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【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电路,具体地涉及一种时钟校正方法、电路及装置。
技术介绍
1、在cmos(互补金属氧化物半导体,complementary metal oxide semiconductor)工艺中,电源与衬底的噪声耦合,pvt(工艺、电压温度)的波动以及信号的反射等非理想性均会导致时钟占空比的失真;此外,在时钟信号传输过程中,也会由于驱动器结构或尺寸不对称,对时钟信号上升沿和下降沿的影响失配,导致时钟信号经过传输后其占空比会发生失真。
2、图1是传统的时钟占空比校正电路的原理框图,其实现原理是时钟信号的占空比不同,则时钟信号的脉冲以及共模电平的大小也不同。图1所示电路可以检测和校正占空比失真和正交时钟相位失真,所述占空比失真是指期望占空比的变化,所述正交时钟相位失真是指i和q信号之间的90度差异的变化。图1中,失真检测模块11对输出时钟进行失真检测,输出误差指示信号dcd_cmpr至时钟校正模块14,时钟校正模块14根据误差指示信号dcd_cmpr,利用相应的校正逻辑生成占空比失真校正反馈信号和正交时钟校正反馈信号,将两信号分别传输至占空比校正模块12和正交时钟误差校正模块13,使两模块各自根据反馈信号对输入时钟信号进行占空比校正和相位校正。
3、该时钟占空比校正电路可采用数字和模拟两种方式实现,用数字方式实现该电路,虽然可以快速进行校正,但这种方法会增加抖动,降低模数转换器(analogto digitalconverter,adc)的精度,需要使用较大的芯片面积,功耗很大,而且电路相当复杂。因此,数字
4、此外,随着通信技术的飞速发展,多通道的应用导致需要同一芯片时钟占空比失真的场景变多,为了节省芯片面积,一般会多路复用时钟占空比校正中的数字电路,通常采用以下几种方式:
5、1)根据反馈偏移量固定累加或累减校正值。采用这种方式,若校正范围较大或者校正精度高,偏移量小,会造成收敛时间过长。
6、2)采用粗调和精调结合校正方式增大校正范围。这种方式中,精调电路和粗调电路同时使用,既增大了芯片面积,同时还会引入失配问题。
7、3)在时钟校正的多路复用中仅校正固定偏移(offset)后恢复初始值,前一次的校正与后一次的校正关系不大,对于同一芯片上同源时钟来说,复用的校正模块资源利用率不高。
8、不论上述哪种方式,多通道多场景的重复复用意味着锁定时间的累加,必然导致整体芯片时钟占空比校正的时间变长。
技术实现思路
1、本专利技术实施例提供一种时钟校正方法、电路及装置,以加快时钟校正的锁定进程,提高时钟校正效率,节省硬件资源。
2、为此,本专利技术实施例提供如下技术方案:
3、一方面,本专利技术实施例提供一种时钟校正方法,所述方法包括:
4、根据失真偏移量和查找表对时钟进行多轮校正,直至校正参数达到锁定目标值后校正结束,所述查找表用于指示电压、温度与标定校正参数的对应关系;
5、在校正结束后,利用所述锁定目标值和所述查找表中对应的标定校正参数确定下一轮校正的校正参数初始值和调整步长初始值,并将所述校正参数初始值和所述调整步长初始值写入所述查找表中。
6、可选地,所述校正参数包括:占空比校正参数和相位校正参数。
7、可选地,所述根据所述失真偏移量和查找表对时钟进行多轮校正,直至校正参数达到锁定目标值后校正结束包括:
8、确定本轮校正的校正参数初始值及调整步长初始值;
9、采样时钟信号检测得到的失真偏移量;
10、按照设定规则调整所述校正参数和/或所述调整步长,直至根据所述失真偏移量确定本轮校正结束。
11、可选地,所述方法还包括:
12、设定对应不同差值的调整步长,所述差值是指当前校正参数与所述标定校正参数的差值;
13、所述确定本轮校正的校正参数初始值及调整步长初始值包括:
14、如果本轮校正是初始校正,则由用户设定本轮校正参数初始值或者使用默认值,并将调整步长设定为最大调整步长;
15、如果本轮校正不是初始校正,则从所述查找表中获取校正参数初始值和调整步长初始值。
16、可选地,所述利用所述锁定目标值和所述查找表中对应的标定校正参数确定下一轮校正的校正参数初始值和调整步长初始值包括:
17、将所述锁定目标值和所述查找表中对应的标定校正参数的均值作为下一轮校正的校正参数初始值;
18、根据上一轮校正锁定的目标值与对应的标定校正参数的差值确定下一轮校正的调整步长的初始值。
19、可选地,所述按照设定规则调整所述校正参数和/或所述调整步长,直至根据所述失真偏移量确定本轮校正结束包括:
20、按照调整步长由大到小的方式,依次按照设定步长增大或减小本轮的校正参数,直至每次检测到所述失真偏移量的跳变沿;
21、在所述调整步长减小到最小单位,并且检测到所述失真偏移量的跳变沿后,确定本轮校正结束。
22、可选地,所述方法还包括:通过仿真建立所述查找表。
23、另一方面,本专利技术实施例还提供一种时钟校正电路,所述电路包括:
24、查找表模块,用于存储查找表,所述查找表用于指示电压、温度与标定校正参数的对应关系;
25、逻辑控制模块,用于根据失真偏移量和查找表对时钟进行多轮校正,直至校正参数达到锁定目标值后校正结束;
26、查找表更新模块,用于在校正结束后,利用所述锁定目标值和所述查找表中对应的标定校正参数确定下一轮校正的校正参数初始值和调整步长初始值,并将所述校正参数初始值和所述调整步长初始值写入所述查找表中。
27、可选地,所述逻辑控制模块包括:
28、初始值确定单元,用于确定本轮校正参数初始值及调整步长初始值;
29、采样单元,用于采样时钟信号检测得到的失真偏移量;
30、参数调整单元,用于按照设定规则调整所述校正参数和/或所述调整步长,直至根据所述失真偏移量确定本轮校正结束。
31、可选地,所述初始值确定单元,具体用于在本轮校正是初始校正时,由用户设定本轮校正参数初始值或者使用默认值,并将调整步长设定为最大调整步长;在本轮校正不是初始校正时,从所述查找表中获取校正参数初始值。
32、可选地,所述时钟包括多路;所述电路还包括:状态机,用于依次选择待校准的一路时钟。
33、另一方面,本专利技术实施例还提供一种时钟校正装置,所述装置包括:占空比失真补偿电路、相位校正电路、失真检测电路、以及前面所述的时钟校正电路;
34、所述占空比失真补偿电路,用于根据所述时钟校正电路输出本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种时钟校正方法,其特征在于,所述方法包括:
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述校正参数包括:占空比校正参数和相位校正参数。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述失真偏移量和查找表对时钟进行多轮校正,直至校正参数达到锁定目标值后校正结束包括:
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用所述锁定目标值和所述查找表中对应的标定校正参数确定下一轮校正的校正参数初始值和调整步长初始值包括:
6.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述按照设定规则调整所述校正参数和/或所述调整步长,直至根据所述失真偏移量确定本轮校正结束包括:
7.根据权利要求1至6任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
8.一种时钟校正电路,其特征于,所述电路包括:
9.根据权利要求8所述的电路,其特征在于,所述逻辑控制模块包括:
10.根据权利要求9所述的电路,其特征在于,
11.根据权利要
12.一种时钟校正装置,其特征于,所述装置包括:占空比失真补偿电路、相位校正电路、失真检测电路、以及如权利要求8至11任一项所述的时钟校正电路;
...【技术特征摘要】
1.一种时钟校正方法,其特征在于,所述方法包括:
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述校正参数包括:占空比校正参数和相位校正参数。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述失真偏移量和查找表对时钟进行多轮校正,直至校正参数达到锁定目标值后校正结束包括:
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用所述锁定目标值和所述查找表中对应的标定校正参数确定下一轮校正的校正参数初始值和调整步长初始值包括:
6.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述按照设定规则调整所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄飘,徐烈伟,俞剑,陈宁,
申请(专利权)人:上海复旦微电子集团股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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