【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光电元器件测试，特别涉及一种检测探测器异常像素的方法。
技术介绍
1、异常像素是指在ccd、emccd以及cmos等探测器图像中，出现的与周围正常像素数值明显不同的像素点。这种现象可能由探测器中的暗电流、感光元件损坏或其他因素引起。目前，针对探测器异常像素的检测技术主要包括动态雷射扫描分析（dals）、电光探测/电光频率成像等方法。这些方法利用电光效应（eo）原理，通过激光束与芯片表面或内部结构的相互作用，实现对芯片异常像素检测失效机理的分析和评估。然而，这些技术通常需要专业设备，周期较长且成本高昂，同时无法模拟所有实际使用场景下复杂条件，如不同光照环境和温度变化。此外，长时间或频繁进行辐照实验可能会对探测器焦面造成损伤，从而降低效率。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种检测探测器异常像素的方法，该方法的检验精度高，能够对ccd、emccd以及cmos等探测器的异常像素开展有效检测。
2、本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：
3、一种检测探测器异常像素的方法，包括以下步骤：
4、步骤1：在完全遮光的环境下将探测器启动待机，使探测器工作状态稳定；
5、步骤2：获取探测器在最小曝光时间、中等曝光时间、最大曝光时间下的暗场图像；
6、步骤3：检测暗场图像中像素的dn值大小按照最小曝光时间、中等曝光时间、最大曝光时间的顺序的变化情况，并据此计算确定当前被测像素是否为异常像素。
7、进一
8、进一步的，所述步骤1包括，将待测探测器放置于暗室环境中，遮盖探测器的镜头防止杂散光的干扰，给探测器上电，并将探测器制冷至工作温度，使探测器达到稳定工作状态；暗室环境以及稳定工作状态是指探测器受测环境无杂散光的干扰、环境温度保持稳定，探测器处于预设制冷温度状态。
9、进一步的，所述步骤2包括，确定待测探测器处于线性响应区间的最大曝光时间exptmax、中等曝光时间exptmid以及最小曝光时间exptmin，exptmid的大小采用0.5*（exptmin+exptmax），按照exptmin、exptmid、exptmax的顺序依次采集暗场图像，每个曝光时间下采集不少于n幅暗场图像。
10、进一步的，所述步骤2中的暗场图像数满足n≥20。
11、进一步的，所述步骤3包括如下步骤：
12、步骤3-1：将各个曝光时间下的暗场图像求均值得到不同曝光时间下的暗场均值图像dark_masterexpt（i，j），并按照exptmin、exptmid、exptmax的顺序将各dark_masterexpt（i，j）制作成一个cube文件，其中的（i，j）代表图像中第i行、第j列的像素；
13、步骤3-2：检测cube文件中（i，j）位置像素的dn值大小按照exptmin、exptmid、exptmax的顺序的变化情况，判断当前像素是否为异常像素；
14、步骤3-3：按照步骤3-2中的方法遍历cube文件中的所有像素点，并获取异常像素点的图中位置以及总数量。
15、进一步的，所述步骤3-1中的cube文件是将dark_masterexpt（i，j）按照exptmin、exptmid、exptmax的顺序堆叠成一个三维数组。
16、进一步的，所述步骤3-2中的判断方法包括：
17、步骤3-2-1：判断cube同一位置上的3个像素的dn值是否为单调递增；
18、步骤3-2-2：若不为单调递增，则被判断为异常像素，并标记该点的位置；
19、步骤3-2-3：若为单调递增，将同一位置上的3个像素点按照y=ax+b的关系求解斜率，并将所有n个单调递增点的斜率求均值，然后计算均方根误差σ，若某个位置上像素点的斜率与斜率均值的差值大于3σ，则被定义为异常像素点；其中计算均方根误差σ的方法参照如下公式：
20、。
21、本专利技术的有益效果是：
22、本专利技术的方法可以有效地检测和识别探测器中的异常像素，有助于定期监测探测器异常像素数量变化，保障图像质量和可靠性，通过定期检测探测器异常像素，可以合理安排探测器使用场景，延长探测器的使用寿命，同时能够提高图像质量，保证图像的可靠性和准确性，本专利技术的方法适用于ccd、emccd以及cmos探测器，适用范围广泛。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种检测探测器异常像素的方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种检测探测器异常像素的方法，其特征在于，还包括步骤4，即对于检测到的异常像素进行标记，以便后续的图像处理或分析。
3.根据权利要求1所述的一种检测探测器异常像素的方法，其特征在于，所述步骤1包括，将待测探测器放置于暗室环境中，遮盖探测器的镜头防止杂散光的干扰，给探测器上电，并将探测器制冷至工作温度，使探测器达到稳定工作状态；暗室环境以及稳定工作状态是指探测器受测环境无杂散光的干扰、环境温度保持稳定，探测器处于预设制冷温度状态。
4.根据权利要求1所述的一种检测探测器异常像素的方法，其特征在于，所述步骤2包括，确定待测探测器处于线性响应区间的最大曝光时间exptmax、中等曝光时间exptmid以及最小曝光时间exptmin，exptmid的大小采用0.5*（exptmin+exptmax），按照exptmin、exptmid、exptmax的顺序依次采集暗场图像，每个曝光时间下采集不少于n幅暗场图像。
5.根据权利要求4所述的一种检测探测器异常像
6.根据权利要求1所述的一种检测探测器异常像素的方法，其特征在于，所述步骤3包括如下步骤：
7.根据权利要求6所述的一种检测探测器异常像素的方法，其特征在于，所述步骤3-1中的cube文件是将Dark_masterexpt（i，j）按照exptmin、exptmid、exptmax的顺序堆叠成一个三维数组。
8.根据权利要求6所述的一种检测探测器异常像素的方法，其特征在于，所述步骤3-2中的判断方法包括：
...【技术特征摘要】
1.一种检测探测器异常像素的方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种检测探测器异常像素的方法，其特征在于，还包括步骤4，即对于检测到的异常像素进行标记，以便后续的图像处理或分析。
3.根据权利要求1所述的一种检测探测器异常像素的方法，其特征在于，所述步骤1包括，将待测探测器放置于暗室环境中，遮盖探测器的镜头防止杂散光的干扰，给探测器上电，并将探测器制冷至工作温度，使探测器达到稳定工作状态；暗室环境以及稳定工作状态是指探测器受测环境无杂散光的干扰、环境温度保持稳定，探测器处于预设制冷温度状态。
4.根据权利要求1所述的一种检测探测器异常像素的方法，其特征在于，所述步骤2包括，确定待测探测器处于线性响应区间的最大曝光时间exptmax、中等曝光时间exptmid以及最小曝光时间exptm...
【专利技术属性】
技术研发人员：牛炳力，窦江培，赵刚，张熙，袁保宁，李文龙，陈祎力，吕中华，
申请(专利权)人：中国科学院南京天文光学技术研究所，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。