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在清洁机器中利用SWIR感测的系统和方法技术方案

技术编号:44022047 阅读:15 留言:0更新日期:2025-01-15 01:05
一种用于在自动清洁机器中利用SWIR感测的系统和方法,包括:第一照射源,其用于朝向FOV发射SWIR中的第一波长的辐射;接收器,其在SWIR中操作,以基于从位于FOV中的元件反射的辐射来获取SWIR图像数据,并且基于SWIR图像数据来确定FOV中水基液体的存在。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本公开总体上涉及清洁机器。更具体地,本公开涉及具有短程红外(swir:shortrange infra-red)感测能力的自动清洁机器。


技术介绍

1、自主或半自主清洁机器(诸如机器人设备)通常用在家庭环境、公共环境和工业环境中。这样的自主或半自主设备可以包括真空吸尘器、割草机、扫地机器人、地板清洗机、窗户清洗机和其它设备。

2、近来,自主清洁机器或机器人清洁机器、特别是吸尘器和地板清洁机器领域发展迅速,其主要目标是在清洁地板和/或地毯时自主地导航用户的家。为了在导航区域的同时自主地或以最小的外部控制来工作,自主设备通常可以利用映射、定位、物体识别和路径规划方法。所利用的一些方法可以包括能够拍摄周围区域的静止或运动图像的视觉系统。然而,这类系统可能会受到光线不足和所拍摄图像质量差的影响,并且在识别特定障碍物或情况(诸如地板上飞溅的液体)时可能会遇到很大问题。需要改进方法和系统,以克服使用在可见光谱下运行的传统视觉系统的常见自动清洁机器的缺点。


技术实现思路

1、一些实施例可以包括用于在自动清洁中利用swir感测的自动清洁系统和方法。该系统可以包括:第一照射源,用于朝向视场(fov:field of view)发射swir中的第一波长的辐射;接收器,在swir中操作以基于从位于fov中的元件反射的辐射来获取swir图像数据,并且基于swir图像数据来确定fov中水基液体的存在。

2、一些实施例可以包括第二照射源,用于朝向fov内的目标发射swir中的第二波长的辐射,并且基于目标在第一波长下的吸收和目标在第二波长下的吸收来确定目标的光谱特性。

3、根据本公开的一些实施例,第二照射源可以通过朝向包括在第一fov中的第二fov发射swir中的第二波长的辐射来朝向目标发射辐射。

4、根据本公开的一些实施例,第二照射源可包括低功率照射源。

5、根据本公开的一些实施例,接收器可包括一个或多个锗(ge)光电二极管(pd:photodiode)。

6、根据本公开的一些实施例,第一照射源可以包括激光源。

7、根据本公开的一些实施例,第一波长可以在1300nm-1400nm之间。

8、根据本公开的一些实施例,第二照射源可包括发光二极管(led:light emittingdiode)。

9、根据本公开的一些实施例,第二波长在800nm-1000nm之间。

10、一些实施例可以包括第三照射源,用于朝向fov内的目标发射swir中的第三波长的辐射,并且基于目标在第一波长下的吸收、目标在第二波长下的吸收和目标在第三波长下的吸收来确定目标的光谱特性。

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【技术保护点】

1.一种自动清洁系统,包括:

2.根据权利要求1所述的自动清洁系统,进一步包括:

3.根据权利要求2所述的自动清洁系统,其中,所述第二照射源通过朝向包括在所述第一FOV中的第二FOV发射所述SWIR中的所述第二波长的辐射来朝向所述目标发射辐射。

4.根据权利要求2所述的自动清洁系统,其中,所述第二照射源包括低功率照射源。

5.根据权利要求1所述的自动清洁系统,其中,所述接收器包括一个或多个锗(Ge)光电二极管(PD)。

6.根据权利要求1所述的自动清洁系统,其中,所述第一照射源包括激光源。

7.根据权利要求1所述的自动清洁系统,其中,所述第一波长在1300nm-1400nm之间。

8.根据权利要求1所述的自动清洁系统,其中,所述第二照射源包括发光二极管(LED)。

9.根据权利要求1所述的自动清洁系统,其中,所述第二波长在800nm-1000nm之间。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的自动清洁系统,还包括:

11.一种在自动清洁系统中使用短波红外范围(SWIR)视觉系统的方法,所述方法包括:

12.根据权利要求11所述的方法,进一步包括:

13.根据权利要求12所述的方法,其中,朝向所述FOV内的目标发射所述SWIR中的第二波长的辐射包括朝向包括在所述第一FOV中的第二FOV发射所述SWIR中的所述第二波长的辐射。

14.根据权利要求12所述的方法,其中,所述第二照射源包括低功率照射源。

15.根据权利要求11所述的方法,其中,所述接收器包括一个或多个锗(Ge)光电二极管(PD)。

16.根据权利要求11所述的方法,其中,所述第一照射源包括激光源。

17.根据权利要求11所述的方法,其中,所述第一波长在1300nm-1400nm之间。

18.根据权利要求12所述的方法,其中,所述第二照射源包括发光二极管(LED)。

19.根据权利要求12所述的方法,其中所述第二波长在800nm-1000nm之间。

20.根据权利要求11至19中任一项所述的方法,进一步包括:

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【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种自动清洁系统,包括:

2.根据权利要求1所述的自动清洁系统,进一步包括:

3.根据权利要求2所述的自动清洁系统,其中,所述第二照射源通过朝向包括在所述第一fov中的第二fov发射所述swir中的所述第二波长的辐射来朝向所述目标发射辐射。

4.根据权利要求2所述的自动清洁系统,其中,所述第二照射源包括低功率照射源。

5.根据权利要求1所述的自动清洁系统,其中,所述接收器包括一个或多个锗(ge)光电二极管(pd)。

6.根据权利要求1所述的自动清洁系统,其中,所述第一照射源包括激光源。

7.根据权利要求1所述的自动清洁系统,其中,所述第一波长在1300nm-1400nm之间。

8.根据权利要求1所述的自动清洁系统,其中,所述第二照射源包括发光二极管(led)。

9.根据权利要求1所述的自动清洁系统,其中,所述第二波长在800nm-1000nm之间。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的自动清洁系统,还包括:

11.一种在自...

【专利技术属性】
技术研发人员:丹·库兹敏乌拉罕·巴卡尔乌利尔·利维俄梅尔·卡帕奇
申请(专利权)人:趣眼有限公司
类型:发明
国别省市:

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