【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及x射线衍射分析，具体涉及一种利用xrd分析铝质脱氧剂中单质铝含量的方法。
技术介绍
1、铝质脱氧剂主要成分包括al、al2o3、sio2、cao等。铝质脱氧剂是炼钢的辅料之一，在精炼过程中起着快速脱氧、脱硫、防止水口堵塞等作用。单质铝是脱氧的主要有效成分，而铝氧化物为惰性无效成分。通过分析单质铝含量可以对铝质脱氧剂脱氧能力进行有效评估。而传统化学分析方法只能对铝质脱氧剂铝中元素总含量进行分析，其包括了单质铝、al2o3两种形态的铝，无法分析出单质铝含量。
2、xrd(x射线衍射)分析技术是针对物相结构的分析工具，x射线经不同晶体结构的物相衍射后，会出现不同的x射线衍射图谱。利用此x射线特性，根据测试物x射线衍射强度与参比物相衍射强度关系可以进行铝质脱氧剂中单质铝含量的分析。
技术实现思路
1、本专利技术的目的就是针对上述问题，提供一种利用xrd分析铝质脱氧剂中单质铝含量的方法。
2、本专利技术的目的是这样实现的：1.一种利用xrd分析铝质脱氧剂中单质铝含量的方法，包括以下步骤：步骤一：标准参比样品制备：将参比物nacl粉末与纯铝粉末按照质量比1:1混合均匀；步骤二：将步骤一得到的粉末样品用xrd进行扫描，得到衍射图谱；步骤三：从衍射图谱获得nacl与纯铝的定量衍射峰强度并进行k值计算，k＝ial/ina，ial：铝衍射峰强度，ina：nacl衍射峰强度；步骤四：将待测铝质脱氧剂粉末与nacl粉末称重混合均匀，并记录铝质脱氧剂粉末重量m1，nac
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4、所述nacl粉末、纯铝粉末、铝质脱氧剂粉末需要经过研磨，颗粒半径范围为50～100μm。
5、步骤四的铝质脱氧剂粉末与nacl粉末质量比范围为1g:(0.3～0.8g)。
6、xrd扫描参数为：x光管电压：35～40kv，x光管电流：45～55ma，扫描角度范围：30°～50°，扫描速度：≤1°每分钟。
7、计算使用的铝衍射峰强度为其45°衍射峰的强度，nacl的衍射峰强度为其37°衍射峰强度，衍射峰强度在xrd分析软件中先扣除背底噪声然后读取得到。
8、本专利技术的有益效果是：本专利技术可以较为精确的分析铝质脱氧剂中还原性单质铝含量，排除铝质脱氧剂中其他形态铝的干扰，弥补了传统方法的不足。该方法操作简单，分析结果较为精确，对炼钢辅料铝质脱氧剂的质量评估提供了重要的依据。
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1.一种利用XRD分析铝质脱氧剂中单质铝含量的方法，其特征在于：包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种利用XRD分析铝质脱氧剂中单质铝含量的方法，其特征在于：所述NaCl粉末、纯铝粉末、铝质脱氧剂粉末需要经过研磨，颗粒半径范围为50～100μm。
3.根据权利要求1所述的一种利用XRD分析铝质脱氧剂中单质铝含量的方法，其特征在于：步骤四的铝质脱氧剂粉末与NaCl粉末质量比范围为1g:(0.3～0.8g)。
4.根据权利要求1所述的一种利用XRD分析铝质脱氧剂中单质铝含量的方法，其特征在于：XRD扫描参数为：X光管电压：35～40KV，X光管电流：45～55mA，扫描角度范围：30°～50°，扫描速度：≤1°每分钟。
5.根据权利要求1所述的一种利用XRD分析铝质脱氧剂中单质铝含量的方法，其特征在于：计算使用的铝衍射峰强度为其45°衍射峰的强度，NaCl的衍射峰强度为其37°衍射峰强度，衍射峰强度在XRD分析软件中先扣除背底噪声然后读取得到。
【技术特征摘要】
1.一种利用xrd分析铝质脱氧剂中单质铝含量的方法，其特征在于：包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种利用xrd分析铝质脱氧剂中单质铝含量的方法，其特征在于：所述nacl粉末、纯铝粉末、铝质脱氧剂粉末需要经过研磨，颗粒半径范围为50～100μm。
3.根据权利要求1所述的一种利用xrd分析铝质脱氧剂中单质铝含量的方法，其特征在于：步骤四的铝质脱氧剂粉末与nacl粉末质量比范围为1g:(0.3～0.8g)。
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【专利技术属性】
技术研发人员：刘浩，徐梅，廉晓洁，赵振铎，谷宇，
申请(专利权)人：山西太钢不锈钢股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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