【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及显示，特别涉及一种amoled面板的demura补偿数据生成方法及相关设备。
技术介绍
1、有源矩阵有机发光二极管(amoled，active-matrix organic light emittingdiode)是一种主动发光式新型显示技术，具有响应速度快、显示色域广、对比度高、动态功耗低和视角范围广等优点。然而，amoled面板由于材料与工艺等原因，例如，薄膜场效应晶体管(tft，thin filmtransistor)形成的寄生电容，不同位置tft在阈值电压、迁移率等电学参数上具有非均匀性，导致amoled面板容易出现亮度不均匀的缺陷，被称为mura现象/效应。mura本来是指显示面板的亮度不均匀性，后来被扩展至任何人眼可以察觉到的亮度和颜色差异。由于mura效应会影响用户的视觉体验，需要对其进行消除，即demura，否则面板无法达到终端客户的规格要求，只能降低产品等级或者报废处理。
2、amoled面板需要通过各种补偿技术，以消除横纹、斑块、偏色等不良现象，解决面板显示的色度/亮度不均问题，提升面板的生产良率。amoled面板是电流驱动的，像素电路的显示亮度与电流成正比，而电流是由tft提供的，与tft的各类特性参数有关。影响电流大小的参数包括tft迁移率、阈值电压、amoled驱动电压和电源电压等。依据原理的不同，amoled的补偿分为两类：内部补偿和外部补偿。其中，内部补偿是指通过改进像素电路，从早期的2t1c tft结构发展到7t2c的复杂结构。显然，该内部补偿方式增加了电路设计的复杂度，
技术实现思路
1、本专利技术提供了一种amoled面板的demura补偿数据生成方法及相关设备，其目的是为了解决amoled面板显示的色度/亮度不均问题，提升生产良率。
2、为了达到上述目的，本专利技术提供了一种amoled面板的demura补偿数据生成方法，包括：
3、步骤1，在多级典型显示亮度值和多级典型刷新率下分别采集目标amoled显示面板上的各像素位置在输入多级典型灰阶时对应的亮度数据；
4、步骤2，根据亮度数据与各级典型灰阶的映射关系，构建目标amoled显示面板上各像素位置的亮度-灰阶映射模型，亮度-灰阶映射模型用于表征各像素位置的亮度数据与典型灰阶的对应关系；
5、步骤3，对亮度数据进行统计，得到目标amoled显示面板在输入各级典型灰阶时的亮度均值，并将亮度均值作为标准亮度；
6、步骤4，针对每个亮度-灰阶映射模型，将目标amoled显示面板在各级典型灰阶下的标准亮度导入亮度-灰阶映射模型，得到各像素位置的实际期望灰阶；
7、步骤5，针对每个像素位置，求解实际期望灰阶与输入的典型灰阶的差值，得到每个像素位置的灰阶补偿值；
8、步骤6，基于每个像素位置的灰阶补偿值构建补偿查找表，并在非典型显示亮度值、非典型刷新率、非典型灰阶下对补偿查找表进行插值拟合，得到每个像素位置在全显示亮度值、全刷新率、全灰阶下的补偿查找表，补偿查找表包括所有像素位置的灰阶补偿值，用于对各像素位置的灰阶进行补偿。
9、进一步来说，在步骤1之前，还包括：
10、对目标amoled显示面板的各像素位置进行位置标定，确定目标amoled显示面板上各像素的位置分布；
11、选择目标显示亮度值和目标刷新率作为目标amoled显示面板的标准显示亮度值和标准刷新率；
12、将标准显示亮度值和标准刷新率作为初始参数对目标amoled显示面板进行参数设置，得到参数设置后的目标amoled显示面板。
13、进一步来说，步骤1包括：
14、对参数设置后的目标amoled显示面板的像素电路进行测试，仿真生成一组rgbw的九级典型灰阶样本；
15、通过显示驱动芯片依次将每级典型灰阶样本烧写至参数设置后的目标amoled显示面板进行显示；
16、利用亮度采集设备在多级典型显示亮度值和多级典型刷新率下，采集目标amoled显示面板上的各像素位置在多级典型灰阶时对应的亮度数据。
17、进一步来说，步骤2包括；
18、将亮度数据划分为若干个像素分布区域，将亮度数据反向建立若干个像素位置的亮度-灰阶映射数据，像素位置与像素分布区域一一对应，亮度-灰阶映射数据包括每个像素位置的亮度数据以及与每个像素位置的亮度数据对应的典型灰阶；
19、结合亮度数据的伽马特性，将亮度-灰阶映射数据进行对数化，得到对数化后的亮度数据和对数化后的灰阶数据；
20、以对数化后的亮度数据作为输入，对数化后的灰阶数据作为输出，进行多次最小二乘多项式拟合，得到目标amoled显示面板上各像素位置的亮度-灰阶映射模型。
21、进一步来说，亮度-灰阶映射模型为：
22、
23、其中，gl表示对数化后的灰阶数据，l表示对数化后的亮度数据，k表示各阶多项式系数，(i,j)表示像素位置索引，k的下标表示多项式阶数。
24、进一步来说，对各像素位置的灰阶进行补偿，包括：
25、当像素位置在输入灰阶时的实际亮度大于标准亮度时，通过补偿查找表对该像素位置的输入灰阶进行负补偿，以降低该像素位置的亮度至标准亮度；
26、当像素位置在输入灰阶时的实际亮度小于标准亮度时，通过补偿查找表对该像素位置输入灰阶进行正补偿，以增加该像素位置的亮度至标准亮度。
27、本专利技术还提供了一种demura补偿数据生成装置，包括：
28、采集模块，用于在多级典型显示亮度值和多级典型刷新率下分别采集目标amoled显示面板上的各像素位置在输入多级典型灰阶时对应的亮度数据；
29、第一构建模块，用于根据亮度数据与各级典型灰阶的映射关系，构建目标amoled显示面板上各像素位置的亮度-灰阶映射模型，亮度-灰阶映射模型用于表征各像素位置的亮度数据与典型灰阶的对应关系；
30、统计模块，用于对亮度数据进行统计，得到目标amoled显示面板在输入各级典型灰阶时的亮度均值，并将亮度均值作为标准亮度；
31、导入模块，用于针对每个亮度-灰阶映射模型，将目标amoled显示面板在各级典型灰阶下的标准亮度导入亮度-灰阶映射模型，得到各像素位置的实际期望灰阶；
32、求解模块，用于针对每个像素位置，求解实际期望灰阶与输入的典型灰阶的差值，得到每个像素位置的灰阶补偿值；
33、第二构建模块，用于基于每个像素位置的灰阶补偿值构建补偿查找表，并在非典型显示亮度值、非典型刷新率、非典型灰阶下对补偿查找表进行插值拟合，得到目标amo本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种AMOLED面板的Demura补偿数据生成方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的AMOLED面板的Demura补偿数据生成方法，其特征在于，在所述步骤1之前，还包括：
3.根据权利要求2所述AMOLED面板的Demura补偿数据生成方法，其特征在于，所述步骤1包括：
4.根据权利要求3所述的AMOLED面板的Demura补偿数据生成方法，其特征在于，所述步骤2包括；
5.根据权利要求4所述的AMOLED面板的Demura补偿数据生成方法，其特征在于，所述亮度-灰阶映射模型为：
6.根据权利要求5所述的AMOLED面板的Demura补偿数据生成方法，其特征在于，对各像素位置的灰阶进行补偿，包括：
7.一种Demura补偿数据生成装置，其特征在于，包括：
8.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述的AMOLED面板的Demura补偿数据生成方法。
9.一种终端设备，包括存储器
...【技术特征摘要】
1.一种amoled面板的demura补偿数据生成方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的amoled面板的demura补偿数据生成方法，其特征在于，在所述步骤1之前，还包括：
3.根据权利要求2所述amoled面板的demura补偿数据生成方法，其特征在于，所述步骤1包括：
4.根据权利要求3所述的amoled面板的demura补偿数据生成方法，其特征在于，所述步骤2包括；
5.根据权利要求4所述的amoled面板的demura补偿数据生成方法，其特征在于，所述亮度-灰阶映射模型为：
6.根据权利要求5所述的amo...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡小江，梁丕树，黄海鸥，李江城，
申请(专利权)人：深圳市爱协生科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。