System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种埋阻铜箔及其制备方法和电子产品技术_技高网

一种埋阻铜箔及其制备方法和电子产品技术

技术编号:44091227 阅读:19 留言:0更新日期:2025-01-21 12:27
本申请涉及铜箔技术领域,本申请提供了一种埋阻铜箔及其制备方法和电子产品,该制备方法包括:获得铜箔;对所述铜箔进行微粗化;对微粗化后的铜箔进行第一次钝化;将钝化的铜箔进行刷镀沉积;其中,所述铜箔包括单面光电解铜箔、双面光电解铜箔或压延铜箔。本申请通过上述操作,获得了性能优异且均一的埋阻铜箔,该铜箔在高温烘烤3小时后仍无氧化现象,且可以实现电阻的定制化,从而扩大了应用场景。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及铜箔,尤其涉及一种埋阻铜箔及其制备方法和电子产品


技术介绍

1、在当今电子科技快速发展的进程中,随着5g通讯技术的广泛应用以及高速高性能电子产品数量的持续增加,印制电路板(printed circuit board,pcb)呈现出小型化、易封装、高频高速的发展趋势。传统无源器件贴装方式在这种趋势下逐渐显现出诸多不足,其导致pcb表面焊盘数量增多,可用表面积相应减少,并且焊盘元件间的寄生效应增强,使得高频信号传输稳定性变差,成为限制电子设备性能提升的一个重要因素。

2、埋阻铜箔是制造埋置电阻pcb的理想材料,在电阻功率放大、电压转换、信号输入/输出、温度补偿以及电源滤波等方面都有着重要作用,其性能对电子产品的竞争力有着显著影响。然而,在埋阻铜箔制备领域,溅镀工艺制备镍磷合金电阻层具有其特定的工艺特征,其需要载体层作为制备基材,这一要求增加了工艺的复杂性和对原材料的依赖。现有技术情况对国内埋阻铜箔应用产品的发展形成了较大阻碍。

3、比如在中国专利申请cn118996555a中,虽提出了一种通过电镀镍磷合金层来提高电阻铜箔耐腐蚀性的方法。该方法主要包括以下几个步骤:首先对生箔进行酸洗处理以去除表面杂质,然后进行粗固化处理以增加表面粗糙度,最后利用特定成分的电镀液沉积镍磷合金层。尽管这种方法能够在一定程度上提升电阻铜箔的耐腐蚀性,但在实际应用过程中,由于电流分布不均等因素的影响,可能会导致局部区域电阻层厚度不足或过厚的问题。这种不均匀性不仅影响了电阻层的电气性能,还可能降低其长期使用的可靠性。


技术实现思路

1、鉴于以上现有技术的缺点,本申请通过对双面光铜箔进行流程上的改进和工艺优化,提出一种埋阻铜箔及其制备方法和电子产品。

2、根据本申请的第一方面,提供一种埋阻铜箔的制备方法,包括:获得铜箔;对所述铜箔进行微粗化;对微粗化后的铜箔进行第一次钝化;将钝化的铜箔沉积制备电阻层;其中,所述铜箔包括单面光电解铜箔、双面光电解铜箔或压延铜箔。

3、可选地,微粗化包括:将铜箔与微粗化药水混合进行粗化;所述微粗化药水包括含铜物料和含酸物料。

4、可选地,粗化处理的条件为:温度为15℃~25℃、电流密度为10 a/dm2~30a/dm2、ph-1.0~5、时间为10s ~50s。

5、可选地,在双面光铜箔的毛面进行微粗化处理。

6、可选地,在微粗化药水中,含铜物料15g/l~40g/l,含酸物料30g/l~65g/l;含酸物料为两种或两种以上种类的酸组成;优选含酸物料包括:硫酸30g/l~60g/l、磷酸1g/l~5g/l。

7、可选地,第一次钝化包括:将微粗化后的双面光铜箔置于钝化药水中,进行第一次钝化。

8、可选地,所述钝化药水包括:植酸1.5g/l~3.5g/l、锌离子5g/l~10g/l、镍离子0.3g/l~0.8g/l;优选植酸、锌离子、镍离子的质量比为1:3:0.2。

9、可选地,第一次电镀的条件为:在温度20℃~50℃,电流密度1 a/dm2~5a/dm2。

10、可选地,所述刷镀沉积包括:将钝化的铜箔表面涂覆含硅、氟、镍、磷、铬的沉积药水。

11、可选地,刷镀沉积的条件为:温度15℃~60℃,电流密度5a/dm2~50a/dm2。

12、可选地,第二次钝化包括:将刷镀沉积后的铜箔置于钝化药水中,进行第二次钝化。

13、可选地,第二次钝化的条件为:在温度20℃~50℃,电流密度1a/dm2~5a/dm2。

14、可选地,双面光铜箔由原箔生成药水制备得到;所述原箔生成药水包括:铜70g/l~100g/l、硫酸70g/l ~100g/l、光亮剂1g/l ~5g/l。

15、可选地,所述光亮剂包括聚丙二醇、明胶、羟甲基纤维素;聚丙二醇、明胶、羟甲基纤维素的质量比例为 (0.5~1.5):(1.5~2.5):0.5。

16、可选地,在双面光铜箔的制备方法中,温度为48℃~52℃,ph为-1.0~5,电流密度为10 a/dm2~30 a/dm2。

17、根据本申请的第二方面,提供一种埋阻铜箔,由以上任一所述的制备方法制备得到。

18、可选地,表面粗糙度<5.0微米;抗拉强度>30kg/mm2;延伸率>5%。

19、根据本申请的第三方面,提供上述埋阻铜箔在导电材料、电路板或电池中的应用。

20、本申请的有益效果如下:

21、本制备方法首先获取铜箔(可为单面光电解铜箔、双面光电解铜箔或压延铜箔),对其进行微粗化处理。微粗化处理能够增加铜箔表面的粗糙度,为后续沉积电阻层提供更多的附着位点,使得电阻层与铜箔之间的结合更加牢固。经过微粗化处理后的铜箔进行第一次钝化,钝化可在铜箔表面形成一层保护膜,这层膜能够有效防止铜箔在后续制备过程中被过度氧化或受到其他物质改性,从而确保电阻层沉积的均匀性和稳定性。之后在钝化的铜箔上刷镀沉积制备电阻层,这种制备方式避免了溅镀工艺对特定载体层作为制备基材的依赖,降低了工艺的复杂性和原材料的限制。

22、通过以上步骤,能够有效克服现有技术导致的设备依赖、工艺复杂、成本高昂以及产品良率低等问题,使pcb能够更好地实现小型化、易封装、高频高速的发展目标,提高高频信号传输的稳定性,节约电路板表面空间,提升产品可靠性并改善电气性能,在电阻功率放大、电压转换、信号输入/输出、温度补偿和电源滤波等方面发挥更稳定且高效的作用。

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【技术保护点】

1.一种埋阻铜箔的制备方法,其特征在于,包括步骤:

2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,微粗化包括:将铜箔与微粗化药水混合进行粗化;所述微粗化药水包括含铜物料和含酸物料。

3.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,粗化处理的条件为:温度为15℃~25℃、电流密度为10 A/dm2~30A/dm2、时间为10s ~50s;

4.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,第一次钝化包括:将微粗化后的铜箔置于钝化药水中,进行第一次钝化。

5.根据权利要求4所述的制备方法,其特征在于,所述钝化药水包括:植酸1.5g/L~3.5g/L、锌离子5g/L~10g/L、镍离子0.3g/L~0.8g/L;植酸、锌离子、镍离子的质量比为1:3:0.2;

6.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述沉积制备步骤包括:将钝化的铜箔表面涂覆含硅、氟、镍、磷、铬的沉积药水,制备电阻层。

7.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,还包括第二次钝化,所述第二次钝化在所述沉积制备步骤之后,所述第二次钝化包括:将刷镀沉积后的铜箔置于钝化药水中,进行第二次钝化。

8.一种埋阻铜箔,其特征在于,由权利要求1~7任一所述的制备方法制备得到。

9.根据权利要求8所述的埋阻铜箔,其特征在于,表面粗糙度<5.0微米;抗拉强度>30kg/mm2;延伸率>5%。

10.一种电子产品,其特征在于,包括依据权利要求1至7任一项所述的埋阻铜箔的制备方法制备的埋阻铜箔,或者包括如权利要求8或9所述的埋阻铜箔。

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【技术特征摘要】

1.一种埋阻铜箔的制备方法,其特征在于,包括步骤:

2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,微粗化包括:将铜箔与微粗化药水混合进行粗化;所述微粗化药水包括含铜物料和含酸物料。

3.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,粗化处理的条件为:温度为15℃~25℃、电流密度为10 a/dm2~30a/dm2、时间为10s ~50s;

4.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,第一次钝化包括:将微粗化后的铜箔置于钝化药水中,进行第一次钝化。

5.根据权利要求4所述的制备方法,其特征在于,所述钝化药水包括:植酸1.5g/l~3.5g/l、锌离子5g/l~10g/l、镍离子0.3g/l~0.8g/l;植酸、锌离子、镍离子的质量比为1:3:0.2;

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【专利技术属性】
技术研发人员:陈韶明
申请(专利权)人:安徽华威铜箔科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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