【技术实现步骤摘要】
本公开实施例涉及半导体，特别涉及一种测试方法、测试电路、装置以及可读存储介质。
技术介绍
1、存储器装置的操作速率，包含存储器装置的数据速率，已经随着时间而增加。作为存储器装置的速度增加的副作用，由于失真所致的数据错误可能增加。举例来说，可能出现所传输数据之间的符号间干扰，因此先前接收到的数据影响当前所接收数据(例如，先前接收到的数据影响且干扰随后所接收的数据)。校正此干扰的一个方式是通过使用决策反馈均衡器(dfe，decision feedback equalizer)电路，其可经编程以抵消(即，撤销、减轻或抵消)通道对所传输数据的影响。
技术实现思路
1、本公开实施例提供一种测试方法、测试电路、装置以及可读存储介质，至少可以测试判决反馈模式性能。
2、根据本公开一些实施例，本公开实施例一方面提供一种应用于存储系统的测试方法，包括：向存储系统的数据接收电路提供目标数据流，所述目标数据流包括交替出现且彼此不同的第一值和第二值，所述数据接收电路具有判决反馈均衡模式；所述数据接收电路接收所述目标数据流，输出与所述目标数据流以及所述判决反馈均衡模式相对应的输出信号；基于所述输出信号产生相对应的眼图；基于所述眼图，获取用于表征所述判决反馈均衡模式的性能的测试值。
3、在一些实施例中，所述输出与所述目标数据流以及所述判决反馈均衡功能相对应的输出信号，包括：所述数据接收电路不启用所述判决反馈均衡模式，输出与所述目标数据流相对应的原始输出信号；所述数据接收电路启用所述判决
4、在一些实施例中，所述基于所述校正眼图与所述原始眼图的差异，获取所述测试值，包括：获取所述校正眼图对应的参考电压最大值与所述原始眼图对应的参考电压最大值之间的第一差值，所述第一差值作为所述测试值。
5、在一些实施例中，所述基于所述校正眼图与所述原始眼图，获取所述测试值，包括：获取所述校正眼图对应的参考电压最小值与所述原始眼图对应的参考电压最小值之间的第二差值，所述第二差值的绝对值作为所述测试值。
6、在一些实施例中，所述判决反馈均衡模式具有不同档位；所述测试方法还包括：获取多个所述校正输出信号，且所述校正输出信号与每一档位一一对应；基于所述原始眼图与任一档位相对应的所述校正眼图，获取与所述档位相对应的测试值。
7、在一些实施例中，所述测试方法还包括：基于不同档位对应的所述测试值，获取表征曲线，所述表征曲线的横坐标表征档位，所述表征曲线的纵坐标表征测试值。
8、在一些实施例中，所述目标数据流包括二进制数据流0101010101或者二进制数据流1010101010。
9、根据本公开一些实施例，本公开实施例又一方面提供一种测试电路，应用于存储系统，包括：数据流输入电路，被配置为，向所述存储系统的数据接收电路提供目标数据流，所述目标数据流包括交替出现且彼此不同的第一值和第二值，所述数据接收电路具有判决反馈均衡模式，所述数据接收电路接收所述目标数据流，输出与所述目标数据流以及所述判决反馈均衡模式相对应的输出信号；眼图产生电路，被配置为，基于所述输出信号产生相对应的眼图；处理电路，被配置为，基于所述眼图，获取用于表征所述判决反馈均衡模式的性能的测试值。
10、在一些实施例中，还包括：控制电路，被配置为，控制所述数据接收电路是否启用所述判决反馈均衡模式；所述眼图产生电路被配置为，基于原始输出信号产生原始眼图，所述原始输出信号为，所述数据接收电路不启用所述判决反馈均衡模式，接收所述目标数据流并输出的输出信号；所述眼图产生电路还被配置为，基于校正输出信号产生校正眼图，所述校正输出信号为，所述数据接收电路启用所述判决反馈均衡模式，接收所述目标数据流并输出的输出信号。
11、在一些实施例中，所述处理电路还被配置为，基于所述校正眼图与所述原始眼图的差异，获取所述测试值。
12、在一些实施例中，所述判决反馈均衡模式具有不同的档位；所述控制电路还被配置为，控制所述数据接收电路以不同的档位启用所述判决反馈均衡模式。
13、根据本公开一些实施例，本公开实施例另一方面提供一种装置，包括存储系统还上述任意实施例提供的测试电路。
14、根据本公开一些实施例，本公开实施例再一方面提供一种可读存储介质，包括：具有存储于所述可读存储介质的程序，所述程序用以使处理器执行以下操作：产生目标数据流，所述目标数据流包括交替出现且彼此不同的抑制和第二值；向存储系统的数据接收电路提供所述目标数据流，所述数据接收电路具有判决反馈均衡模式，所述数据接收电路接收所述目标数据流，输出与所述目标数据流以及所述判决反馈均衡模式相对应的输出信号；基于所述输出信号产生相对应的眼图；基于所述眼图，获取用于表征所述判决反馈均衡模式的性能的测试值。
15、在一些实施例中，所述程序还用以使处理器执行以下操作的指令：控制所述数据接收电路不启用所述判决反馈均衡模式，以输出与所述目标数据流相对应的原始输出信号；控制所述数据接收电路启用判决反馈均衡模式，以输出与所述目标数据流相对应的校正输出信号；基于所述原始输出信号产生原始眼图；基于所述校正输出信号产生校正眼图；基于所述校正眼图与所述原始眼图的差异，获取所述测试值。
16、在一些实施例中，所述程序还用以使处理器执行以下操作的指令：获取所述校正眼图对应的参考电压最大值与所述原始眼图对应的参考电压最大值之间的第一差值，所述第一差值作为所述测试值。
17、本公开实施例提供的技术方案至少具有以下优点：
18、本公开实施例中，由于目标数据流为交替出现且彼此不同的第一值和第二值，即目标数据流为0和1交替出现或者1和0交替出现，此种情况下码间干扰量最小，数据接收电路进行判决反馈均衡处理的程度最能实际反应均衡性能。因此，基于这种目标数据流进行测试得到的测试值最能反映实际性能值，可以更为准确的反映判决反馈均衡模式的性能，有效避免对判决反馈均衡模式性能低估的问题，从而提高测试准确性。
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1.一种应用于存储系统的测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述输出与所述目标数据流以及所述判决反馈均衡功能相对应的输出信号，包括：
3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述基于所述校正眼图与所述原始眼图的差异，获取所述测试值，包括：
4.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述基于所述校正眼图与所述原始眼图，获取所述测试值，包括：
5.根据权利要求2-4任一项所述的测试方法，其特征在于，所述判决反馈均衡模式具有不同档位；所述测试方法还包括：
6.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：
7.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述目标数据流包括二进制数据流0101010101或者二进制数据流1010101010。
8.一种测试电路，应用于存储系统，其特征在于，包括：
9.根据权利要求8所述的测试电路，其特征在于，还包括：控制电路，被配置为，控制所述数据接收电路是否启用所述判决反馈均衡模式；
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