【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种信息处理装置、信息处理方法及信息处理程序。
技术介绍
1、在日本特开2007-192818号公报中公开有以下技术：在零件的非破坏检查中，从使用通过ct（computed tomography，计算机断层扫描）装置拍摄零件获得的多个断层图像而生成的三维图像提取点云，并将所提取的点云登记到cad（computer aided design，计算机辅助设计）坐标系中。
技术实现思路
1、专利技术要解决的技术课题
2、在非破坏检查中，如果能够使通过对检查对象物照射放射线而拍摄的二维的检查图像中的缺陷的信息和检查对象物的三维结构中的缺陷的位置相关联，则是优选的。这是因为通过将二维的检查图像的缺陷的形状及纹理信息和检查对象物的三维结构中的缺陷的位置进行对照，能够提高检查效率。
3、在从使用多个断层图像生成的三维图像特定缺陷的三维位置的技术中，ct装置等摄影装置的成本高，且多个断层图像的摄影花费比较长的时间，因此从非破坏检查的检查效率的观点来看，存在改善的余地。
4、本专利技术是鉴于以上的情况而完成的，其目的在于提供能够提高非破坏检查的检查效率的信息处理装置、信息处理方法及信息处理程序。
5、用于解决技术课题的手段
6、第一方式为一种信息处理装置，其具备至少一个处理器，其中，处理器获取变换参数，使用变换参数将检查图像中的检查对象物的缺陷的位置变换为结构信息中的位置，所述变换参数用于将通过对检查对象物沿着照射方向照射放射
7、第二方式的信息处理装置是在第一方式的信息处理装置的基础上，其中，处理器基于检查图像导出沿着照射方向的缺陷的深度，导出从结构信息中的相当于检查对象物的表面的位置离开沿着照射方向导出的深度的量的位置，作为结构信息中的缺陷的位置。
8、第三方式的信息处理装置是在第二方式的信息处理装置的基础上，其中，处理器基于检查图像中的缺陷的区域的模糊程度导出缺陷的深度。
9、第四方式的信息处理装置是在第一方式的信息处理装置的基础上，其中，从不同的多个照射方向拍摄多个检查图像，处理器使用变换参数，将多个检查图像各自的缺陷的位置变换为将照射方向作为视点方向时的平面内的结构信息的位置，导出穿过关于多个检查图像中的每一个检查图像的变换后的缺陷的位置的、分别沿着照射方向的多个直线的交点，作为结构信息中的缺陷的位置。
10、第五方式的信息处理装置是在第一方式至第四方式中任一方式的信息处理装置的基础上，其中，处理器将结构信息和结构信息中的缺陷的位置作为数据而一体化。
11、第六方式为一种信息处理方法，其中，信息处理装置具备的处理器执行以下处理：获取变换参数，使用变换参数将检查图像中的检查对象物的缺陷的位置变换为结构信息中的位置，所述变换参数用于将通过对检查对象物沿着照射方向照射放射线而拍摄的检查图像内的位置变换为表示检查对象物的三维结构的结构信息的位置。
12、第七方式为一种信息处理程序，其中，其用于使信息处理装置具备的处理器执行以下处理：获取变换参数，使用变换参数，将检查图像中的检查对象物的缺陷的位置变换为结构信息中的位置，所述变换参数用于将通过对检查对象物沿着照射方向照射放射线而拍摄的检查图像内的位置变换为表示检查对象物的三维结构的结构信息的位置，且所述变换参数包括结构信息中的照射方向。
13、专利技术效果
14、根据本专利技术，能够提高非破坏检查的检查效率。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种信息处理装置，其具备至少一个处理器，其中，
2.根据权利要求1所述的信息处理装置，其中，
3.根据权利要求2所述的信息处理装置，其中，
4.根据权利要求1所述的信息处理装置，其中，
5.根据权利要求1至4中任一项所述的信息处理装置，其中，
6.一种信息处理方法，其中，信息处理装置具备的处理器执行以下处理：
7.一种信息处理程序，其中，其用于使信息处理装置具备的处理器执行以下处理：
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种信息处理装置，其具备至少一个处理器，其中，
2.根据权利要求1所述的信息处理装置，其中，
3.根据权利要求2所述的信息处理装置，其中，
4.根据权利要求1所述的信息处理装置，其中，
...【专利技术属性】
技术研发人员：田中瑛一，稻木誓哉，林伸治，
申请(专利权)人：富士胶片株式会社，
类型：发明
国别省市：
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