【技术实现步骤摘要】
本申请涉及图像数据处理，尤其涉及一种覆铜板过程的缺陷检测方法。
技术介绍
1、覆铜板主要用于印刷电路板的制造，覆铜板上的铜箔所形成的铜层可以作为电路的导体，通过对覆铜板的蚀刻可以在覆铜板的表面形成用于导通各种电子元件以形成电路的导电路径，这些导电路径可以是信号线路、电源线路或地线。
2、覆铜板在存储时若长时间暴露在潮湿环境中，潮湿环境的空气会与铜发生化学反应，在覆铜板的表面形成锈迹，覆铜板中存在锈迹的部分会影响后续的蚀刻过程所形成的导电路径的导电性能，因此，有必要对未经蚀刻的覆铜板进行表面锈迹缺陷的检测。
3、为了便于实现对表面为铜的产品的表面锈迹缺陷的检测，在公开号为cn118135328a的中国专利申请文件中，提供了一种用于铜板带缺陷图像的智能分割系统，包括：数据采集模块：获取包含正常铜板带图像和带缺陷图像的数据集；构建正常图像数据集；将缺陷样本数据分类为气孔缺陷、裂纹缺陷、变形缺陷和氧化锈蚀缺陷的样本数据集；数据补充模块：用于通过对抗网络生成样本数据集的样本数据；图像重构模块：用于将样本数据与正常图像进行图像重构，将正常图像数据集中的图像进行图像融合；缺陷判定模块：用于通过训练后的深度学习网络模型判定实时的铜板带图像数据的缺陷；缺陷分割模块：根据模型构建模块输出图像缺陷。
4、在相关技术中主要通过采集待测产品的大量表面图像样本，通过具有多样化的表面图像样本所训练出的缺陷分割模型实现对缺陷区域的分割，然而，采集覆铜板的表面多样化的锈迹图像的难度较大，使得对未经蚀刻的覆铜板的表面锈迹进行检测
技术实现思路
1、为克服相关技术中对未经蚀刻的覆铜板的表面锈迹进行检测的难度较大的问题，本申请提供一种覆铜板过程的缺陷检测方法，包括：
2、获取待检测的覆铜板的表面灰度图像，并对表面灰度图像进行分块处理获得多个图像块，以确定多个图像块中目标图像块的灰度差异值；所述灰度差异值用于表征目标图像块中像素点在灰度值上的差异程度；确定目标图像块的梯度方向差异值，所述梯度方向差异值用于表征目标图像块的梯度向量与目标图像块中像素点的梯度向量之间的差异程度；将目标图像块的灰度差异值以及梯度方向差异值的乘积，作为目标图像块中像素点的第一参数值；确定表面灰度图像中目标像素点的第二参数值，norm为归一化处理函数，m为目标像素点的邻域内其他像素点的数量，t为目标像素点的第一参数值，h为表面灰度图像中所有像素点的第一参数值的平均值，为目标像素点的邻域内第q个其他像素点的第一参数值；根据表面灰度图像中像素点的第二参数值，获得表面灰度图像中锈迹所在的锈迹区域图像。
3、这样，在目标图像中像素点的像素值等于待检测的覆铜板的表面灰度图像中像素点的灰度值与第二参数值的乘积，覆铜板的表面锈迹在锈迹表面灰度图像中的灰度值以及第二参数值更高，因此，目标图像中能够提高锈迹的像素点以及锈迹以外的其他像素点之间的对比度，对目标图像进行阈值分割能够获得更为准确地锈迹区域图像，且锈迹区域图像是根据覆铜板中锈迹的特征进行提取的，相较于针对覆铜板采集大量且多样化的锈迹样本图像，降低了对未经蚀刻的覆铜板进行锈迹检测的难度。
4、目标像素点的第二参数值是将目标像素点与其他像素点的第一参数值进行比较后获得的，第一参数值能够将像素点的梯度方向变化以及灰度值特征相结合，通过第一参数值能够扩大表面灰度图像中锈迹的像素点以及覆铜板本身的像素点之间的差异，相较于仅通过灰度值进行像素点之间的比较，表面灰度图像中锈迹对应的像素点的第一参数值与覆铜板本身的像素点的第一参数值之间存在更大区别，能够更为准确地确定出覆铜板中所存在的锈迹，从而减少覆铜板中可能存在的锈迹所造成的影响。
5、可选的，目标图像块的梯度方向差异值通过以下方式进行确定：，其中，m为目标图像块的梯度方向差异值，n为图像块中像素点的数量，为目标图像块中第j个像素点的梯度向量，为目标图像块的梯度向量，为向量的范数。
6、这样，通过将目标图像块的梯度向量以及目标图像块中像素点的梯度向量进行比较，所获得的梯度方向差异值能够较好地表征目标图像块的梯度向量与目标图像块中像素点的梯度向量之间的差异程度，以便根据梯度方向差异值确定出表面灰度图像中的锈迹区域。
7、可选的，目标图像块的梯度向量通过以下方式进行确定：确定目标图像块中像素点的梯度向量，并对目标图像块中的所有像素点的梯度向量进行主成分分析，将主成分分析后所获得的向量，作为目标图像块的梯度向量。
8、这样，通过对目标图像块中的所有像素点的梯度向量进行主成分分析，所获得的目标图像块的梯度向量能够较好地代表目标图像块中像素点的梯度方向，使得通过所获得的目标图像块的梯度向量，能够便于与目标图像块中像素点的梯度向量进行比较。
9、可选的，目标图像块的梯度向量通过以下方式进行确定：确定目标图像块中像素点的梯度方向，并对目标图像块中所有像素点的梯度方向进行统计获得梯度方向直方图；将梯度方向直方图中频数最高的梯度方向作为目标梯度方向，将目标梯度方向上长度等于预设长度的向量，作为目标图像块的梯度向量。
10、可选的，目标图像块的灰度差异值通过以下方式进行确定：，p为目标图像块的灰度差异值，e为目标图像块的平均灰度值，n为目标图像块中像素点的数量，为目标图像块中第j个像素点的灰度值，d为目标图像块中像素点的灰度值的中位数。
11、这样，由于包含锈迹的图像块以及不包含锈迹的图像块内像素点的灰度差异情况以及平均灰度值是不同的，使得包含锈迹的图像块以及不包含锈迹的图像块的灰度差异值是不同的，因此，通过所获得的灰度差异值，能够便于实现对存在锈迹的图像块以及不存在锈迹的图像块之间的区分。
12、可选的，根据表面灰度图像中像素点的第二参数值，获得表面灰度图像中锈迹所在的锈迹区域图像，包括：将表面灰度图像中像素点的灰度值与所对应的第二参数值的比值，作为目标图像中像素点的像素值，以将表面灰度图像映射为目标图像；对目标图像进行阈值分割获得锈迹区域图像。
13、这样，相较于表面灰度图像，在目标图像中第二参数值更大的像素点的像素值与第二参数值更小的像素点的像素值之间的差异被放大；在所获得的目标图像中，提高了属于锈迹更高的像素点与属于锈迹更低的像素点之间的对比度，通过目标图像能够更为容易地确定出待检测的覆铜板的表面所可能存在的锈迹。
14、可选的，对目标图像进行阈值分割获得锈迹区域图像，包括：利用大津法确定目标图像所对应的目标分割阈值；利用目标分割阈值对目标图像进行阈值分割，获得锈迹区域图像，所述锈迹区域图像中像素点的灰度值小于或等于所述目标分割阈值。
15、可选的，根据表面灰度图像中像素点的第二参数值，获得表面灰度图像中锈迹所在的锈迹区域图像，包括：将表面灰度图像中第二参数值大于或等于预设参数阈值的像素点，作为表面灰度图像中的锈迹像素点，以获得由锈迹像素点所组成的锈迹区域图像。
16、可选的，目标图像块本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种覆铜板过程的缺陷检测方法，用于对未经蚀刻的覆铜板进行表面锈迹缺陷的检测，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的覆铜板过程的缺陷检测方法，其特征在于，目标图像块的梯度方向差异值通过以下方式进行确定：
3.根据权利要求1所述的覆铜板过程的缺陷检测方法，其特征在于，目标图像块的梯度向量通过以下方式进行确定：
4.根据权利要求1所述的覆铜板过程的缺陷检测方法，其特征在于，目标图像块的梯度向量通过以下方式进行确定：
5.根据权利要求1所述的覆铜板过程的缺陷检测方法，其特征在于，目标图像块的灰度差异值通过以下方式进行确定：
6.根据权利要求1所述的覆铜板过程的缺陷检测方法，其特征在于，根据表面灰度图像中像素点的第二参数值，获得表面灰度图像中锈迹所在的锈迹区域图像，包括：
7.根据权利要求6所述的覆铜板过程的缺陷检测方法，其特征在于，对目标图像进行阈值分割获得锈迹区域图像，包括：
8.根据权利要求1所述的覆铜板过程的缺陷检测方法，其特征在于，根据表面灰度图像中像素点的第二参数值，获得表面灰度图像中
9.根据权利要求1所述的覆铜板过程的缺陷检测方法，其特征在于，待检测的覆铜板的表面灰度图像通过以下方式进行获取：
...【技术特征摘要】
1.一种覆铜板过程的缺陷检测方法，用于对未经蚀刻的覆铜板进行表面锈迹缺陷的检测，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的覆铜板过程的缺陷检测方法，其特征在于，目标图像块的梯度方向差异值通过以下方式进行确定：
3.根据权利要求1所述的覆铜板过程的缺陷检测方法，其特征在于，目标图像块的梯度向量通过以下方式进行确定：
4.根据权利要求1所述的覆铜板过程的缺陷检测方法，其特征在于，目标图像块的梯度向量通过以下方式进行确定：
5.根据权利要求1所述的覆铜板过程的缺陷检测方法，其特征在于，目标图像块的灰度差异值通过以下方式进行确定...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄斐，廖柱光，
申请(专利权)人：江阴市晟云电子新材料有限公司，
类型：发明
国别省市：
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