【技术实现步骤摘要】
本申请实施例涉及但不限于光通信，尤其涉及一种光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法及装置。
技术介绍
1、在光通信
，由于温度、湿度、气体环境等因素影响，非气密光电子器件和模块面临着因器件失效而导致的使用寿命低的问题。经过大量的实践证明，大气环境中的硫化物是导致器件失效的一个不可忽视的因素。因此，光电子器件和模块的防硫化设计以及硫化加速试验是保证光学器件可靠性必不可少的一环。相关技术中，进行硫化加速试验通常采用流动气体腐蚀方法，但是气体受限于外界测试环境以及安全要求，导致硫化加速试验的结果可靠性较差且试验成本较高，因此，亟需一种可靠性试验方法解决上述问题。
技术实现思路
1、本申请实施例提供了一种光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法及装置，能够解决硫化试验的试验结果的可靠性较差以及试验成本较高的技术问题。
2、一方面，本申请实施例提供了一种光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法，所述方法包括：执行试验准备步骤；所述试验准备步骤包括：在启动硫化试验前，对光学器件的性能进行测试，得到正常工作状态下的初始测试数据，所述光学器件包括光电子器件和光模块中至少一种；将预设初始剂量的升华硫磺粉放置在试验容器底部，所述初始剂量与所述试验容器的容量一一对应；将所述光学器件和硫化指示剂设置在所述试验容器内并位于所述升华硫磺粉的上方；将所述试验容器设置在预设试验温度下，启动所述硫化试验；执行指示剂验证步骤，所述执行指示剂验证步骤包括：间隔预设的第一时长定期检测所述硫化指示
3、另一方面，本申请实施例还提供了一种光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验装置，包括加热恒温装置和试验容器，所述加热恒温装置用于提供预设试验温度；所述试验容器放置在所述加热恒温装置内，所述试验容器底部设置有预设初始剂量的升华硫磺粉、待试验的光学器件以及硫化指示剂，所述光学器件以及所述硫化指示剂设置在所述升华硫磺粉上方；所述初始剂量与所述试验容器的容量一一对应，所述硫化指示剂用于在启动所述硫化试验后，间隔预设的第一时长定期检测所述硫化指示剂的状态，并根据所述硫化指示剂的状态验证所述升华硫磺粉是否满足试验要求。
4、本申请实施例中，通过将升华硫磺粉维持在试验温度中进行挥发从而实现对光学器件的硫磺熏蒸，以完成对光学器件的硫化加速试验，和气体相比，本申请实施例提供的方法的加速效果远超于流动气体腐蚀试验。且由于升华硫磺粉为固体，因此，对于运输存储以及验证的装置要求更低，采用本申请实施例的装置以及该方法进行试验的试验成本更低，因此，和相关技术相比，本申请实施例能提升对光学器件的硫化加速试验结果的可靠性且能降低试验成本。
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1.一种光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法，其特征在于，所述取出所述光学器件进行测试后，所述方法还包括：
3.根据权利要求1或2所述的光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法，其特征在于，在所述测试数据指示所述光学器件失效的情况下，确定所述光学器件验证未通过。
4.根据权利要求1所述的光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法，其特征在于，所述根据所述硫化指示剂的状态验证所述升华硫磺粉是否满足试验要求，包括：
5.根据权利要求1所述的光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法，其特征在于，所述硫化指示剂包括银片，其中，所述银片变黑时指示所述升华硫磺粉的剂量满足所述试验要求。
6.根据权利要求1所述的光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法，其特征在于，所述测试数据包括如下至少之一，确定所述测试数据指示所述光学器件失效：
7.根据权利要求6所述的光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法，其特征在于，所述测试数据包括
8.根据权利要求6所述的光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法，其特征在于，所述测试数据包括如下至少之一，确定所述光学器件的外观质量存在异常：
9.根据权利要求6所述的光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法，其特征在于，所述测试数据包括如下至少之一，确定所述光学器件的电性能不满足预设的性能要求时：
10.根据权利要求1所述的光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法，其特征在于，所述取出所述光学器件进行测试包括：
11.根据权利要求1所述的光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法，其特征在于，所述将预设初始剂量的升华硫磺粉放置在试验容器底部之前，所述方法还包括:
12.根据权利要求1所述的光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法，其特征在于，在所述启动所述硫化试验之前，所述方法还包括：
13.根据权利要求1所述的光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法，其特征在于，所述取出所述光学器件进行测试，包括：
14.根据权利要求1所述的光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法，其特征在于，所述试验温度的取值包括如下之一：
15.根据权利要求14所述的光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法，其特征在于，所述最大贮存温度区间为TEMP-2℃～TEMP+2℃，其中，所述TEMP为所述光学器件的最大贮存温度。
16.根据权利要求14所述的光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法，其特征在于，所述通用试验温度区间为S-2℃～S+2℃，其中，所述S为60℃。
17.一种光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验装置，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法，其特征在于，所述取出所述光学器件进行测试后，所述方法还包括：
3.根据权利要求1或2所述的光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法，其特征在于，在所述测试数据指示所述光学器件失效的情况下，确定所述光学器件验证未通过。
4.根据权利要求1所述的光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法，其特征在于，所述根据所述硫化指示剂的状态验证所述升华硫磺粉是否满足试验要求，包括：
5.根据权利要求1所述的光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法，其特征在于，所述硫化指示剂包括银片，其中，所述银片变黑时指示所述升华硫磺粉的剂量满足所述试验要求。
6.根据权利要求1所述的光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法，其特征在于，所述测试数据包括如下至少之一，确定所述测试数据指示所述光学器件失效：
7.根据权利要求6所述的光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法，其特征在于，所述测试数据包括如下至少之一，确定所述光学器件的光电测试结果不满足预设光电条件：
8.根据权利要求6所述的光电子器件和模块防硫化评估的可靠性试验方法，其特征在于，所述测试数据包括如下至少之一，确定所述光学器件的外观质量存在异常：
9.根据权利要求6所述的光电子...
【专利技术属性】
技术研发人员：夏鹏辉，沈百林，吕卫，杨旻岳，张琦，
申请(专利权)人：中兴光电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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