【技术实现步骤摘要】
本公开涉及半导体电路设计领域，特别涉及一种参考电压产生电路及存储器。
技术介绍
1、在内存接收器电路设计中，通常为基于采样时钟的有效沿对待采样数据进行采样，而对待采样数据的采样，即将待采样数据的电平与参考电压进行比较，若待采样数据的电平＞参考电压，则输出数据“1”即采样结果为高电平，若待采样数据的电平＜参考电压，则输出数据“0”即采样结果为低电平。
2、在计算机高速链路中，随着数据信号的传输速度变得越来越快，难免会产生明显的码间干扰(inter symbol interference，简称isi)。isi的影响会导致待采样数据的电平可能无法上升到大于参考电压的程度，导致接收器错误采样而输出数据“0”，或导致待采样数据的电平可能无法下降到小于参考电压的程度，导致接收器错误采样而输出数据“1”。
技术实现思路
1、本公开实施例提供一种参考电压产生电路及存储器，以提高存储器进行数据采样的准确性。
2、本公开一实施例提供了一种参考电压产生电路，包括：初始参考电压产生模块，用于接收原始编码、第一编码和第二编码，并基于原始编码+第一编码+第二编码，产生第一初始参考电压，基于原始编码+第一编码-第二编码，产生第二初始参考电压，基于原始编码-第一编码+第二编码，产生第三初始参考电压，基于原始编码-第一编码-第二编码，产生第四初始参考电压；第一选择电路，用于接收第一初始参考电压、第二初始参考电压、第三初始参考电压、第四初始参考电压和第一电压选择信号，被配置为，基于第一电压选择
3、对于本实施例提供的参考电压产生电路，基于先前第二比特数据对当前待采样数据dq的采样影响，以及先前第一比特数据对当前待采样数据dq的采样影响，生成四个参考电压，然后基于第一电压选择信号和第二电压选择信号的控制输出适配的参考电压供存储器进行采样，以综合考量先前第二比特数据以及先前第一比特数据对当前待采样数据dq的采样影响，从而提高存储器进行数据采样的准确性。
4、可选地，初始参考电压产生模块，包括：分压电路，包括n个电压输出端，且各个电压输出端输出的电压不同，n为大于1的整数；译码电路，用于接收原始编码、第一编码和第二编码，被配置为，基于原始编码+第一编码+第二编码译码产生第一处理信号，基于原始编码+第一编码-第二编码译码产生第二处理信号，基于原始编码-第一编码+第二编码译码产生第三处理信号，基于原始编码-第一编码-第二编码译码产生第四处理信号；第一处理电路，连接分压电路和译码电路，被配置为，基于第一处理信号选择分压电路中相应的电压输出端输出第一初始参考电压；第二处理电路，连接分压电路和译码电路，被配置为，基于第二处理信号选择分压电路中相应的电压输出端输出第二初始参考电压；第三处理电路，连接分压电路和译码电路，被配置为，基于第三处理信号选择分压电路中相应的电压输出端输出第三初始参考电压；第四处理电路，连接分压电路和译码电路，被配置为，基于第四处理信号选择分压电路中相应的电压输出端输出第四初始参考电压。
5、可选地，分压电路，包括：n-1个串联的第一电阻，其中，第一个第一电阻的第一端用于接收第一内部电压，最后一个第一电阻的第二端用于接收第二内部电压，每一个第一电阻的第二端与下一个第一电阻的第一端连接；第一内部电压的电压值大于第二内部电压的电压值；每一个第一电阻的两端作为输出端口以形成n个电压输出端。
6、可选地，第一初始参考电压的电压值＞第二初始参考电压的电压值＞第三初始参考电压的电压值＞第四初始参考电压的电压值。
7、可选地，原始编码的值＞第一编码的值＞第二编码的值。
8、可选地，第一处理信号包括n个第一子信号，且n个第一子信号中仅包括一个有效信号，第一处理电路，包括：n个第一开关晶体管，每一个第一开关晶体管的控制端对应接收对应的第一子信号；每一个第一开关晶体管的第一端子对应连接n个电压输出端中对应的一个电压输出端，第二端子连接第一处理电路的输出端，以输出第一初始参考电压。
9、可选地，第一选择电路，包括：第一选择单元，用于接收第一初始参考电压、第二初始参考电压和第一电压选择信号，被配置为，基于第一电压选择信号选择基于第一初始参考电压或第二初始参考电压输出第一参考电压；第二选择单元，用于接收第三初始参考电压、第四初始参考电压和第一电压选择信号，被配置为，基于第一电压选择信号选择基于第三初始参考电压或第四初始参考电压输出第二参考电压。
10、可选地，第一编码的大小被配置为，衡量先前第一比特数据对当前待采样数据的影响参数，第二编码的大小被配置为，衡量先前第二比特数据对当前待采样数据的影响参数。
11、可选地，第一电压选择信号基于先前第二比特数据设置，第二电压选择信号基于先前第一比特数据设置。
12、本公开另一实施例还提供了一种存储器，包括上述实施例提供的参考电压产生电路和采样电路，采样电路的第一输入端用于接收待采样数据，第二输入端连接参考电压产生电路的输出端，用于接收参考电压，采样电路被配置为，基于参考电压采样待采样数据，以提高存储器进行数据采样的准确性。
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1.一种参考电压产生电路，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的参考电压产生电路，其特征在于，所述初始参考电压产生模块，包括：
3.根据权利要求2所述的参考电压产生电路，其特征在于，所述分压电路，包括：
4.根据权利要求2所述的参考电压产生电路，其特征在于，所述第一初始参考电压的电压值＞所述第二初始参考电压的电压值＞所述第三初始参考电压的电压值＞所述第四初始参考电压的电压值。
5.根据权利要求4所述的参考电压产生电路，其特征在于，所述原始编码的值＞所述第一编码的值＞所述第二编码的值。
6.根据权利要求2所述的参考电压产生电路，其特征在于，所述第一处理信号包括N个第一子信号，且N个第一子信号中仅包括一个有效信号，所述第一处理电路，包括：
7.根据权利要求1所述的参考电压产生电路，其特征在于，所述第一选择电路，包括：
8.根据权利要求1～7任一项所述的参考电压产生电路，其特征在于，所述第一编码的大小被配置为，衡量所述先前第一比特数据对当前待采样数据的影响参数，所述第二编码的大小被配置为，衡量所述
9.根据权利要求1～7任一项所述的参考电压产生电路，其特征在于，所述第一电压选择信号基于所述先前第二比特数据设置，所述第二电压选择信号基于所述先前第一比特数据设置。
10.一种存储器，其特征在于，包括：权利要求1～9任一项所述的参考电压产生电路以及采样电路，所述采样电路的第一输入端用于接收待采样数据，第二输入端连接所述参考电压产生电路的输出端，用于接收所述参考电压，所述采样电路被配置为，基于所述参考电压采样所述待采样数据。
...【技术特征摘要】
1.一种参考电压产生电路，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的参考电压产生电路，其特征在于，所述初始参考电压产生模块，包括：
3.根据权利要求2所述的参考电压产生电路，其特征在于，所述分压电路，包括：
4.根据权利要求2所述的参考电压产生电路，其特征在于，所述第一初始参考电压的电压值＞所述第二初始参考电压的电压值＞所述第三初始参考电压的电压值＞所述第四初始参考电压的电压值。
5.根据权利要求4所述的参考电压产生电路，其特征在于，所述原始编码的值＞所述第一编码的值＞所述第二编码的值。
6.根据权利要求2所述的参考电压产生电路，其特征在于，所述第一处理信号包括n个第一子信号，且n个第一子信号中仅包括一个有效信号，所述第一处理电路，包括：
7.根据权利要求1所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：张雪艳，严允柱，张志强，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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