【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电池相关，特别是一种电芯异常检测方法、装置、电子设备、存储介质及电芯制造方法。
技术介绍
1、薄膜电池，例如锂离子电池，在制造过程中，正负极片和隔膜经过卷绕和叠片后，卷芯内部受极片应力和隔膜张力影响，在后期充放电过程中会导致电芯膨胀变形等问题。为解决该问题现有技术通常在卷绕或叠片后会进行预热和热压，对正负极片和隔膜张力在高温加压条件下进行张力释放，通过对电芯整形，确保极片与极片之间间距一致以保证电池性能一致性。
2、现有技术对热压效果的检测目前通常采用加压测厚方式进行，但该方式对极片间距变化响应灵敏度差，无法灵敏的反映出电芯内部极片与极片、隔膜与极片间距的变化，无可应用的监控模型，识别精度低。而当极片间距过大时，嵌锂路径加长，会导致出现析锂等问题。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对现有技术对于电芯检测未能判断极片距离是否异常的技术问题，提供一种电芯异常检测方法、装置、电子设备、存储介质及电芯制造方法。
2、本专利技术提供一种电芯异常检测方法，包括：
3、获取经过热压处理后，且经过放电的电芯的电容测量值，所述电芯包括一个多个极片组合，每个所述极片组合包括等效为等效电容器的正极片和负极片；
4、以所述电容测量值与预设阈值进行比较计算，根据比较结果，判断所述电芯的极片组合所包括的正极片和负极片的极片距离是否异常。
5、进一步地，所述预设阈值为预设间距阈值，所述以所述电容测量值进行比较计算，根据比较结果，判断所述
6、以所述电容测量值，计算单层平均极片间距，所述单层平均极片间距为所述等效电容器的平均间距；
7、如果所述单层平均极片间距大于预设间距阈值，则判断所述电芯的极片距离异常。
8、更进一步地，所述以所述电容测量值，计算单层平均极片间距，具体包括：
9、以所述电容测量值，计算单层极片间平均电容为所述电容测量值除以所述等效电容器的数量；
10、以所述单层极片间平均电容计算单层平均极片间距。
11、再进一步地，所述以所述单层极片间平均电容计算单层平均极片间距，具体包括：
12、计算单层平均极片间距为：
13、d均＝εs/c均4πk，其中c均为所述单层极片间平均电容，d均为单层平均极片间距，ε为介电常数，k为静电力常量。
14、进一步地，所述预设阈值为预设平均电容阈值，所述以所述电容测量值进行比较计算，根据比较结果，判断所述电芯的极片距离是否异常，具体包括：
15、以所述电容测量值，计算单层极片间平均电容为所述电容测量值除以所述等效电容器的数量；
16、如果所述单层极片间平均电容小于预设平均电容阈值，则判断所述电芯的极片距离异常。
17、进一步地，所述预设阈值为预设电芯电容阈值，所述以所述电容测量值进行比较计算，根据比较结果，判断所述电芯的极片距离是否异常，具体包括：
18、如果所述电容测量值小于预设电芯电容阈值，则判断所述电芯的极片距离异常。
19、本专利技术提供一种电芯异常检测装置，包括：
20、电容测量值获取模块，用于获取经过热压处理后，且经过放电的电芯的电容测量值，所述电芯包括一个多个极片组合，每个所述极片组合包括等效为等效电容器的正极片和负极片；
21、判断模块，用于以所述电容测量值与预设阈值进行比较计算，根据比较结果，判断所述电芯的极片组合所包括的正极片和负极片的极片距离是否异常。
22、本专利技术提供一种电子设备，包括：
23、至少一个处理器；以及，
24、与至少一个所述处理器通信连接的存储器；其中，
25、所述存储器存储有可被至少一个所述处理器执行的指令，所述指令被至少一个所述处理器执行，以使至少一个所述处理器能够执行如前所述的电芯异常检测方法。
26、本专利技术提供一种存储介质，所述存储介质存储计算机指令，当计算机执行所述计算机指令时，用于执行如前所述的电芯异常检测方法的所有步骤。
27、本专利技术提供一种电芯制造方法，包括：
28、执行多个电芯终焊前制造工序，所述电芯终焊前制造工序至少包括热压工序；
29、执行终焊工序，得到终焊后的电芯，所述电芯包括进行热压处理的一层或多层极片组合，所述极片组合包括等效为等效电容器的正极片和负极片；
30、对终焊后的所述电芯进行放电后，测量所述电芯的电容测量值；
31、执行如前所述的电芯异常检测方法的所有步骤，在判断极片距离异常时，执行告警操作。
32、本专利技术的电芯异常检测方法，获取经过放电后的电芯的电容测量值，由于电芯包括进行热压处理的一层或多层极片组合，极片组合包括等效为等效电容器的正极片和负极片，而等效电容器的电容值受极片距离影响。因此，以电容测量值进行比较计算，根据比较结果，能够判断电芯的极片距离是否异常，从而实现对电芯制造过程中电芯极片距离的筛选监控，规避制程制造质量风险，防止异常产品流出。
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1.一种电芯异常检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的电芯异常检测方法，其特征在于，所述预设阈值为预设间距阈值，所述以所述电容测量值进行比较计算，根据比较结果，判断所述电芯的极片距离是否异常，具体包括：
3.根据权利要求2所述的电芯异常检测方法，其特征在于，所述以所述电容测量值，计算单层平均极片间距，具体包括：
4.根据权利要求3所述的电芯异常检测方法，其特征在于，所述以所述单层极片间平均电容计算单层平均极片间距，具体包括：
5.根据权利要求1所述的电芯异常检测方法，其特征在于，所述预设阈值为预设平均电容阈值，所述以所述电容测量值进行比较计算，根据比较结果，判断所述电芯的极片距离是否异常，具体包括：
6.根据权利要求1所述的电芯异常检测方法，其特征在于，所述预设阈值为预设电芯电容阈值，所述以所述电容测量值进行比较计算，根据比较结果，判断所述电芯的极片距离是否异常，具体包括：
7.一种电芯异常检测装置，其特征在于，包括：
8.一种电子设备，其特征在于，包括：
9.一种存储
10.一种电芯制造方法，其特征在于，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种电芯异常检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的电芯异常检测方法，其特征在于，所述预设阈值为预设间距阈值，所述以所述电容测量值进行比较计算，根据比较结果，判断所述电芯的极片距离是否异常，具体包括：
3.根据权利要求2所述的电芯异常检测方法，其特征在于，所述以所述电容测量值，计算单层平均极片间距，具体包括：
4.根据权利要求3所述的电芯异常检测方法，其特征在于，所述以所述单层极片间平均电容计算单层平均极片间距，具体包括：
5.根据权利要求1所述的电芯异常检测方法，其特征在于，所述预设阈值为预设平均电容阈值，所述以所述电容测...
【专利技术属性】
技术研发人员：张竹，
申请(专利权)人：北京车和家汽车科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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