一种晶体棒测试装置制造方法及图纸

技术编号:43938068 阅读:1 留言:0更新日期:2025-01-07 21:30
本技术提供一种晶体棒测试装置,涉及晶体棒测试技术领域,包括检测盒,所述检测盒一端铰接有盒盖,所述检测盒另一端的一侧固定有第一伺服电机,所述检测盒靠近第一伺服电机一侧中部横向贯穿开设有第一滑槽。本装置通过启动第二伺服电机带动第二螺纹杆转动,进而带动两个第二滑块同时向中部靠拢,两个挤压板同时向中部移动,保持对晶体棒限位同时使得晶体棒位于检测盒的中部,再启动第一伺服电机带动第一螺纹杆转动,带动激光灯在晶体棒外部进行移动照射,两个挤压板的中部与激光灯位于同一水平面设置,使得激光灯均可以照射不同粗细的晶体棒中部,从而达到可以自动控制不同粗细晶体棒中心与激光光束对齐的效果。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于晶体棒测试,更具体地说,特别涉及一种晶体棒测试装置


技术介绍

1、常规晶体棒具有截面小长度大的特点,在对晶体棒进行测试时,通常是采用激光束穿过晶体棒,在根据激光束照射的情况来判断晶体棒的品质,通过晶体棒的光谱曲线可以计算掺杂离子浓度,了解产品性能,稳定准确的测试结果非常重要。

2、基于上述,发现存在以下问题:现有的晶体棒测试装置,通常是直接将晶体棒放置在测试装置内部,而晶体棒有不同粗细,导致不同粗细的晶体棒的中心会位于测试装置内部不同的水平高度,每次测试需要调节晶体棒的位置,或调节激光光线的位置,同时测试时外部光线会照射到测试装置内部影响测试结果。

3、于是,有鉴于此,针对现有的结构及缺失予以研究改良,提供一种晶体棒测试装置,以期达到更具有更加实用价值性的目的。


技术实现思路

1、为了解决上述技术问题,本技术提供一种晶体棒测试装置,以解决现在的晶体棒有不同粗细,导致不同粗细的晶体棒的中心会位于测试装置内部不同的水平高度,每次测试需要调节晶体棒的位置,或调节激光光线的位置的问题。

2、本技术提供一种晶体棒测试装置,由以下具体技术手段所达成:

3、一种晶体棒测试装置,包括检测盒,所述检测盒一端铰接有盒盖,所述检测盒另一端的一侧固定有第一伺服电机,所述检测盒靠近第一伺服电机一侧中部横向贯穿开设有第一滑槽,所述第一伺服电机的动力输出端固定有第一螺纹杆,所述第一螺纹杆外壁螺纹连接有第一滑块,所述第一滑块与第一滑槽滑动连接,所述第一滑块靠近检测盒中部一侧固定有连接杆,所述连接杆一侧顶部固定有激光灯,所述连接杆另一侧顶部固定有光强度传感器,所述检测盒远离第一伺服电机一侧的中部竖向贯穿开设有第二滑槽,所述检测盒靠近第二滑槽一侧顶部固定有第二伺服电机,所述第二伺服电机的动力输出端固定有第二螺纹杆,所述第二螺纹杆外壁螺纹连接有第二滑块,所述第二滑块靠近检测盒中部一端固定有挤压板。

4、进一步的,所述检测盒靠近第一伺服电机一侧的另一端固定有连接块,所述第一螺纹杆的另一端与连接块转动连接。

5、进一步的,所述连接杆呈u型设置,所述激光灯的水平高度与第一滑槽的中部位于同一水平高度。

6、进一步的,所述第二滑块设置有两个,两个所述第二滑块关于检测盒中部横向水平面呈对称状设置,且两个所述第二滑块均与第二螺纹杆螺纹连接,且两个所述第二滑块的螺纹方向相反。

7、进一步的,所述挤压板呈弧形设置,两个所述挤压板弧形一侧呈相对状设置,两个所述挤压板的中部与激光灯位于同一水平面设置。

8、进一步的,所述检测盒外壁靠近第一滑槽一侧固定有遮光板,所述第一螺纹杆活动贯穿遮光板的一端。

9、与现有技术相比,本技术具有如下有益效果:

10、1.本技术中通过启动第二伺服电机带动第二螺纹杆转动,进而带动两个第二滑块同时向中部靠拢,两个挤压板同时向中部移动,保持对晶体棒限位同时使得晶体棒位于检测盒的中部,再启动第一伺服电机带动第一螺纹杆转动,带动激光灯在晶体棒外部进行移动照射,两个挤压板的中部与激光灯位于同一水平面设置,使得激光灯均可以照射不同粗细的晶体棒中部,从而达到可以自动控制不同粗细晶体棒中心与激光光束对齐的效果。

11、2.本技术中通过设置的遮光板对第一滑槽和第二滑槽进行遮挡,盒盖对放置口进行遮挡,避免外部光线进入检测盒内部影响光强度传感器的检测准确性,从而达到保持检测时不受外部光线影响,提高检测准确性的效果。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种晶体棒测试装置,包括检测盒(1),其特征在于:所述检测盒(1)一端铰接有盒盖(2),所述检测盒(1)另一端的一侧固定有第一伺服电机(4),所述检测盒(1)靠近第一伺服电机(4)一侧中部横向贯穿开设有第一滑槽(6),所述第一伺服电机(4)的动力输出端固定有第一螺纹杆(8),所述第一螺纹杆(8)外壁螺纹连接有第一滑块(9),所述第一滑块(9)与第一滑槽(6)滑动连接,所述第一滑块(9)靠近检测盒(1)中部一侧固定有连接杆(10),所述连接杆(10)一侧顶部固定有激光灯(11),所述连接杆(10)另一侧顶部固定有光强度传感器(12),所述检测盒(1)远离第一伺服电机(4)一侧的中部竖向贯穿开设有第二滑槽(13),所述检测盒(1)靠近第二滑槽(13)一侧顶部固定有第二伺服电机(5),所述第二伺服电机(5)的动力输出端固定有第二螺纹杆(14),所述第二螺纹杆(14)外壁螺纹连接有第二滑块(15),所述第二滑块(15)靠近检测盒(1)中部一端固定有挤压板(16)。

2.如权利要求1所述一种晶体棒测试装置,其特征在于:所述检测盒(1)靠近第一伺服电机(4)一侧的另一端固定有连接块(7),所述第一螺纹杆(8)的另一端与连接块(7)转动连接。

3.如权利要求1所述一种晶体棒测试装置,其特征在于:所述连接杆(10)呈U型设置,所述激光灯(11)的水平高度与第一滑槽(6)的中部位于同一水平高度。

4.如权利要求1所述一种晶体棒测试装置,其特征在于:所述第二滑块(15)设置有两个,两个所述第二滑块(15)关于检测盒(1)中部横向水平面呈对称状设置,且两个所述第二滑块(15)均与第二螺纹杆(14)螺纹连接,且两个所述第二滑块(15)的螺纹方向相反。

5.如权利要求1所述一种晶体棒测试装置,其特征在于:所述挤压板(16)呈弧形设置,两个所述挤压板(16)弧形一侧呈相对状设置,两个所述挤压板(16)的中部与激光灯(11)位于同一水平面设置。

6.如权利要求1所述一种晶体棒测试装置,其特征在于:所述检测盒(1)外壁靠近第一滑槽(6)一侧固定有遮光板(3),所述第一螺纹杆(8)活动贯穿遮光板(3)的一端。

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【技术特征摘要】

1.一种晶体棒测试装置,包括检测盒(1),其特征在于:所述检测盒(1)一端铰接有盒盖(2),所述检测盒(1)另一端的一侧固定有第一伺服电机(4),所述检测盒(1)靠近第一伺服电机(4)一侧中部横向贯穿开设有第一滑槽(6),所述第一伺服电机(4)的动力输出端固定有第一螺纹杆(8),所述第一螺纹杆(8)外壁螺纹连接有第一滑块(9),所述第一滑块(9)与第一滑槽(6)滑动连接,所述第一滑块(9)靠近检测盒(1)中部一侧固定有连接杆(10),所述连接杆(10)一侧顶部固定有激光灯(11),所述连接杆(10)另一侧顶部固定有光强度传感器(12),所述检测盒(1)远离第一伺服电机(4)一侧的中部竖向贯穿开设有第二滑槽(13),所述检测盒(1)靠近第二滑槽(13)一侧顶部固定有第二伺服电机(5),所述第二伺服电机(5)的动力输出端固定有第二螺纹杆(14),所述第二螺纹杆(14)外壁螺纹连接有第二滑块(15),所述第二滑块(15)靠近检测盒(1)中部一端固定有挤压板(16)。

2.如权利要求1所述一种晶体棒测试装置,其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员:周蕊
申请(专利权)人:北京圣通和晶科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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