【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及激光测试，尤其涉及一种铒镱共掺光纤斜效率的测试系统、测试方法和激光器。
技术介绍
1、铒镱共掺双包层光纤（也称铒镱共掺光纤）作为一种具有高输出功率、工作在安全的1.5μm波段等众多优势的光纤，其斜效率的高低是衡量其性能的重要指标之一。
2、然而，由于铒镱共掺光纤品类较多，且属于可定制的特种光纤，对不同规格的铒镱共掺光纤进行测试时，就需要采用多个对应的不同测试平台进行测试，否则将由于泵浦光注入端与被测试光纤规格不匹配，造成泵浦光不能满注入，影响斜效率测试结果准确性。
3、因此，有必要提供一种能对不同规格铒镱共掺光纤的斜效率都进行检测的测试系统。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种铒镱共掺光纤斜效率的测试系统、测试方法和激光器，用以解决现有技术中必须采用不同的测试平台对不同规格的铒镱共掺光纤进行测试的缺陷，实现能对不同规格铒镱共掺光纤的斜效率都进行检测的测试系统。
2、本专利技术提供一种铒镱共掺光纤斜效率的测试系统，包括：
3、沿信号光输出方向依次设置的信号光源、测试组件、第一包层光剥除器和激光功率探测器；
4、所述测试组件包括第一合束器、泵浦模块和待测试光纤；所述泵浦模块包括至少一个第一泵浦源；所述待测试光纤为铒镱共掺光纤；所述测试组件用于将输入的信号光转换为经过所述待测试光纤传输的泵浦复合激光；
5、所述第一合束器与所述泵浦模块连接，所述第一合束器与所述待测试光纤连接；所述第一合束器用于耦合所述
6、所述第一合束器的规格是根据所述待测试光纤的规格确定的，以切换所述第一合束器实现不同规格的待测试光纤的满注入。
7、根据本专利技术提供的一种铒镱共掺光纤斜效率的测试系统，所述测试组件还包括光纤盘绕圆柱；
8、所述光纤盘绕圆柱的柱体表面刻制有螺旋状均匀分布的u形凹槽；所述u形凹槽的每一螺旋圈的直径相同；所述u形凹槽的任意两个相邻螺旋圈之间的距离相同；
9、所述待测试光纤螺旋盘绕在所述光纤盘绕圆柱的u形凹槽内。
10、根据本专利技术提供的一种铒镱共掺光纤斜效率的测试系统，所述u形凹槽的宽度与所述待测试光纤的直径之间的差值大于第一预设阈值。
11、根据本专利技术提供的一种铒镱共掺光纤斜效率的测试系统，所述第一泵浦源为正向泵浦源；
12、相应地，所述测试组件沿信号光输出方向依次设置为所述第一合束器和所述待测试光纤；所述正向泵浦源与所述第一合束器连接；
13、所述第一合束器用于将输入至所述测试组件的所述信号光和所述正向泵浦源输出的正向泵浦光耦合为未经所述待测试光纤传输的泵浦复合激光。
14、根据本专利技术提供的一种铒镱共掺光纤斜效率的测试系统，所述第一泵浦源为反向泵浦源；
15、相应地，所述测试组件沿信号光输出方向依次设置为所述待测试光纤和所述第一合束器；所述反向泵浦源与所述第一合束器连接；
16、所述第一合束器用于将经过所述待测试光纤传输的信号光和所述反向泵浦源输出的反向泵浦光，耦合为所述测试组件输出的、经过所述待测试光纤传输的泵浦复合激光。
17、根据本专利技术提供的一种铒镱共掺光纤斜效率的测试系统，在所述第一泵浦源为两个以上时，所述泵浦模块的实际工作功率大于任一所述第一泵浦源的最大额定功率。
18、根据本专利技术提供的一种铒镱共掺光纤斜效率的测试系统，设置在所述信号光源和所述测试组件之间的预放大级；所述预放大级用于放大所述信号光源输入的信号光的功率；
19、所述预放大级包括信号光纤、第二合束器和第二包层光剥除器；所述信号光纤与所述第二合束器连接；所述第二包层光剥除器与所述第二合束器连接；
20、所述第二合束器与用于输出泵浦光的第二泵浦源连接；所述第二合束器用于耦合所述信号光源输入的信号光和所述第二泵浦源输出的泵浦光。
21、根据本专利技术提供的一种铒镱共掺光纤斜效率的测试系统，设置在所述第一包层光剥除器和所述激光功率探测器之间的第一隔离器；
22、设置在所述第二合束器和所述第二包层光剥除器之间的第二隔离器。
23、本专利技术还提供一种铒镱共掺光纤斜效率的测试方法，包括：
24、确定斜效率测试装置中信号光源的初始信号光功率不变，获取泵浦模块的实际工作功率数据集和激光功率探测器记录的输出激光功率数据集；
25、基于所述实际工作功率数据集和所述输出激光功率数据集，拟合泵浦光-输出激光变化曲线；
26、将所述泵浦光-输出激光变化曲线的拟合斜率，作为待测试光纤的斜效率；所述待测试光纤为铒镱共掺光纤；
27、所述斜效率测试装置为上述任一种所述铒镱共掺光纤斜效率的测试系统。
28、本专利技术还提供一种激光器，包括：
29、如上述任一种所述铒镱共掺光纤斜效率的测试系统。
30、本专利技术提供的铒镱共掺光纤斜效率的测试系统、测试方法和激光器，根据待测试光纤的规格，仅仅通过切换合束器，以使合束器的规格与待测试光纤一致，就能在同一测试系统上实现光路尾纤与待测试光纤的匹配，以供不同规格待测试光纤实现满注入，进而精准获取到不同规格待测试光纤的斜效率数值。
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1.一种铒镱共掺光纤斜效率的测试系统，其特征在于，包括：沿信号光输出方向依次设置的信号光源、测试组件、第一包层光剥除器和激光功率探测器；
2.根据权利要求1所述的铒镱共掺光纤斜效率的测试系统，其特征在于，所述测试组件还包括光纤盘绕圆柱；
3.根据权利要求2所述的铒镱共掺光纤斜效率的测试系统，其特征在于，所述U形凹槽的宽度与所述待测试光纤的直径之间的差值大于第一预设阈值。
4.根据权利要求1所述的铒镱共掺光纤斜效率的测试系统，其特征在于，所述第一泵浦源为正向泵浦源；
5.根据权利要求1所述的铒镱共掺光纤斜效率的测试系统，其特征在于，所述第一泵浦源为反向泵浦源；
6.根据权利要求1所述的铒镱共掺光纤斜效率的测试系统，其特征在于，在所述第一泵浦源为两个以上时，所述泵浦模块的实际工作功率大于任一所述第一泵浦源的最大额定功率。
7.根据权利要求1所述的铒镱共掺光纤斜效率的测试系统，其特征在于，还包括：设置在所述信号光源和所述测试组件之间的预放大级；所述预放大级用于放大所述信号光源输入的信号光的功率；
8.根
9.一种铒镱共掺光纤斜效率的测试方法，其特征在于，包括：
10.一种激光器，其特征在于，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种铒镱共掺光纤斜效率的测试系统，其特征在于，包括：沿信号光输出方向依次设置的信号光源、测试组件、第一包层光剥除器和激光功率探测器；
2.根据权利要求1所述的铒镱共掺光纤斜效率的测试系统，其特征在于，所述测试组件还包括光纤盘绕圆柱；
3.根据权利要求2所述的铒镱共掺光纤斜效率的测试系统，其特征在于，所述u形凹槽的宽度与所述待测试光纤的直径之间的差值大于第一预设阈值。
4.根据权利要求1所述的铒镱共掺光纤斜效率的测试系统，其特征在于，所述第一泵浦源为正向泵浦源；
5.根据权利要求1所述的铒镱共掺光纤斜效率的测试系统，其特征在于，所述第一...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘娜，吴杰，陶军，
申请(专利权)人：武汉睿芯特种光纤有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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