【技术实现步骤摘要】
本申请涉及印制电路板，特别是涉及一种灯板检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品。
技术介绍
1、随着显示技术的高速发展，pcb（printed circuit board，印制电路板）灯板作为显示技术的核心组件，其质量和可靠性成为制造过程中的重要关注点。
2、传统技术中，在对pcb灯板进行缺陷检测之前，通常需要先进行整板对位。
3、然而，在灯板存在局部缺陷时，可能会导致灯板上其他不存在缺陷的区域的位置发生整体偏移，这样，整板对位之后再进行缺陷检测，会出现大量误检。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够减少误检的灯板检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品。
2、第一方面，本申请提供了一种灯板检测方法，包括：
3、获取目标灯板的多组待测区域标准图像和多组待测区域扫描图像，待测区域标准图像与待测区域扫描图像一一对应；
4、从各待测区域标准图像中定位目标区域标准图像，并从各待测区域扫描图像中定位与目标区域标准图像相对应的目标区域扫描图像；
5、将目标区域标准图像与目标区域扫描图像进行对位；
6、基于对位后的目标区域标准图像对目标区域扫描图像进行检测。
7、在其中一个实施例中，目标区域标准图像包括多个待测焊盘标准图像，目标区域扫描图像包括多个待测焊盘扫描图像，待测焊盘标准图像与待测焊盘扫描图像一一对应；
8、基于对位后的目标区域标准图像对目标区域扫描图像进
9、从各待测焊盘标准图像中选取目标焊盘标准图像，并从各待测焊盘扫描图像中选取与目标焊盘标准图像相对应的目标焊盘扫描图像；
10、将目标焊盘标准图像与目标焊盘扫描图像进行焊盘对位；
11、基于焊盘对位后的目标焊盘标准图像对目标焊盘扫描图像进行检测。
12、在其中一个实施例中，获取目标灯板的多组待测区域标准图像和多组待测区域扫描图像，包括：
13、获取目标灯板的标准图像和扫描图像；
14、将标准图像的整体与扫描图像的整体进行全局对位；
15、基于全局对位后的标准图像对扫描图像进行缺失检测，得到缺失位置信息；
16、获取全局对位后的标准图像中各个待测区域标准图像的待测区域位置信息，基于缺失位置信息和待测区域位置信息，将扫描图像划分为多个待测区域扫描图像，待测区域扫描图像与待测区域标准图像一一对应。
17、在其中一个实施例中，将标准图像的整体与扫描图像的整体进行全局对位，包括：
18、基于标准图像，检测目标灯板的灯板顶点标准位置，并基于扫描图像，检测目标灯板的灯板顶点扫描位置；
19、基于灯板顶点标准位置和灯板顶点扫描位置，将标准图像的整体与扫描图像的整体进行全局对位。
20、在其中一个实施例中，目标灯板包括多个焊盘；
21、将目标区域标准图像与目标区域扫描图像进行对位，包括：
22、基于全局对位后的标准图像，检测至少一个焊盘的焊盘中心标准位置，并基于全局对位后的扫描图像，检测至少一个焊盘的焊盘中心扫描位置；
23、基于焊盘中心标准位置和焊盘中心扫描位置，将目标区域标准图像与目标区域扫描图像进行对位。
24、在其中一个实施例中，基于对位后的目标区域标准图像对目标区域扫描图像进行检测之后，还包括：
25、将目标区域标准图像确定为已检区域标准图像，返回执行从各待测区域标准图像中定位目标区域标准图像的步骤。
26、第二方面，本申请还提供了一种灯板检测装置，包括：
27、获取模块，用于获取目标灯板的多组待测区域标准图像和多组待测区域扫描图像，待测区域标准图像与待测区域扫描图像一一对应；
28、定位模块，用于从各待测区域标准图像中定位目标区域标准图像，并从各待测区域扫描图像中定位与目标区域标准图像相对应的目标区域扫描图像；
29、对位模块，用于将目标区域标准图像与目标区域扫描图像进行对位；
30、检测模块，用于基于对位后的目标区域标准图像对目标区域扫描图像进行检测。
31、第三方面，本申请还提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现以下步骤：
32、获取目标灯板的多组待测区域标准图像和多组待测区域扫描图像，待测区域标准图像与待测区域扫描图像一一对应；
33、从各待测区域标准图像中定位目标区域标准图像，并从各待测区域扫描图像中定位与目标区域标准图像相对应的目标区域扫描图像；
34、将目标区域标准图像与目标区域扫描图像进行对位；
35、基于对位后的目标区域标准图像对目标区域扫描图像进行检测。
36、第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
37、获取目标灯板的多组待测区域标准图像和多组待测区域扫描图像，待测区域标准图像与待测区域扫描图像一一对应；
38、从各待测区域标准图像中定位目标区域标准图像，并从各待测区域扫描图像中定位与目标区域标准图像相对应的目标区域扫描图像；
39、将目标区域标准图像与目标区域扫描图像进行对位；
40、基于对位后的目标区域标准图像对目标区域扫描图像进行检测。
41、第五方面，本申请还提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
42、获取目标灯板的多组待测区域标准图像和多组待测区域扫描图像，待测区域标准图像与待测区域扫描图像一一对应；
43、从各待测区域标准图像中定位目标区域标准图像，并从各待测区域扫描图像中定位与目标区域标准图像相对应的目标区域扫描图像；
44、将目标区域标准图像与目标区域扫描图像进行对位；
45、基于对位后的目标区域标准图像对目标区域扫描图像进行检测。
46、上述灯板检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品，首先，获取目标灯板的多组待测区域标准图像和多组待测区域扫描图像，待测区域标准图像可以表征目标灯板的检测标准，而待测区域扫描图像可以表征目标灯板的实际情况；进而，通过将目标区域标准图像与目标区域扫描图像进行对位，实现了分区域独立对位；进而基于对位后的目标区域标准图像对目标区域扫描图像进行检测。这样，相比于整板对位之后再进行缺陷检测的方式，分区域独立对位的方式，可以有效矫正每个区域因受到其他区域的影响而发生的整体偏移，减少区域之间的相互干扰，从而提高灯板检测的准确性，减少良品被误检为不良品，从而可以减少因误检而导致的不必要的返工操作，节约人力资源和时间资源，以及减少因误检而导致良品遭到废弃的情况，减少浪费，降低成本。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种灯板检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标区域标准图像包括多个待测焊盘标准图像，所述目标区域扫描图像包括多个待测焊盘扫描图像，所述待测焊盘标准图像与所述待测焊盘扫描图像一一对应；
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取目标灯板的多组待测区域标准图像和多组待测区域扫描图像，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述将所述标准图像的整体与所述扫描图像的整体进行全局对位，包括：
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述目标灯板包括多个焊盘；
6.根据权利要求1至4任意一项所述的方法，其特征在于，所述基于对位后的目标区域标准图像对所述目标区域扫描图像进行检测之后，还包括：
7.一种灯板检测装置，其特征在于，所述装置包括：
8.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质，其上
10.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种灯板检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标区域标准图像包括多个待测焊盘标准图像，所述目标区域扫描图像包括多个待测焊盘扫描图像，所述待测焊盘标准图像与所述待测焊盘扫描图像一一对应；
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取目标灯板的多组待测区域标准图像和多组待测区域扫描图像，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述将所述标准图像的整体与所述扫描图像的整体进行全局对位，包括：
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述目标灯板包括多个焊盘；
6.根据权利要求1至4任意一项...
【专利技术属性】
技术研发人员：李文科，黎宏，陈鹏宇，刘燕坡，杨朝辉，
申请(专利权)人：深圳市大族数控科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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