一种参比电极校准箱制造技术

技术编号:44034065 阅读:7 留言:0更新日期:2025-01-15 01:13
本技术涉及参比电极校准技术领域,尤其涉及一种参比电极校准箱,包括下桶体和用于封盖下桶体的顶端开口的上盖体,所述上盖体内设有电压比较器芯片和电源;所述上盖体的上端面上设有显示器,所述上盖体的底部设有基准参比电极,所述上盖体上设有校准通道,所述电压比较器芯片分别与显示器以及基准参比电极电连接,所述上盖体上设有与电压比较器芯片电连接的连接触点。本技术结构简单,当需要对参比电极进行校验时,只需要从待校验参比电极从校准通道且底端插入饱和硫酸铜溶液内,并将待校验参比电极与连接触电电连接,通过电压比较器芯片比较待校验参比电极和基准参比电极的电压差,从而实现对待校验参比电极的校验,操作方便,且便于携带。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及参比电极校准,尤其涉及一种参比电极校准箱


技术介绍

1、目前,石油输送管道采用阴极保护技术来防止管道发生腐蚀。在阴保参数测试时,便携式参比电极是不可或缺得,在使用过程中,由于使用频繁以及受环境的影响,同时在参比电极安装以及拆卸过程中也可能会导致设备损坏,按照阴极保护技术的要求,技术员需要定期对参比电极进行校准,以确保系统正常运行。


技术实现思路

1、本技术所要解决的技术问题是提供一种参比电极校准箱,结构简单,操作方便,便于携带。

2、本技术解决上述技术问题的技术方案如下:一种参比电极校准箱,包括下桶体和用于封盖所述下桶体的顶端开口的上盖体,所述下桶体内填充有饱和硫酸铜溶液,所述上盖体内设有电压比较器芯片和电源,所述电源与所述电压比较器芯片电连接用于向所述电压比较器芯片供电;所述上盖体的上端面上设有显示器,所述上盖体的底部设有用于插入所述下桶体内腔底部的基准参比电极,所述上盖体上设有贯穿所述上盖体用于将校准参比电极插入所述下桶体的内腔下部的校准通道,所述电压比较器芯片分别与所述显示器以及所述基准参比电极电连接,所述上盖体上设有与所述电压比较器芯片电连接的连接触点。

3、本技术的有益效果是:本技术结构简单,当需要对参比电极进行校验时,只需要从待校验参比电极从校准通道且底端插入饱和硫酸铜溶液内,并将待校验参比电极与连接触电电连接,通过电压比较器芯片比较待校验参比电极和基准参比电极的电压差,从而检测待校验参比电极是否符合要求,从而实现对待校验参比电极的校验,操作方便,且便于携带。

4、在上述技术方案的基础上,本技术还可以做如下改进。

5、进一步,所述上盖体的底端设有安装槽,所述电压比较器芯片和所述电源均设在所述安装槽内,所述安装槽的槽口设有用于封盖所述安装槽的底板,所述基准参比电极固定在所述底板上,所述校准通道贯穿所述底板。

6、采用上述进一步方案的有益效果是:设置安装槽,并且通过底板对安装槽进行封盖,一方面便于电压比较器芯片和电源的安装,另一方面,将电压比较器芯片和电源与饱和硫酸铜溶液进行隔离,提高安全性。

7、进一步,所述上盖体上固定设有底端插入所述下桶体的内腔下部的校准筒,所述上盖体的顶部设有与所述校准筒的顶端连通的校准口,所述校准筒的内腔形成所述校准通道。

8、采用上述进一步方案的有益效果是:通过设置校准筒,能便于待校验参比电极插入到饱和硫酸铜溶液中,同时能避免将校验后的参比电极取出时带出的饱和硫酸铜溶液污染电路造成短路危险。

9、进一步,所述校准口处设有连接筒,所述连接筒的底端与所述校准筒的顶端连通。

10、进一步,所述连接筒的下部与所述校准筒的上部连接,所述连接筒的外壁上设有第一限位凸环,所述第一限位凸环抵压在所述上盖体的上端面,所述校准筒的外壁上设有第二限位凸环,所述第二限位凸环抵压所述上盖体的下端面。

11、采用上述进一步方案的有益效果是:通过连接筒和校准筒进行连接,然后通过第一限位凸环和第二限位凸环进行限位,方便连接筒和校准筒的安装。

12、进一步,所述连接筒的材料为铜,所述连接触点设在所述连接筒上。

13、采用上述进一步方案的有益效果是:连接筒采用铜材质制成作为连接触点,将电压比较器芯片与连接筒电路连接,在使用时,待校验参比电极置于校准通道后,将待校验参比电极与连接筒进行电连接。

14、进一步,所述连接筒与所述校准筒卡接或通过螺纹连接。

15、采用上述进一步方案的有益效果是:安装拆卸方便。

16、进一步,所述连接筒上螺纹连接有用于封盖所述连接筒的盖帽。

17、采用上述进一步方案的有益效果是:盖帽的设置能在不使用时避免杂物进入到下桶体内对饱和硫酸铜溶液造成污染。

18、进一步,所述下桶体与所述上盖体螺纹连接。

19、采用上述进一步方案的有益效果是:方便下筒体和上盖体的安装拆卸。

20、进一步,所述上盖体的上端面上设有用于连通或断开所述电压比较器芯片和所述电源的开关按钮。

21、采用上述进一步方案的有益效果是:开关按钮的设置能在不使用时断开电源,节省电量。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种参比电极校准箱,其特征在于,包括下桶体(1)和用于封盖所述下桶体(1)的顶端开口的上盖体(2),所述下桶体(1)内填充有饱和硫酸铜溶液,所述上盖体(2)内设有电压比较器芯片(3)和电源(4),所述电源(4)与所述电压比较器芯片(3)电连接用于向所述电压比较器芯片(3)供电;所述上盖体(2)的上端面上设有显示器(5),所述上盖体(2)的底部设有用于插入所述下桶体(1)内腔底部的基准参比电极(6),所述上盖体(2)上设有贯穿所述上盖体(2)用于将校准参比电极插入所述下桶体(1)的内腔下部的校准通道,所述电压比较器芯片(3)分别与所述显示器(5)以及所述基准参比电极(6)电连接,所述上盖体(2)上设有与所述电压比较器芯片(3)电连接的连接触点。

2.根据权利要求1所述的一种参比电极校准箱,其特征在于,所述上盖体(2)的底端设有安装槽(7),所述电压比较器芯片(3)和所述电源(4)均设在所述安装槽(7)内,所述安装槽(7)的槽口设有用于封盖所述安装槽(7)的底板(8),所述基准参比电极(6)固定在所述底板(8)上,所述校准通道贯穿所述底板(8)。

3.根据权利要求1所述的一种参比电极校准箱,其特征在于,所述上盖体(2)上固定设有底端插入所述下桶体(1)的内腔下部的校准筒(9),所述上盖体(2)的顶部设有与所述校准筒(9)的顶端连通的校准口,所述校准筒(9)的内腔形成所述校准通道。

4.根据权利要求3所述的一种参比电极校准箱,其特征在于,所述校准口处设有连接筒(10),所述连接筒(10)的底端与所述校准筒(9)的顶端连通。

5.根据权利要求4所述的一种参比电极校准箱,其特征在于,所述连接筒(10)的下部与所述校准筒(9)的上部连接,所述连接筒(10)的外壁上设有第一限位凸环(11),所述第一限位凸环(11)抵压在所述上盖体(2)的上端面,所述校准筒(9)的外壁上设有第二限位凸环(12),所述第二限位凸环(12)抵压所述上盖体(2)的下端面。

6.根据权利要求4或5所述的一种参比电极校准箱,其特征在于,所述连接筒(10)的材料为铜,所述连接触点设在所述连接筒(10)上。

7.根据权利要求4或5所述的一种参比电极校准箱,其特征在于,所述连接筒(10)与所述校准筒(9)卡接或通过螺纹连接。

8.根据权利要求4或5所述的一种参比电极校准箱,其特征在于,所述连接筒(10)上螺纹连接有用于封盖所述连接筒(10)的盖帽(13)。

9.根据权利要求1至5任一项所述的一种参比电极校准箱,其特征在于,所述下桶体(1)与所述上盖体(2)螺纹连接。

10.根据权利要求1至5任一项所述的一种参比电极校准箱,其特征在于,所述上盖体(2)的上端面上设有用于连通或断开所述电压比较器芯片(3)和所述电源(4)的开关按钮(14)。

...

【技术特征摘要】

1.一种参比电极校准箱,其特征在于,包括下桶体(1)和用于封盖所述下桶体(1)的顶端开口的上盖体(2),所述下桶体(1)内填充有饱和硫酸铜溶液,所述上盖体(2)内设有电压比较器芯片(3)和电源(4),所述电源(4)与所述电压比较器芯片(3)电连接用于向所述电压比较器芯片(3)供电;所述上盖体(2)的上端面上设有显示器(5),所述上盖体(2)的底部设有用于插入所述下桶体(1)内腔底部的基准参比电极(6),所述上盖体(2)上设有贯穿所述上盖体(2)用于将校准参比电极插入所述下桶体(1)的内腔下部的校准通道,所述电压比较器芯片(3)分别与所述显示器(5)以及所述基准参比电极(6)电连接,所述上盖体(2)上设有与所述电压比较器芯片(3)电连接的连接触点。

2.根据权利要求1所述的一种参比电极校准箱,其特征在于,所述上盖体(2)的底端设有安装槽(7),所述电压比较器芯片(3)和所述电源(4)均设在所述安装槽(7)内,所述安装槽(7)的槽口设有用于封盖所述安装槽(7)的底板(8),所述基准参比电极(6)固定在所述底板(8)上,所述校准通道贯穿所述底板(8)。

3.根据权利要求1所述的一种参比电极校准箱,其特征在于,所述上盖体(2)上固定设有底端插入所述下桶体(1)的内腔下部的校准筒(9),所述上盖体(2)的顶部设有与所述校准筒(9)的顶端连通的校准口,所述校准筒(9)的内腔形成所述校准通道。...

【专利技术属性】
技术研发人员:张东李振军王训禄于洋闾宏为邓宵王莉
申请(专利权)人:国家石油天然气管网集团有限公司
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1