【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及自动化检测，具体涉及一种检测装置、检测方法以及存储介质。
技术介绍
1、锂电池极片为例，目前很多产品在生产过程中，会对厚度、面密度或表面情况等检测项进行测量，需要对应的检测装置对对应的检测项进行检测。
2、检测装置的可靠性易受环境因素(例如温度、湿度、振动)的影响，还会受到使用时长等影响，为保证检测装置的可靠性，需要对其进行定期校准。现有技术方案是定期将测量模块移至检测区域两侧的校准区域进行测量模块的校准。
3、但随着锂电池极片生产工艺要求越来越严，对检测装置的可靠性要求也越来越高。对于现有的技术方案，如果要提高检测装置的可靠性，只能增加校准频次，而校准频次的增加，会额外占用的一定时间，导致检测装置的效率下降。
技术实现思路
1、本专利技术主要解决的技术问题是现有的检测装置的校准方式影响检测效率。
2、根据第一方面，一种实施例中提供一种检测装置，包括：底座、机架、驱动机构、第一测量模块、第二测量模块、第一校准模块以及第二校准模块；
3、机架可移动的安装在底座上；
4、驱动机构被配置为驱动机架沿第一预设方向往复运动，第一测量模块安装在机架的第一侧，第二测量模块安装在机架的第二侧；
5、第一校准模块连接在底座上且位于机架的第一侧；
6、第二校准模块连接在底座上且位于机架的第二侧；
7、第一测量模块跟随机架运动，形成第一测量区间；
8、第二测量模块跟随机架运动，形成第
9、机架在第一预设方向上的运动行程为d，第一测量模块与第二测量模块在第一预设方向上的距离为l，其中，l<d；第一校准模块和第二校准模块均位于第一测量区间与第二测量区间在第一预设方向上重叠的区间内，且第一校准模块和第二校准模块在第一预设方向上具有预设间距。
10、根据第二方面，一种实施例中提供一种检测方法，应用于第一方面所描述的检测装置，检测方法包括：
11、控制驱动机构驱动机架在第一预设方向往复运动；
12、在机架运动的过程中，控制第一测量模块对位于预设的第一测量区间内的待测件以及第一校准模块第一标准块进行测量，得到对应的第一测量数据以及第一校准数据；控制第二测量模块对位于预设的第二测量区间内的待测件以及第二校准模块第二标准块进行测量，得到第二测量数据以及第二校准数据；
13、根据第一校准数据判断第一测量模块的第一测量精度是否满足预设精度要求；
14、其中，若第一测量精度不满足预设精度要求，根据第一校准数据与第一校准模块第一标准块的预设的标准数据对第一测量数据进行校准；
15、根据第二校准数据判断第二测量模块的第二测量精度是否满足预设精度要求；
16、其中，若第二测量精度不满足预设精度要求，根据第二校准数据与第二校准模块第二标准块的预设的标准数据对第二测量数据进行校准。
17、根据第三方面，一种实施例中提供一种计算机可读存储介质，介质上存储有程序，程序能够被处理器执行以实现如第二方面所描述的方法。
18、依据上述实施例的检测装置、检测方法以及存储介质，通过在机架上设置校准模块，测量模块在对待测件进行测量的过程中，可以对校准模块上进行测量，通过对校准模块测量得到校准数据与预设的标准数据进行比较，可以检测测量模块的测量精度是否满足要求，可以实现一边测量一边校准；同时设置两组测量模块与校准模块，可以在测量数据上进行互补，避免校准模块的遮挡导致测量盲区的存在；通过上述检测装置，可以实现边测量边校准，可以保证或提高检测装置的检测效率以及检测精准度。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种检测装置，其特征在于，包括：底座、机架、驱动机构、第一测量模块、第二测量模块、第一校准模块以及第二校准模块；
2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述第一测量模块与所述第二测量模块沿所述第一预设方向前进运动时，依次进行加减速、匀速以及加减速运动，所述第一测量区间对应具有第一加减速区间M1、第一匀速运动区间O1以及第二加减速区间N1；所述第二测量区间对应具有第三加减速区间M2、第二匀速运动区间O2以及第四加减速区间N2；
3.如权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述第二加减速区间N1与所述第二匀速运动区间O2在第一预设方向上至少部分重叠，其中，(M1+N1)/2＜D-L；
4.如权利要求3所述的检测装置，其特征在于，所述第二加减速区间N1在第一预设方向上被所述第二匀速运动区间O2全部覆盖，其中，(M1+N1)＜D-L；
5.如权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述第一加减速区间M1与所述第二加减速区间N1在所述第一预设方向的长度相同；
6.如权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述第一加减速区间M
7.如权利要求2-6中任一项所述的检测装置，其特征在于，所述第一匀速运动区间O1与所述第三匀速运动区间R1在所述第一预设方向上具有重叠区间，所述第一校准模块设置在该重叠区间内；
8.如权利要求2-6中任一项所述的检测装置，其特征在于，所述第一校准模块包括第一标准块，所述第一标准块具有与待测件相同类型的待测特征，该待测特征具有预设的标准数据；
9.一种检测方法，其特征在于，应用于权利要求1-8中任一项所述的检测装置，所述检测方法包括：
10.如权利要求9所述的检测方法，其特征在于，若所述第一测量精度满足预设精度要求，不对所述第一测量数据进行校准，作为最终的第一测量数据；若所述第一测量精度不满足预设精度要求，将校准后的第一测量数据作为最终的第一测量数据；
11.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述介质上存储有程序，所述程序能够被处理器执行以实现如权利要求9或10所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种检测装置，其特征在于，包括：底座、机架、驱动机构、第一测量模块、第二测量模块、第一校准模块以及第二校准模块；
2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述第一测量模块与所述第二测量模块沿所述第一预设方向前进运动时，依次进行加减速、匀速以及加减速运动，所述第一测量区间对应具有第一加减速区间m1、第一匀速运动区间o1以及第二加减速区间n1；所述第二测量区间对应具有第三加减速区间m2、第二匀速运动区间o2以及第四加减速区间n2；
3.如权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述第二加减速区间n1与所述第二匀速运动区间o2在第一预设方向上至少部分重叠，其中，(m1+n1)/2＜d-l；
4.如权利要求3所述的检测装置，其特征在于，所述第二加减速区间n1在第一预设方向上被所述第二匀速运动区间o2全部覆盖，其中，(m1+n1)＜d-l；
5.如权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述第一加减速区间m1与所述第二加减速区间n1在所述第一预设方向的长度相同；
6.如权利要求4所...
【专利技术属性】
技术研发人员：朱瑞长，丁德甲，乔中涛，
申请(专利权)人：常州市大成真空技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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