【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及开发测试，具体涉及一种双倍数据速率同步动态随机存取内存测试方法及计算设备。
技术介绍
1、在数据流架构片上系统(soc)芯片中，通常存在多路独立的双倍数据速率同步动态随机存取内存(ddr)子系统，用于cpu、加速引擎、编解码等数据的缓存，缓存数据出错会导致运算结果的错误，甚至系统的崩溃，因此ddr的稳定性至关重要。
2、soc主芯片与双倍数据速率同步动态随机存取内存(ddr sdram)等器件，均贴在印制电路板(pcb)板上通过印刷电路数据线连接，数据线的信号质量与主芯片中的控制逻辑配置、ddr sdram的配置、板上布线、pcb电路板生产工艺、器件贴片工艺等都紧密相关。其中任何一环出现问题，都会导致ddr子系统的不稳定甚至不工作。
3、由于ddr sdram与soc主芯片之间的并行信号线数量多，需要通过soc主芯片中的训练(training)程序对各信号线的延时进行调整(1d training)，或者对信号线的延时以及参考电压同时进行调整(2d training)，训练过程中会遍历各信号线的延时配置、参考电压配置，同时判断信号的数字眼图的大小是否达到通过条件，如果信号数字眼图足够大，则标识为训练通过。
4、除了信号线延时与参考电压以外，还有诸如soc主芯片端口的信号驱动能力与信号终端值、ddr sdram端口的信号驱动能力与信号终端值等配置，都可能影响数字眼图的张开程度，通过可以对这些参数进行遍历配置，得到眼图最大时对应的配置参数组合。
5、另外，还可以通过系统仿真
6、以上所述的方法都是以训练眼图为依据，试图寻找眼图最优的配置参数组合。但在实际的系统产品测试中，数字眼图的测试方法一是训练时的读写次数比较少，不完备；二是训练时的读写压力比较小，实际测试中同时对各信号线驱动能力要求更高；三是训练无法遍历sdram的全部空间，无法扫描出某个地址上的缺陷。所以即使数字眼图效果很好，也不一定可以全面、稳定地运行，尤其在各种严苛的压力测试程序以及宽温境下，仍然可能将有缺馅的产品泄露到交付端。因此，仅依靠训练时的眼图，不能完备地测试系统产品的稳定性。
7、为此，需要一种技术方案，能够综合、稳定的实现对ddr子系统的全面测试。
技术实现思路
1、本专利技术旨在提供用于一种ddr测试方法及计算设备，能够综合、稳定的实现对ddr子系统的全面测试。
2、根据本专利技术的一方面，提供一种ddr测试的方法，所述方法用于系统级芯片产品板中多路ddr子系统的性能测试，所述方法包括：
3、获取根据设计目标频率设定的多个测试频率点；
4、在所述多个测试频率点上，应用所述系统级芯片产品板的不同配置组合进行遍历训练，得到与所述多个测试频率点对应的第一配置组合集；
5、在所述设计目标频率点上，应用所述第一配置组合集配置所述系统级芯片产品板，基于中央处理器裸机程序进行压力读写测试，得到第二配置组合集；
6、在所述测试频率点上，应用所述第二配置组合集配置所述系统级芯片产品板，基于操作系统压力测试程序进行压力测试，得到压力测试结果并定位压力测试不合格的ddr子系统；
7、对于所述压力测试不合格的ddr子系统进行降频压力测试，直至找到所述ddr子系统能够通过压力测试的频率点以及对应的第三配置组合集。
8、根据一些实施例，所述方法还包括：
9、在除设计目标频率点以外的其他频率点上，应用所述第一配置组合集配置所述系统级芯片产品板，通过中央处理器裸机程序进行压力读写测试，得到第四配置组合集。
10、根据一些实施例，应用所述系统级芯片产品板的不同配置组合进行遍历训练，包括：
11、在所述多个测试频率点上，应用所述系统级芯片产品板的不同配置组合对所述多路双倍数据速率同步动态随机存取内存子系统进行遍历训练，得到不同配置组合的训练结果，并记录各训练眼图的大小。
12、根据一些实施例，所述方法还包括：
13、对所述压力测试结果集进行分析，得到所述ddr子系统性能测试的最优配置组合集。
14、根据一些实施例，对所述压力测试结果集进行分析，得到所述ddr子系统性能测试的最优配置组合集，包括：
15、对所述压力测试结果集进行分析，得到所述ddr子系统测试通过数量的最多的参数组合集合，作为所述ddr子系统性能测试的最优配置组合集。
16、根据一些实施例，对所述压力测试结果集进行分析，得到所述ddr子系统性能测试的最优配置组合集，包括：
17、如果存在相同测试通过数量的配置组合，则参照所述测试结果中相应的训练眼图分析，选择眼图最大的作为最终的配置参数组合，得到所述ddr子系统性能测试的最优配置组合集。
18、根据一些实施例，在应用所述系统级芯片产品板的不同配置组合进行遍历训练之前，还包括：
19、随机选取一定数量的所述系统级芯片产品板，确定所述系统级芯片产品板的主芯片端和双倍数据速率同步动态随机存取内存端可调整的信号驱动能力和终端电阻配置参数范围，得到所述所述系统级芯片产品板的不同配置组合。
20、根据一些实施例，所述方法还包括：
21、根据所述的配置组合集以及所述压力测试结果集对所述系统级芯片产品板进行分类，类别包括：全部ddr满足设计目标频率、部分ddr需要降频运行、部分ddr为故障以及全部ddr故障。
22、根据本专利技术的另一方面，提供一种计算机程序产品，包括：计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，执行如上任一项所述的方法。
23、根据本专利技术的另一方面，提供一种计算设备，包括：
24、处理器；以及
25、存储器，存储有计算机程序，当所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如上任一项所述的方法。
26、根据本专利技术的另一方面，提供一种非瞬时性计算机可读存储介质，其上存储有计算机可读指令，当所述指令被处理器执行时，使得所述处理器执行如上任一项所述的方法。
27、根据本专利技术的实施例，根据设计目标频率设定多个测试频率点，通过对不同测试频率下的不同配置组合进行自动训练测试以及测试结果分析，进而挑选出最优的ddr配置参数组合。进一步地，添加了读写以及实际压力测试，以及压力测试不合格后的降频测试，相较于传统技术中仅仅通过训练眼图的分析测试结果更加全面、完备、可靠。
28、根据一些实施例，本专利技术方案中通过bare metal测试程序与操作系统内测试程序相结合的方法，提高测试效率，使得测试更完备，结果更可靠。
29、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种双倍数据速率同步动态随机存取内存测试的方法，其特征在于，所述方法用于系统级芯片产品板中多路双倍数据速率同步动态随机存取内存子系统的性能测试，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：应用所述系统级芯片产品板的不同配置组合进行遍历训练，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，对所述压力测试结果集进行分析，得到所述双倍数据速率同步动态随机存取内存子系统性能测试的最优配置组合集，包括：
6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，对所述压力测试结果集进行分析，得到所述双倍数据速率同步动态随机存取内存子系统性能测试的最优配置组合集，包括：
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在应用所述系统级芯片产品板的不同配置组合进行遍历训练之前，还包括：
8.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：
9.一种计算机程序产品，其特征在于，包括：计算机程序，
10.一种计算设备，其特征在于，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种双倍数据速率同步动态随机存取内存测试的方法，其特征在于，所述方法用于系统级芯片产品板中多路双倍数据速率同步动态随机存取内存子系统的性能测试，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：应用所述系统级芯片产品板的不同配置组合进行遍历训练，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，对所述压力测试结果集进行分析，得到所述双倍数据速率同步动态随机存取内存子系统性能测试的最优...
【专利技术属性】
技术研发人员：梁监天，蔡权雄，牛昕宇，
申请(专利权)人：深圳鲲云信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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