【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及图像处理，尤其涉及一种坏团校正方法、装置和电子设备。
技术介绍
1、由于芯片感光特性以及自身制造工艺缺陷等原因，导致图像中会出现一些有缺陷的点，这些有缺陷的像素点即为坏点。然而，坏点的存在并不局限于单个出现，统计窗口(比如3×3或5×5等)之中可能存在多个像素点均为坏点，这种单个出现以及多个出现的坏点统称为坏团。坏团大小与芯片特性有关，较大的坏团严重影响图像质量。
2、坏团位置一般通过静态标定的方式生成，即事先根据图像信息判断坏点位置，校正方式仍然按照单个坏点校正的思路。但常规的静态坏点校正算法仅能校正单个坏点，即根据单个坏点的位置提取以坏点为中心的3×3邻域窗口，使用3×3邻域窗口数据进行校正，若窗口内坏点数量较多或者全为坏点，则此时的校正效果较差。也就是说，常规静态坏点校正算法仅能校正单个坏点，无法校正成团状出现的坏点。
3、另外一种校正方式为创建大的邻域窗口，比如9×9或者15×15等，根据窗口中所有数据对中心坏点进行校正。此种方式使用固定大小的校正窗口，虽然能将坏团校正，但由于窗口过大，耗费的资源较多，且若坏团较小，例如校正单个坏点时，仍使用大的窗口校正会出现图像边缘细节模糊、图像明暗交界处出现灰点现象。也就是说，该种方式在校正单个出现的坏点时，校正效果较差。
技术实现思路
1、本专利技术所要解决的技术问题是：提供一种坏团校正方法、装置和电子设备，通过动态确定坏点的校正点集，可在减少计算量的同时保证校正效果。
2、第一方面，
3、确定坏点位置，至少一个所述坏点形成坏团；
4、在待校正图像中的所述坏点的预设邻域内，以所述坏点为中心，向外逐圈搜索并统计非坏点，并根据预设的数量阈值以及统计的非坏点数量，确定所述坏点对应的校正点集；
5、根据所述坏点对应的校正点集，对所述坏点进行校正。
6、第二方面，本专利技术还提供了一种坏团校正装置，包括：
7、第一确定模块，用于确定坏点位置，至少一个所述坏点形成坏团；
8、第二确定模块，用于在待校正图像中的所述坏点的预设邻域内，以所述坏点为中心，向外逐圈搜索并统计非坏点，并根据预设的数量阈值以及统计的非坏点数量，确定所述坏点对应的校正点集；
9、校正模块，用于根据所述坏点对应的校正点集，对所述坏点进行校正。
10、第三方面，本专利技术还提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
11、一个或多个处理器；
12、存储装置，用于存储一个或多个程序；
13、当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如第一方面提供的方法。
14、本专利技术的有益效果在于：通过标定坏点位置，并根据坏点邻域内非坏点的数量，自适应确定校正点集，既能实现单个坏点的校正，也能实现成团出现的坏点的校正，在减少计算量的同时保证了良好的校正效果。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种坏团校正方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的坏团校正方法，其特征在于，所述在待校正图像中的所述坏点的预设邻域内，以所述坏点为中心，向外逐圈搜索并统计非坏点，并根据预设的数量阈值以及统计的非坏点数量，确定所述坏点对应的校正点集，包括：
3.根据权利要求1所述的坏团校正方法，其特征在于，向外逐圈搜索并统计非坏点包括：按照逐圈往外的方式，对每个搜索圈的像素点进行搜索和统计；
4.根据权利要求3所述的坏团校正方法，其特征在于，若搜索到第t个搜索圈时，搜索到的非坏点的总数量超过预设的数量阈值，则统计的非坏点包括已搜索到的非坏点，或统计的非坏点包括已搜索到的非坏点以及第t个搜索圈中未搜索过的非坏点。
5.根据权利要求1所述的坏团校正方法，其特征在于，所述根据所述坏点对应的校正点集，对所述坏点进行校正，包括：
6.根据权利要求5所述的坏团校正方法，其特征在于，所述分别计算一坏点对应的校正点集中的各非坏点的校正权重，并根据所述一坏点对应的校正点集中的各非坏点的像素值和校正权重，计算所述一坏点对应的校正值，包括：p>
7.根据权利要求1所述的坏团校正方法，其特征在于，所述确定坏点位置，包括：
8.根据权利要求7所述的坏团校正方法，其特征在于，所述确定坏点位置，还包括：
9.一种坏团校正装置，其特征在于，包括：
10.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：
...【技术特征摘要】
1.一种坏团校正方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的坏团校正方法，其特征在于，所述在待校正图像中的所述坏点的预设邻域内，以所述坏点为中心，向外逐圈搜索并统计非坏点，并根据预设的数量阈值以及统计的非坏点数量，确定所述坏点对应的校正点集，包括：
3.根据权利要求1所述的坏团校正方法，其特征在于，向外逐圈搜索并统计非坏点包括：按照逐圈往外的方式，对每个搜索圈的像素点进行搜索和统计；
4.根据权利要求3所述的坏团校正方法，其特征在于，若搜索到第t个搜索圈时，搜索到的非坏点的总数量超过预设的数量阈值，则统计的非坏点包括已搜索到的非坏点，或统计的非坏点包括已搜索到的非坏点以及第t个搜索圈中未搜索过的...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈兵，邹兴文，冯西，
申请(专利权)人：福建鑫图光电有限公司，
类型：发明
国别省市：
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