3.根据权利要求2所述的晶圆衬底定位装置,其特征在于,所述预设位置设于所述旋转部件(17)的转轴和所述旋转盘(3)的转轴之间的连线上。
4.根据权利要求2所述的晶圆衬底定位装置,其特征在于,所述吸附部件(16)包括:
5.根据权利要求4所述的晶圆衬底定位装置,其特征在于,所述下牙叉吸盘(163)与所述中牙叉吸盘(162)之间设有第...
【专利技术属性】
技术研发人员:王凯,韩银平,王尧,王立鹏,
申请(专利权)人:北京精雕科技集团有限公司,
类型:发明
国别省市:
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