System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法技术_技高网

一种基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法技术

技术编号:44081566 阅读:4 留言:0更新日期:2025-01-17 16:15
本发明专利技术提供了一种基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,属于雷达数字以及射频信号测试领域,包括:判断所述测试方法的测试类型;根据测试类型,调取程序封装库,获得操作函数;若型号信息不存在于已有的指令封装库中,则对该型号信息的控制指令进行归一化封装处理,存在已有的指令封装库中,再进行调用,获得被测对象的指令协议;通过总线控制指令函数发送符合指令协议的测试指令,进行测试,获得初始测试信息;通过接收回调函数回传的初始测试数据进行校验。该方法可用于所有通过Aurora总线以及Rs422总线通讯的模块以及组件调试;应用相同的程序架构,可根据不同模块I CD协议扩展相应的控制字来适配被测件。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于雷达数字以及射频信号测试领域,具体涉及一种基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法


技术介绍

1、随着现代雷达技术迭代速度的提升以及大批量交付任务的提升,对现有雷达测试设备的需求也越来越高。当前测试资源有限,且大部分测试资源都是针对特定型号进行开发,集成度高,无法做到松散耦合,而雷达测试中在处理机和接收机内多个模块以及组件的通讯方式主要通过光通讯和串口通讯,同时不同型号雷达使用i cd不同,会导致面对同一测试任务需要使用不同的i cd协议,所以大部分情况下需要重新编写一套对应的调测软件以及重新定制一套专用的测试设备,这种调测技术存在如下问题:调测技术通用性差,当面对其他型号或类型的模块时,需要重新开发调测软件,通用性差;测试资源有限,若重新订购测试设备和开发对应的软件需要增加研发成本,会浪费大量的人力和物力成本;开发周期长,需要花费大量时间进行调试,专用测试设备和软件通常需要花费大量的时间在采购以及开发周期上,增加最终产品交付风险。

2、因此,需要提供一种通用测试方法来解决上述问题。


技术实现思路

1、为了解决上述问题,本专利技术的目的在于提供一种基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,以解决现有测试方法不通用的问题。

2、为了实现上述目的,本专利技术提供了如下技术方案,一种基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,所述方法包括:

3、判断所述测试方法的测试类型,获得测试类型的模块信息以及型号信息;

4、根据测试类型的模块信息,调取相应模块信息的程序封装库,获得被测对象的操作函数;

5、判断型号信息是否在已有的指令封装库中;

6、若型号信息存在于已有的指令封装库中,则直接调用指令封装库中的指令协议;若型号信息不存在于已有的指令封装库中,则对该型号信息的控制指令进行归一化封装处理,存在已有的指令封装库中,再进行调用,获得被测对象的指令协议;

7、选取操作函数对应的总线通讯方法、总线控制指令函数以及接收回调函数;

8、通过总线控制指令函数发送符合指令协议的测试指令,进行测试,获得初始测试信息;

9、通过接收回调函数回传的初始测试数据进行校验,若校验正确,则初始测试数据即为测试数据,测试完成;若校验不正确,则重新选取操作函数对应的总线通讯方法,重新进行测试。

10、本专利技术所提供的基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,还具有这样的特征,所述程序封装库根据不同的测试类型划分为不同的操作函数集,将每个操作函数集都归一化在独立的动态链接库中,在使用时根据不同模块信息调取指定的操作函数集。

11、本专利技术所提供的基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,还具有这样的特征,所述判断所述测试方法的测试类型包括通过对发送控制字的帧头进行拆包解析,获取测试类型的模块信息以及型号信息。

12、本专利技术所提供的基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,还具有这样的特征,所述模块信息包括被测对象的模块功能信息、模块的总线通讯方式信息以及模块的通讯传输速率信息。

13、本专利技术所提供的基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,还具有这样的特征,所述型号信息包括测试类型所属的雷达标准化型号代码。

14、本专利技术所提供的基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,还具有这样的特征,所述则对该型号信息的控制指令进行归一化封装处理包括:

15、判断该型号信息所属产品簇;

16、在产品簇中找到功能一致的参考模块;

17、根据参考模块的i cd指令协议设定该型号信息的i cd指令协议。

18、本专利技术所提供的基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,还具有这样的特征,所述总线通讯方法包括雷达内光通讯和串行总线通讯,

19、所述光通讯用于针对雷达内数字模块的程控,所述串行总线通讯用于射频模块的程控。

20、本专利技术所提供的基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,还具有这样的特征,所述总线控制指令函数根据雷达型号的i cd指令协议发送响应的控制指令,发送指令包括单次发送或循环发送。

21、本专利技术所提供的基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,还具有这样的特征,所述循环发送采用外部脉冲触发的方式模拟实际雷达主控工作环境进行指令发送,指令发送的时序在外部触发后延迟固定的时间间隔,所述时间间隔为外部脉冲周期的中间值。

22、本专利技术所提供的基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,还具有这样的特征,所述接收回调函数通过测量回传数据的速率判定数据是否存在丢包现象,若速率低于100m/s,则判定回传的数据存在丢包问题。

23、有益效果

24、本专利技术所提供的基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,可用于所有通过aurora总线以及rs422总线通讯的模块以及组件调试;应用相同的程序架构,可根据不同模块i cd协议扩展相应的控制字来适配被测件;良好的人机交互:界面结构清晰一致,风格统一,界面响应速度及时;优秀的数据处理能力:具备高速率下的数据本地缓存能力。

25、该专利技术提供的基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法可广泛应用于各种使用光通讯和串口通讯的雷达模块及组件调测使用,利用该系统可显著提高搭建测试系统的速度,极大缩短了测试系统的研制周期,并且成本低廉可大批量使用,具备优秀的经济价值和战略价值。

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【技术保护点】

1.一种基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,其特征在于,所述程序封装库根据不同的测试类型划分为不同的操作函数集,将每个操作函数集都归一化在独立的动态链接库中,在使用时根据不同模块信息调取指定的操作函数集。

3.根据权利要求1所述的基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,其特征在于,所述判断所述测试方法的测试类型包括通过对发送控制字的帧头进行拆包解析,获取测试类型的模块信息以及型号信息。

4.根据权利要求1所述的基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,其特征在于,所述模块信息包括被测对象的模块功能信息、模块的总线通讯方式信息以及模块的通讯传输速率信息。

5.根据权利要求1所述的基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,其特征在于,所述型号信息包括测试类型所属的雷达标准化型号代码。

6.根据权利要求1所述的基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,其特征在于,所述则对该型号信息的控制指令进行归一化封装处理包括:

>7.根据权利要求1所述的基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,其特征在于,所述总线通讯方法包括雷达内光通讯和串行总线通讯,

8.根据权利要求1所述的基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,其特征在于,所述总线控制指令函数根据雷达型号的ICD指令协议发送响应的控制指令,发送指令包括单次发送或循环发送。

9.根据权利要求8所述的基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,其特征在于,所述循环发送采用外部脉冲触发的方式模拟实际雷达主控工作环境进行指令发送,指令发送的时序在外部触发后延迟固定的时间间隔,所述时间间隔为外部脉冲周期的中间值。

10.根据权利要求1所述的基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,其特征在于,所述接收回调函数通过测量回传数据的速率判定数据是否存在丢包现象,若速率低于100M/S,则判定回传的数据存在丢包问题。

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【技术特征摘要】

1.一种基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,其特征在于,所述程序封装库根据不同的测试类型划分为不同的操作函数集,将每个操作函数集都归一化在独立的动态链接库中,在使用时根据不同模块信息调取指定的操作函数集。

3.根据权利要求1所述的基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,其特征在于,所述判断所述测试方法的测试类型包括通过对发送控制字的帧头进行拆包解析,获取测试类型的模块信息以及型号信息。

4.根据权利要求1所述的基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,其特征在于,所述模块信息包括被测对象的模块功能信息、模块的总线通讯方式信息以及模块的通讯传输速率信息。

5.根据权利要求1所述的基于归一化封装的数字射频模块通用测试方法,其特征在于,所述型号信息包括测试类型所属的雷达标准化型号代码。

6.根据权利要求1所述的基于归一化...

【专利技术属性】
技术研发人员:卢兴杰张飞唐青山
申请(专利权)人:中国航空工业集团公司雷华电子技术研究所
类型:发明
国别省市:

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