System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测方法、系统及装置制造方法及图纸_技高网

自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测方法、系统及装置制造方法及图纸

技术编号:43980300 阅读:1 留言:0更新日期:2025-01-10 20:05
本申请实施例提供一种自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测方法、系统及装置,涉及光学检测技术领域。所述方法包括:通过近场光学探测仪获取目标光源的原始光量;将待测自聚焦透镜阵列移动至目标检测位置,并确定所述目标光源透过所述待测自聚焦透镜阵列后的目标像面区域;基于所述目标像面区域通过控制所述近场光学探测仪移动以获取所述待测自聚焦透镜阵列的成像光量;基于所述原始光量与所述成像光量确定所述待测自聚焦透镜阵列的聚焦效率。本申请实施例能够根据自聚焦透镜阵列的不同使用场景对其聚焦效率进行检测。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及光学检测,具体而言,涉及一种自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测方法、系统及装置


技术介绍

1、聚焦效率指光源发出的光量经过了自聚焦透镜阵列光学系统后,在像面上光量的传达率。该指标是衡量自聚焦透镜阵列进行成像活动时,整个像面画幅上光能传递效率的重要指标,是衡量画幅上的画面明亮程度的指标,也是衡量成像画面分辨率的指标之一。

2、自聚焦透镜阵列是一类比较特殊的产品,通常具备单元透镜尺寸小、通光口径小、产品非轴对称、焦距短、工作距离短的特点,目前传统的光学检测仪器,无法根据自聚焦透镜阵列的使用场景对其聚焦效率进行检测。


技术实现思路

1、本申请实施例的目的在于提供一种自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测方法、系统及装置,能够根据自聚焦透镜阵列的使用场景对其聚焦效率进行检测。

2、第一方面,本申请实施例提供了一种自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测方法,包括:

3、通过近场光学探测仪获取目标光源的原始光量;

4、将待测自聚焦透镜阵列移动至目标检测位置,并确定所述目标光源透过所述待测自聚焦透镜阵列后的目标像面区域;

5、基于所述目标像面区域通过控制所述近场光学探测仪移动以获取所述待测自聚焦透镜阵列的成像光量;

6、基于所述原始光量与所述成像光量确定所述待测自聚焦透镜阵列的聚焦效率。

7、在本申请实施例中,通过先采集光源的原始光量,然后根据自聚焦透镜阵列的产品特点,根据不同使用场景将阵列移动至相应的检测位置,并获取相应的像面区域,再采用近场光学探测仪在像面区域获取经过阵列后的光量,从而确定得到自聚焦透镜阵列的聚焦效率。本申请实施例能够根据自聚焦透镜阵列的不同使用场景对其聚焦效率进行检测。

8、在一个可能的实施例中,所述确定所述目标光源透过所述待测自聚焦透镜阵列后的目标像面区域,包括:

9、对所述目标光源透过所述待测自聚焦透镜阵列后形成的像进行能量检测;

10、根据预设的能量分布范围以及能量检测结果确定所述目标像面区域。

11、在本申请实施例中,通过对经过透镜阵列后的光线进行能量检测,基于预设的能量分布范围可以确定得到当前检测场景形成的目标像面区域,从而提高了检测场景的多样性。

12、在一个可能的实施例中,所述确定所述目标光源透过所述待测自聚焦透镜阵列后的目标像面区域,包括:

13、根据预设的成像物理尺寸确定所述目标像面区域。

14、在本申请实施例中,根据指定的成像物理尺寸来确定目标像面区域,限制了测量光量的窗口,从而获得预设尺寸范围内的聚焦效率,从而提高了检测场景的多样性。

15、在一个可能的实施例中,所述确定所述目标光源透过所述待测自聚焦透镜阵列后的目标像面区域,包括:

16、根据预设的成像能量分布范围以及成像距离确定所述目标像面区域。

17、在本申请实施例中,根据设定的成像距离来确定目标像面区域,从而根据使用场景获得特定距离的聚焦效率,提高了检测场景的多样性。

18、第二方面,本申请实施例提供了一种自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测系统,包括光学平台、目标光源、待测自聚焦透镜阵列、近场光学探测仪和控制装置;

19、所述目标光源、所述待测自聚焦透镜阵列和所述近场光学探测仪分别可活动连接于所述光学平台上;

20、所述控制装置用于实现任一所述的自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测方法。

21、在本申请实施例中,通过控制装置分别控制各个检测部件进行移动或固定,使得能够根据不同的使用场景对待测自聚焦透镜阵列的聚焦效率进行检测。

22、在一个可能的实施例中,所述的自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测系统,还包括遮光罩;所述遮光罩用于限制除所述目标光源以外的光线进入所述近场光学探测仪的镜头。

23、在本申请实施例中,检测系统还包括遮光罩,避免采集到环境杂光和阵列上下侧漏光,提高了检测准确性。

24、在一个可能的实施例中,所述的自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测系统还包括散射片;所述散射片用于对所述目标光源输出的光线转化为能量分布均匀的散射光线。

25、在本申请实施例中,检测系统还包括散光片,可以将光源的光线发散,模拟自然画幅发光的场景,提高了检测场景的真实性,从而提高了检测的准确性。

26、第三方面,本申请实施例提供了一种自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测装置,包括:

27、第一获取模块,用于通过近场光学探测仪获取目标光源的原始光量;

28、像面确定模块,用于将待测自聚焦透镜阵列移动至目标检测位置,并确定所述目标光源透过所述待测自聚焦透镜阵列后的目标像面区域;

29、第二获取模块,用于基于所述目标像面区域通过控制所述近场光学探测仪移动以获取所述待测自聚焦透镜阵列的成像光量;

30、效率确定模块,用于基于所述原始光量与所述成像光量确定所述待测自聚焦透镜阵列的聚焦效率。

31、第四方面,本申请实施例提供了一种计算机程序产品,所述的计算机程序产品包括计算机程序,其中,所述的计算机程序被处理器执行时可实现第一方面任一实施例所述的方法。

32、第五方面,本申请实施例提供了一种电子设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,其中,所述处理器执行所述程序时可实现第一方面任一实施例所述的方法。

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【技术保护点】

1.一种自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测方法,其特征在于,所述确定所述目标光源透过所述待测自聚焦透镜阵列后的目标像面区域,包括:

3.根据权利要求1所述的自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测方法,其特征在于,所述确定所述目标光源透过所述待测自聚焦透镜阵列后的目标像面区域,包括:

4.根据权利要求1所述的自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测方法,其特征在于,所述确定所述目标光源透过所述待测自聚焦透镜阵列后的目标像面区域,包括:

5.一种自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测系统,其特征在于,包括光学平台、目标光源、待测自聚焦透镜阵列、近场光学探测仪和控制装置;

6.根据权利要求5所述的自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测系统,其特征在于,还包括遮光罩;所述遮光罩用于限制除所述目标光源以外的光线进入所述近场光学探测仪的镜头。

7.根据权利要求5所述的自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测系统,其特征在于,还包括散射片;所述散射片用于对所述目标光源输出的光线转化为能量分布均匀的散射光线

8.一种自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测装置,其特征在于,包括:

9.一种计算机程序产品,其特征在于,所述的计算机程序产品包括计算机程序,其中,所述的计算机程序被处理器执行时可实现权利要求1-4任一所述的自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测方法。

10.一种电子设备,其特征在于,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,其中,所述处理器执行所述程序时可实现权利要求1-4任一所述的自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测方法。

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【技术特征摘要】

1.一种自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测方法,其特征在于,所述确定所述目标光源透过所述待测自聚焦透镜阵列后的目标像面区域,包括:

3.根据权利要求1所述的自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测方法,其特征在于,所述确定所述目标光源透过所述待测自聚焦透镜阵列后的目标像面区域,包括:

4.根据权利要求1所述的自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测方法,其特征在于,所述确定所述目标光源透过所述待测自聚焦透镜阵列后的目标像面区域,包括:

5.一种自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测系统,其特征在于,包括光学平台、目标光源、待测自聚焦透镜阵列、近场光学探测仪和控制装置;

6.根据权利要求5所述的自聚焦透镜阵列聚焦效率的检测系统,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:房艳王旭东
申请(专利权)人:飞秒光电科技西安有限公司
类型:发明
国别省市:

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