【技术实现步骤摘要】
本技术涉及中子检测设备,尤其涉及一种中子智能无损检测诊断装置。
技术介绍
1、中子检测是一种利用中子对物质进行探测和分析的技术,中子无损检测是指在不破坏被检物结构与形态条件下利用中子射线与物质作用获悉物质内部微观与宏观结构与材料信息的检测方法,对材料或者制件进行微观宏观缺陷、几何特性、化学成分、组织结构和力学性能及变化进行评定。
2、经检索,专利号“cn209727808u”文案中提到了“公开了一种高精度中子无损检测装置,包括中子发射源、底座、屏蔽盖、中子成像探测器,底座上侧面为样品放置区,底座中间设有安装中子发射源的腔体,所述的腔体贯穿底座的上侧设置,所述的屏蔽盖设在底座上侧,屏蔽盖可在上下方向进行位置的调节,所述的中子成像探测器设置在屏蔽盖的上侧;所述的屏蔽盖为上小下大的锥形管体结构,还包括屏蔽管,所述的屏蔽管竖直设置在屏蔽盖内,屏蔽管的上端与屏蔽盖的上端开口处连接,屏蔽管为可上下伸缩设置,所述的屏蔽盖的内侧壁上设有反射调节板,反射调节板的下端与屏蔽盖铰接连接,屏蔽盖上设有螺纹孔,所述的螺纹孔上连接有调节螺杆,所述的调节螺杆与反射调节板的上端连接”,其在使用时,可把外物发射的中子进行屏蔽隔绝掉,避免反射的中子射向中子检测用闪烁体,造成检测误差,使中子检测用闪烁体只能接收到从样品中透射出的中子,从而提高了检测的精度,但是,该装置中子发射源角度固定,对不同成分的材料的探测有一定限制,存在影响检测的精确性的情况。
3、于是,我们提供了一种中子智能无损检测诊断装置解决以上问题。
技
1、本技术的目的在于提供一种中子智能无损检测诊断装置,解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种中子智能无损检测诊断装置,包括主体和调节机构,所述主体的一侧安装有操控平台,所述主体的内侧安装有调节机构;
3、所述调节机构包括平移组件、驱动组件、连接组件和检测组件,所述主体的内侧固定连接有平移组件,所述平移组件的另一侧安装有驱动组件,所述驱动组件的另一侧安装有连接组件,所述连接组件的另一侧安装有检测组件。
4、优选的,所述平移组件包括第一电动滑轨和第一滑动块,所述主体的内侧固定连接有第一电动滑轨,所述第一电动滑轨的另一侧滑动连接有第一滑动块。
5、优选的,所述驱动组件包括固定架、驱动电机和驱动轴,所述第一滑动块的另一侧固定连接有固定架,所述固定架的一侧安装有驱动电机,所述驱动电机的一端平键连接有驱动轴。
6、优选的,所述连接组件包括连接臂、传动电机和传动轴,所述驱动轴的外侧固定连接有连接臂,所述连接臂的一侧安装有传动电机,所述传动电机的一端平键连接有传动轴。
7、优选的,所述检测组件包括承托臂、中子发射源和中子成像探测器,所述传动轴的外侧固定连接有承托臂,所述承托臂的另一端固定连接有中子发射源,所述中子发射源的下方设置有中子成像探测器。
8、优选的,所述主体的顶端安装有防护组件,所述防护组件包括屏蔽壳和电动卷闸门,所述主体的顶端固定连接有屏蔽壳,所述屏蔽壳的外侧安装有电动卷闸门。
9、优选的,所述中子成像探测器的上方设置有承载组件,所述承载组件包括第二电动滑轨、第二滑动块、放置杆和l型角架,所述中子成像探测器的上方设置有第二电动滑轨,所述第二电动滑轨的顶端滑动连接有第二滑动块,所述第二滑动块的内侧滑动连接有放置杆,所述放置杆的顶端卡槽连接有l型角架。
10、与现有技术相比,本技术的有益效果是:
11、1、通过承载组件调节承载范围大小,尽可能减少承载组件对样品的阻拦,方便中子束穿透,通过第二电动滑轨控制第二滑动块位移,调节交叉设置的放置杆的承载范围,通过四组l型角架承托样品,以适应不同大小的样品参数,扩大适用范围。
12、2、通过调节机构增加中子发射源的射线角度,影响中子照射到被检测物体的路径,优化对不同成分的材料的探测,提高材料分辨率,通过第一电动滑轨与第一滑动块调节中子成像探测器水平位置,实现左右横移,通过固定架连接的驱动电机带动驱动轴旋转,使连接臂跟随旋转,使用传动电机带动传动轴旋转,扩大中子发射源的旋转角度,使用中子发射源射出中子束,穿透样品,被中子成像探测器接收处理。
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1.一种中子智能无损检测诊断装置,包括主体(1)和调节机构(3),其特征在于:所述主体(1)的一侧安装有操控平台(2),所述主体(1)的内侧安装有调节机构(3);
2.根据权利要求1所述的一种中子智能无损检测诊断装置,其特征在于,所述平移组件(31)包括第一电动滑轨(311)和第一滑动块(312),所述主体(1)的内侧固定连接有第一电动滑轨(311),所述第一电动滑轨(311)的另一侧滑动连接有第一滑动块(312)。
3.根据权利要求2所述的一种中子智能无损检测诊断装置,其特征在于,所述驱动组件(32)包括固定架(321)、驱动电机(322)和驱动轴(323),所述第一滑动块(312)的另一侧固定连接有固定架(321),所述固定架(321)的一侧安装有驱动电机(322),所述驱动电机(322)的一端平键连接有驱动轴(323)。
4.根据权利要求3所述的一种中子智能无损检测诊断装置,其特征在于,所述连接组件(33)包括连接臂(331)、传动电机(332)和传动轴(333),所述驱动轴(323)的外侧固定连接有连接臂(331),所述连接臂(331)
5.根据权利要求4所述的一种中子智能无损检测诊断装置,其特征在于,所述检测组件(34)包括承托臂(341)、中子发射源(342)和中子成像探测器(343),所述传动轴(333)的外侧固定连接有承托臂(341),所述承托臂(341)的另一端固定连接有中子发射源(342),所述中子发射源(342)的下方设置有中子成像探测器(343)。
6.根据权利要求1所述的一种中子智能无损检测诊断装置,其特征在于,所述主体(1)的顶端安装有防护组件(4),所述防护组件(4)包括屏蔽壳(41)和电动卷闸门(42),所述主体(1)的顶端固定连接有屏蔽壳(41),所述屏蔽壳(41)的外侧安装有电动卷闸门(42)。
7.根据权利要求5所述的一种中子智能无损检测诊断装置,其特征在于,所述中子成像探测器(343)的上方设置有承载组件(5),所述承载组件(5)包括第二电动滑轨(51)、第二滑动块(52)、放置杆(53)和L型角架(54),所述中子成像探测器(343)的上方设置有第二电动滑轨(51),所述第二电动滑轨(51)的顶端滑动连接有第二滑动块(52),所述第二滑动块(52)的内侧滑动连接有放置杆(53),所述放置杆(53)的顶端卡槽连接有L型角架(54)。
...【技术特征摘要】
1.一种中子智能无损检测诊断装置,包括主体(1)和调节机构(3),其特征在于:所述主体(1)的一侧安装有操控平台(2),所述主体(1)的内侧安装有调节机构(3);
2.根据权利要求1所述的一种中子智能无损检测诊断装置,其特征在于,所述平移组件(31)包括第一电动滑轨(311)和第一滑动块(312),所述主体(1)的内侧固定连接有第一电动滑轨(311),所述第一电动滑轨(311)的另一侧滑动连接有第一滑动块(312)。
3.根据权利要求2所述的一种中子智能无损检测诊断装置,其特征在于,所述驱动组件(32)包括固定架(321)、驱动电机(322)和驱动轴(323),所述第一滑动块(312)的另一侧固定连接有固定架(321),所述固定架(321)的一侧安装有驱动电机(322),所述驱动电机(322)的一端平键连接有驱动轴(323)。
4.根据权利要求3所述的一种中子智能无损检测诊断装置,其特征在于,所述连接组件(33)包括连接臂(331)、传动电机(332)和传动轴(333),所述驱动轴(323)的外侧固定连接有连接臂(331),所述连接臂(331)的一侧安装有传动电机(332),所述传动电机(332)的一端平键连接有传动轴(333)。<...
【专利技术属性】
技术研发人员:竹谷笃,胡斌,
申请(专利权)人:浙江致晟信息科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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