【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及存储，尤其涉及一种存储器管理方法与存储装置。
技术介绍
1、随着使用时间和使用次数的增加，存储装置中的存储单元会逐渐磨损，容而造成实体块中存储的数据可靠性下降，甚至可能出现读取失败的情况。一般来说，若存储装置中用来存储用户数据的实体块发生读取错误时，由于系统仍处于可正常运作的状态，因此存储器控制器可通过调整读取电压电平等方式来尝试修正错误。然而，当存储装置中用来存储系统数据的实体块发生读取错误时，由于无法顺利读取系统数据，故存储器控制器将无法正常运作进而导致系统崩溃。
2、因此，如何提高系统数据存储于存储装置中的可靠度，进而提高存储装置运作的稳定性，为目前亟需解决的问题。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种存储器管理方法与存储装置，可解决上述问题，并有效提高存储装置的运作稳定性。
2、本专利技术的实施例提供一种存储器管理方法，其用于存储装置，其中所述存储装置包括存储器模块，所述存储器模块包括多个实体单元，且所述存储器管理方法包括：根据偏移量，确定读取电压电平；基于所述读取电压电平读取所述多个实体单元中的第一实体单元，以取得第一数据；根据所述第一数据，取得对应于所述第一实体单元的第一质量评估信息，其中所述第一质量评估信息反映基于所述读取电压电平所评估的所述第一实体单元的质量状态；根据所述第一质量评估信息，判断所述第一实体单元是否符合预设条件；若所述第一实体单元符合所述预设条件，将所述第一实体单元确定为第一类实体单元；以及将系统数据存储于所述第一
3、本专利技术的实施例另提供一种存储装置，其包括连接接口、存储器模块及存储器控制器。所述连接接口用以连接至主机系统。所述存储器控制器连接至所述连接接口与所述存储器模块。所述存储器模块包括多个实体单元，且所述存储器控制器用以执行：步骤a：根据偏移量，确定读取电压电平；步骤b：基于所述读取电压电平读取所述多个实体单元中的第一实体单元，以取得第一数据；步骤c：根据所述第一数据，取得对应于所述第一实体单元的第一质量评估信息，其中所述第一质量评估信息反映基于所述读取电压电平所评估的所述第一实体单元的质量状态；步骤d：根据所述第一质量评估信息，判断所述第一实体单元是否符合预设条件；步骤e：若所述第一实体单元符合所述预设条件，将所述第一实体单元确定为第一类实体单元；以及步骤f：将系统数据存储于所述第一类实体单元中。
4、基于上述，在根据偏移量确定读取电压电平后，所述读取电压电平可用于读取第一实体单元，以取得第一数据。根据第一数据，对应于第一实体单元的第一质量评估信息可被取得。特别是，第一质量评估信息可反映基于所述读取电压电平所评估的第一实体单元的质量状态。根据第一质量评估信息，若第一实体单元被判定为符合预设条件，则第一实体单元可被确定为第一类实体单元。尔后，可将系统数据存储于第一类实体单元中。由此，可有效提高存储装置的运作稳定性。
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1.一种存储器管理方法，其特征在于，用于存储装置，其中所述存储装置包括存储器模块，所述存储器模块包括多个实体单元，且所述存储器管理方法包括：
2.根据权利要求1所述的存储器管理方法，其中所述第一质量评估信息包括计数值，且所述计数值反映所述第一实体单元中的第一类子实体单元的总数。
3.根据权利要求1所述的存储器管理方法，其中根据所述第一质量评估信息，判断所述第一实体单元是否符合所述预设条件的步骤包括：
4.根据权利要求2所述的存储器管理方法，其中所述第一实体单元包括第一子实体单元，所述第一子实体单元包括多个第一存储单元，且根据所述第一数据，取得对应于所述第一实体单元的所述第一质量评估信息的步骤包括：
5.根据权利要求4所述的存储器管理方法，其中所述第一数据包括第一子数据，所述第一子数据反映基于所述读取电压电平对所述第一子实体单元的读取结果，且根据所述多个第一存储单元相较于所述读取电压电平的所述临界电压分布状况，判断所述第一子实体单元是否属于所述第一类子实体单元的步骤包括：
6.根据权利要求4所述的存储器管理方法，其中所述第
7.根据权利要求1所述的存储器管理方法，还包括：
8.根据权利要求7所述的存储器管理方法，还包括：
9.根据权利要求1所述的存储器管理方法，其中将所述第一实体单元确定为所述第一类实体单元的步骤包括：
10.根据权利要求1所述的存储器管理方法，其中所述系统数据包括开机固件、电压调整表、逻辑至实体映射表、坏块管理表及有效数据管理表的至少其中之一。
11.一种存储装置，其特征在于，包括：
12.根据权利要求11所述的存储装置，其中所述第一质量评估信息包括计数值，且所述计数值反映所述第一实体单元中的第一类子实体单元的总数。
13.根据权利要求11所述的存储装置，其中所述存储器控制器根据所述第一质量评估信息，判断所述第一实体单元是否符合所述预设条件的操作包括：
14.根据权利要求12所述的存储装置，其中所述第一实体单元包括第一子实体单元，所述第一子实体单元包括多个第一存储单元，且所述存储器控制器根据所述第一数据，取得对应于所述第一实体单元的所述第一质量评估信息的操作包括：
15.根据权利要求14所述的存储装置，其中所述第一数据包括第一子数据，所述第一子数据反映基于所述读取电压电平对所述第一子实体单元的读取结果，且所述存储器控制器根据所述多个第一存储单元相较于所述读取电压电平的所述临界电压分布状况，判断所述第一子实体单元是否属于所述第一类子实体单元的操作包括：
16.根据权利要求14所述的存储装置，其中所述第一数据包括第一子数据，所述第一子数据反映基于所述读取电压电平对所述第一子实体单元的读取结果，且所述存储器控制器根据所述多个第一存储单元相较于所述读取电压电平的所述临界电压分布状况，判断所述第一子实体单元是否属于所述第一类子实体单元的操作包括：
17.根据权利要求11所述的存储装置，其中所述存储器控制器还用以：
18.根据权利要求17所述的存储装置，其中所述存储器控制器还用以：
19.根据权利要求11所述的存储装置，其中所述存储器控制器将所述第一实体单元确定为所述第一类实体单元的操作包括：
20.根据权利要求11所述的存储装置，其中所述系统数据包括开机固件、电压调整表、逻辑至实体映射表、坏块管理表及有效数据管理表的至少其中之一。
...【技术特征摘要】
1.一种存储器管理方法，其特征在于，用于存储装置，其中所述存储装置包括存储器模块，所述存储器模块包括多个实体单元，且所述存储器管理方法包括：
2.根据权利要求1所述的存储器管理方法，其中所述第一质量评估信息包括计数值，且所述计数值反映所述第一实体单元中的第一类子实体单元的总数。
3.根据权利要求1所述的存储器管理方法，其中根据所述第一质量评估信息，判断所述第一实体单元是否符合所述预设条件的步骤包括：
4.根据权利要求2所述的存储器管理方法，其中所述第一实体单元包括第一子实体单元，所述第一子实体单元包括多个第一存储单元，且根据所述第一数据，取得对应于所述第一实体单元的所述第一质量评估信息的步骤包括：
5.根据权利要求4所述的存储器管理方法，其中所述第一数据包括第一子数据，所述第一子数据反映基于所述读取电压电平对所述第一子实体单元的读取结果，且根据所述多个第一存储单元相较于所述读取电压电平的所述临界电压分布状况，判断所述第一子实体单元是否属于所述第一类子实体单元的步骤包括：
6.根据权利要求4所述的存储器管理方法，其中所述第一数据包括第一子数据，所述第一子数据反映基于所述读取电压电平对所述第一子实体单元的读取结果，且根据所述多个第一存储单元相较于所述读取电压电平的所述临界电压分布状况，判断所述第一子实体单元是否属于所述第一类子实体单元的步骤包括：
7.根据权利要求1所述的存储器管理方法，还包括：
8.根据权利要求7所述的存储器管理方法，还包括：
9.根据权利要求1所述的存储器管理方法，其中将所述第一实体单元确定为所述第一类实体单元的步骤包括：
10.根据权利要求1所述的存储器管理方法，其中所述系统数据包括开机固件、电压调整表、逻辑至实体映射表、坏块管理表及有效数据管理表的至少其中之一。
【专利技术属性】
技术研发人员：陈宇，吴宗霖，黄学楼，陈东林，锺荣，和顺芳，
申请(专利权)人：深圳宏芯宇电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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