【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体测试，涉及一种存储器的测评方法，更为具体地，涉及一种针对on die ecc存储器的深度评测方法、系统。
技术介绍
1、dram（dynamic random access memory，动态随机存取内存）芯片在设计上具有独特性，其在各种应用场景上出现的芯片失效问题一直难以杜绝，因此dram芯片的测试与质量的管控一直是一个困难的议题.如今on die ecc（on-die error-correcting code，芯片内纠错码）技术的出现，ecc强大的纠错能力更是令芯片内部存在的质量问题得到很好的掩藏，会为测试带来误差，其结果会导致在以下现有的测试方式得出失真结果，无法体现其真实的老化及测试效果：
2、芯片老炼化与封装可靠性测试：高温储存（high temperature storage, hts），高温工作寿命测试（high temperature operating life, htol），温度循环（temperaturecycling），高加速寿命测试（highly accelerated life testing, halt），高湿储存（highhumidity storage, hhs），偏压温度湿度测试（bias temperature humidity, bth）。
3、测试算法压力测试：测试算法根据测试场景与设备会多元化发展大致可以分成三种类型：a)、电压及电流测试；b)、芯片时序及功能性测试；c)、接口信号及电源完整性测试。
4、以上两大类的测试是dra
5、因此，亟需一种能够真正反映on die ecc存储器内部状况，提升检测精准度的针对on die ecc存储器的深度评测方法、系统。
技术实现思路
1、鉴于上述问题，本专利技术的目的是提供一种针对on die ecc存储器的深度评测方法，以解决on die ecc（on-die error-correcting code）技术的出现,ecc强大的纠错能力更是令芯片内部存在的质量问题得到很好的掩藏，会为测试带来误差，其结果会导致在以下现有的测试方式得出失真结果，无法体现其真实的老化及测试效果的技术问题。
2、本专利技术提供的一种针对on die ecc存储器的深度评测方法，包括：
3、通过开启和关闭on die ecc存储器的手动ecs模式对所述on die ecc存储器进行多轮次循环ecs测试以获取故障次数演进表；其中，每一轮测试的测试参数依次按照预设的梯度逐步加严；
4、将所述故障次数演进表与预先获取的所述on die ecc存储器的自然测试故障表进行对比以获取所述on die ecc存储器的测试参数余量、最大耐受故障数量，以及最大可耐受故障数量的剩余百分比。
5、优选地，进行多轮次循环ecs测试以获取故障次数演进表的步骤，包括：
6、针对不同的测试参数依次进行每一轮的ecs测试以生成每轮ecs测试所对应的故障发生次数；
7、按照所述测试参数的顺序对所述故障发生次数进行相应的顺序排列以形成故障次数演进表。
8、优选地，生成每轮ecs测试所对应的故障发生次数的步骤，包括；
9、为所述on die ecc存储器写入关于测试参数的背景资料，并通过所述on die ecc存储器发送mpc指令来开启所述on die ecc存储器的手动ecs模式，以使所述on die ecc存储器的ecs计数器获取所述on die ecc存储器的工艺缺失数量，并关闭所述手动ecs模式；
10、将关于测试参数的待测试资料写入至所述on die ecc存储器，并通过所述on dieecc存储器发送mpc指令来开启所述on die ecc存储器的手动ecs模式，以使所述on dieecc存储器的ecs计数器获取所述on die ecc存储器与写入动作相关的写入故障数量，并关闭所述手动ecs模式；
11、使所述on die ecc存储器读取所述待测试资料，并通过所述on die ecc存储器发送mpc指令来开启所述on die ecc存储器的手动ecs模式，以使所述on die ecc存储器的ecs计数器获取所述on die ecc存储器与读取动作相关的读取故障数量，并关闭所述手动ecs模式；
12、将所述工艺缺失数量、所述写入故障数量与所述读取故障数量相加以形成故障发成次数。
13、优选地，预先获取所述on die ecc存储器的自然测试故障表的步骤，包括：
14、按照获取所述故障次数演进表时所使用的各个测试参数的顺序依次对所述ondie ecc存储器进行多轮次的自然测试以获取自然测试故障表；其中，
15、按照测试参数逐步加严的顺序所述自然测试故障表中的自然测试故障数据与所述故障次数演进表中的故障发生次数一一对应。
16、优选地，在每一轮自然测试的过程中获取自然测试故障数据的过程，包括：
17、将本轮次自然测试对应的ecs测试所使用的背景资料写入至所述on die ecc存储器中进行测试以获取工艺缺失数据；
18、将本轮次自然测试对应的ecs测试所使用的待测试资料写入至所述on die ecc存储器中分别进行写入和读取测试以获取写入故障数据和读取故障数据；
19、将所述工艺缺失数据、所述写入故障数据和所述读取故障数据相加以获取自然测试故障数据。
20、优选地，将所述故障次数演进表与预先获取的所述on die ecc存储器的自然测试故障表进行对比的步骤，包括：
21、将按照预设的梯度逐步加严的测试参数作为横轴，将与所述测试参数对应的故障发生次数、自然测试故障数据作为与所述测试参数相对应的纵轴形，使所述故障次数演进表和所述自然测试故障表在横轴上进行重合，并以不同颜色区分所述故障次数演进表和所述自然测试故障表以形成颜色不同的复合柱状图作为对比图。
22、优选地，获取所述on die ecc存储器的最大耐受故障数量的过程，包括：
23、依次遍历所述对比图中的自然测试故障数据，锁定第一个自然测试故障数据大于零的柱状图作为初始ecc故障柱状图；
24、将所述初始ecc故障柱状图所在的横坐标上的测试本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种针对on die ECC存储器的深度评测方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的针对on die ECC存储器的深度评测方法，其特征在于，进行多轮次循环ECS测试以获取故障次数演进表的步骤，包括：
3.如权利要求2所述的针对on die ECC存储器的深度评测方法，其特征在于，生成每轮ECS测试所对应的故障发生次数的步骤，包括；
4.如权利要求1所述的针对on die ECC存储器的深度评测方法，其特征在于，预先获取所述on die ECC存储器的自然测试故障表的步骤，包括：
5.如权利要求4所述的针对on die ECC存储器的深度评测方法，其特征在于，在每一轮自然测试的过程中获取自然测试故障数据的过程，包括：
6.如权利要求5所述的针对on die ECC存储器的深度评测方法，其特征在于，将所述故障次数演进表与预先获取的所述on die ECC存储器的自然测试故障表进行对比的步骤，包括：
7.如权利要求6所述的针对on die ECC存储器的深度评测方法，其特征在于，获取所述on die
8.如权利要求7所述的针对on die ECC存储器的深度评测方法，其特征在于，获取所述on die ECC存储器的测试参数余量的过程，包括；
9.如权利要求8所述的针对on die ECC存储器的深度评测方法，其特征在于，获取所述on die ECC存储器的最大耐受故障数量的剩余百分比的过程，包括：
10.一种针对on die ECC存储器的深度评测系统，其特征在于，实现如权利要求1-9任一所述的针对on die ECC存储器的深度评测方法，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种针对on die ecc存储器的深度评测方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的针对on die ecc存储器的深度评测方法，其特征在于，进行多轮次循环ecs测试以获取故障次数演进表的步骤，包括：
3.如权利要求2所述的针对on die ecc存储器的深度评测方法，其特征在于，生成每轮ecs测试所对应的故障发生次数的步骤，包括；
4.如权利要求1所述的针对on die ecc存储器的深度评测方法，其特征在于，预先获取所述on die ecc存储器的自然测试故障表的步骤，包括：
5.如权利要求4所述的针对on die ecc存储器的深度评测方法，其特征在于，在每一轮自然测试的过程中获取自然测试故障数据的过程，包括：
6.如权利要求5所述的针对on die ecc存储器的深度评测方法，...
【专利技术属性】
技术研发人员：赖俊生，
申请(专利权)人：皇虎测试科技深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：
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