【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及电子笔的评价方法及评价系统。
技术介绍
1、以往，已知有使用评价工具来评价电子笔的性能且根据需要而调整与性能相关的各种各样的设定的方法(例如，参照日本专利第6473554号公报)。
2、现有技术文献
3、专利文献
4、专利文献1：日本专利第6473554号公报
技术实现思路
1、专利技术所要解决的课题
2、例如，设想通过在使包含机器人的移动机构把持着电子笔的状态下移动电子笔而谋求评价的自动化。在该情况下，为了使电子笔向期望的三维位置移动，需要使为了控制移动机构的驱动而定义的“机械坐标系”和在用于检测电子笔的位置的平面状传感器定义的“传感器坐标系”一致的位置调整(或者，校准)。因此，存在想要以更简易的系统结构进行上述的位置调整这一需求。
3、本专利技术鉴于上述的问题而完成，其目的在于提供能够以更简易的系统结构完成机械坐标系与传感器坐标系之间的位置调整的电子笔的评价方法及评价系统。
4、用于解决课题的手段
5、本专利技术的第一方案中的电子笔的评价方法是使用了评价系统的方法，所述评价系统构成为包含检测电子笔的位置的平面状传感器和在把持着所述电子笔的状态下使该电子笔移动的移动机构，其中，所述评价方法包括：配置工序，以使为了控制所述移动机构的驱动而定义的三维机械坐标系中的与第一轴及第二轴分别正交的第三轴的方向与在所述平面状传感器定义的二维传感器坐标系的第一轴及第二轴所形成的传感器坐标平面正交的方
6、本专利技术的第二方案中的电子笔的评价系统具备：平面状传感器，检测电子笔的位置；移动机构，在把持着所述电子笔的状态下使该电子笔移动；控制装置，控制所述移动机构的驱动；及旋转机构，以所述平面状传感器的法线方向为轴而使该平面状传感器旋转，所述平面状传感器以使为了对所述移动机构进行驱动控制而定义的三维机械坐标系中的与第一轴及第二轴分别正交的第三轴的方向与在所述平面状传感器定义的二维传感器坐标系的第一轴及第二轴所形成的传感器坐标平面正交的方式配置，所述控制装置在由所述旋转机构以使所述三维机械坐标系的第一轴及第二轴所形成的机械坐标平面的朝向和所述传感器坐标平面的朝向一致的方式进行了所述平面状传感器的旋转的状态下，以使所述传感器坐标平面上的基准点和所述机械坐标平面上的基准点一致的方式调整所述机械坐标平面的位置。
7、专利技术效果
8、根据本专利技术，能够以更简易的系统结构进行机械坐标系与传感器坐标系之间的位置调整。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种电子笔的评价方法，是使用了评价系统的电子笔的评价方法，所述评价系统构成为包含检测电子笔的位置的平面状传感器和在把持着所述电子笔的状态下使该电子笔移动的移动机构，其中，
2.根据权利要求1所述的电子笔的评价方法，
3.根据权利要求2所述的电子笔的评价方法，
4.根据权利要求3所述的电子笔的评价方法：
5.根据权利要求2所述的电子笔的评价方法，
6.根据权利要求5所述的电子笔的评价方法，
7.一种电子笔的评价系统，具备：
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种电子笔的评价方法，是使用了评价系统的电子笔的评价方法，所述评价系统构成为包含检测电子笔的位置的平面状传感器和在把持着所述电子笔的状态下使该电子笔移动的移动机构，其中，
2.根据权利要求1所述的电子笔的评价方法，
3.根...
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。