一种高容量TSOP多闪存芯片堆叠封装结构制造技术

技术编号:44000661 阅读:1 留言:0更新日期:2025-01-10 20:18
本技术公开了一种高容量TSOP多闪存芯片堆叠封装结构,涉及半导体封装技术领域,包含TSOP框架和两个芯片单元;TSOP框架的下侧设置有转接基板,转接基板通过Tape胶连接固定在TSOP框架上,转接基板的引脚与TSOP框架打线互连;两个芯片单元分别连接固定在转接基板底面的两侧,且沿转接基板的长度方向对称分布,两个芯片单元均与转接基板电性连接,本方案通过在TSOP框架上加一层转接基板,将两摞由8颗芯片构成的芯片单元一次性堆叠,既能实现高容量的存储,又能使封装制程变得简单,同时,通过环氧树脂将TSOP框架、转接基板和两个芯片单元包裹起来,以提供物理和电气保护,防止外界干扰。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种高容量tsop多闪存芯片堆叠封装结构,属于半导体封装。


技术介绍

1、随着现在信息时代的来临,高容量的产品需求越来越普遍,传统用在tsop封装上的产品,大多只堆叠4颗或者8颗,产品的存储容量比较局限,只能通过换封装形式或者换更高容量的芯片来实现;另外在tsop封装上,产品外观比较固定,不可能通过增加封装尺寸来加大产品容量;同时tsop使用的大多数是使用1:2.25不平衡的模具,如若采用一次性叠16颗的方式,会严重造成不平衡的情况,不利于制程作业。


技术实现思路

1、本技术目的是为了克服现有技术的不足而提供一种高容量tsop多闪存芯片堆叠封装结构。

2、为达到上述目的,本技术采用的技术方案是:一种高容量tsop多闪存芯片堆叠封装结构,包含tsop框架和两个芯片单元;所述tsop框架的下侧设置有转接基板,所述转接基板通过tape胶连接固定在tsop框架上,转接基板的引脚与tsop框架打线互连;两个所述芯片单元分别连接固定在转接基板底面的两侧,且沿转接基板的长度方向对称分布,两个芯片单元均与转接基板电性连接。

3、优选的,所述tsop框架的上下两侧均设置有环氧树脂,所述环氧树脂用于填合tsop框架与转接基板以及两个芯片单元之间的间隙,并将tsop框架、转接基板和两个芯片单元包裹起来。

4、优选的,每个所述芯片单元均包括多个芯片,多个所述芯片沿竖直方向依次堆叠,并呈阶梯状;上下相邻的芯片通过daf膜连接固定,最上层的芯片通过daf膜与转接基板贴合。

5、优选的,上下相邻的所述芯片之间通过键合线电性连接,最上层的芯片通过键合线与转接基板电性连接。

6、由于上述技术方案的运用,本技术与现有技术相比具有下列优点:

7、本技术方案的一种高容量tsop多闪存芯片堆叠封装结构,通过在tsop框架上加一层转接基板,将两摞由8颗芯片构成的芯片单元一次性堆叠,既能实现高容量的存储,又能使封装制程变得简单,同时,通过环氧树脂将tsop框架、转接基板和两个芯片单元包裹起来,以提供物理和电气保护,防止外界干扰。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种高容量TSOP多闪存芯片堆叠封装结构,其特征在于:包含TSOP框架(1)和两个芯片单元;所述TSOP框架(1)的下侧设置有转接基板(3),所述转接基板(3)通过Tape胶(2)连接固定在TSOP框架(1)上,转接基板(3)的引脚(7)与TSOP框架(1)打线互连;两个所述芯片单元分别连接固定在转接基板(3)底面的两侧,且沿转接基板(3)的长度方向对称分布,两个芯片单元均与转接基板(3)电性连接。

2.根据权利要求1所述的一种高容量TSOP多闪存芯片堆叠封装结构,其特征在于:所述TSOP框架(1)的上下两侧均设置有环氧树脂(6),所述环氧树脂(6)用于填合TSOP框架(1)与转接基板(3)以及两个芯片单元之间的间隙,并将TSOP框架(1)、转接基板(3)和两个芯片单元包裹起来。

3.根据权利要求1所述的一种高容量TSOP多闪存芯片堆叠封装结构,其特征在于:每个所述芯片单元均包括多个芯片(4),多个所述芯片(4)沿竖直方向依次堆叠,并呈阶梯状;上下相邻的芯片(4)通过DAF膜连接固定,最上层的芯片(4)通过DAF膜与转接基板(3)贴合。

4.根据权利要求3所述的一种高容量TSOP多闪存芯片堆叠封装结构,其特征在于:上下相邻的所述芯片(4)之间通过键合线(5)电性连接,最上层的芯片(4)通过键合线(5)与转接基板(3)电性连接。

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【技术特征摘要】

1.一种高容量tsop多闪存芯片堆叠封装结构,其特征在于:包含tsop框架(1)和两个芯片单元;所述tsop框架(1)的下侧设置有转接基板(3),所述转接基板(3)通过tape胶(2)连接固定在tsop框架(1)上,转接基板(3)的引脚(7)与tsop框架(1)打线互连;两个所述芯片单元分别连接固定在转接基板(3)底面的两侧,且沿转接基板(3)的长度方向对称分布,两个芯片单元均与转接基板(3)电性连接。

2.根据权利要求1所述的一种高容量tsop多闪存芯片堆叠封装结构,其特征在于:所述tsop框架(1)的上下两侧均设置有环氧树脂(6),所述环氧树脂(6)用于填合tsop框架...

【专利技术属性】
技术研发人员:陆海琴
申请(专利权)人:太极半导体苏州有限公司
类型:新型
国别省市:

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