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【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本公开涉及记录介质、信息的记录方法和信息的读取方法。
技术介绍
1、作为用于增加光信息记录介质的记录容量的技术,已知在多层体中记录信息的三维记录。在三维记录的领域中,为了提高记录密度,需要实现更微细的光集聚点。从集聚的激光的衍射极限的观点出发,为了实现更微细的光集聚点,使用具有短波长的激光。作为该激光,可列举出blu-ray(注册商标)盘的规格即具有405nm的中心波长的激光。这样一来,已知使用了具有405nm的中心波长的激光的记录介质。
2、在专利文献1中公开了以树脂层彼此之间的界面作为反射面的记录介质。在专利文献1的记录介质中,不必另外设置反射膜。在专利文献2中,公开了通过对记录层照射记录光、使其折射率变化从而记录信息的记录介质。在专利文献2中,记录层具有色素和高分子粘合剂。在专利文献3中公开了利用具有彼此不同的波长的记录光和再现光的记录介质。
3、现有技术文献
4、专利文献
5、专利文献1:日本专利第4890507号公报
6、专利文献2:日本专利第5357114号公报
7、专利文献3:日本专利第4712798号公报
8、专利文献4:日本专利第5553723号公报
技术实现思路
1、专利技术所要解决的课题
2、需要适于信息的记录和读取的新型的记录介质。
3、用于解决课题的手段
4、本公开的一个方案中的记录介质包括:第一电介质层、第二电介质层、和具有通过照射光从
5、(1.33-0.15n1){405(m+1/2)/(2n1)}<d≤(1.33-0.15n1){405(m+1)/(2n1)} (1)
6、n1>n2 (2)
7、n1>n3 (3)
8、在所述式(1)中,m为0至4的整数。
9、专利技术效果
10、本公开提供适于信息的记录和读取的新型的记录介质。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种记录介质,其包括:第一电介质层、第二电介质层、和具有通过照射光从而记录信息的记录区域并且位于所述第一电介质层与所述第二电介质层之间的记录层,
2.根据权利要求1所述的记录介质,其中,所述折射率n1与所述折射率n2之差为0.2以上,所述折射率n1与所述折射率n3之差为0.2以上。
3.根据权利要求1所述的记录介质,其中,所述折射率n1为1.65以上。
4.根据权利要求1所述的记录介质,其中,在所述记录层中,通过照射记录光从而形成凹形状的记录标记。
5.根据权利要求1所述的记录介质,其中,所述色素材料包含聚合物P1,所述聚合物P1包含具有非线性光吸收特性的基团。
6.根据权利要求5所述的记录介质,其中,所述聚合物P1具有来自乙烯基咔唑类的结构单元。
7.根据权利要求1所述的记录介质,其中,所述记录层还包含聚合物P2。
8.根据权利要求7所述的记录介质,其中,所述聚合物P2具有来自乙烯基咔唑类的结构单元。
9.一种信息的记录方法,其包括:准备发出具有390nm以上且410nm以下的波
10.一种信息的读取方法,其是采用权利要求9所述的记录方法记录的信息的读取方法,所述读取方法包括:通过对所述记录介质中的所述记录层照射光,从而测定所述记录层的光学特性;和从所述记录层读取信息。
11.根据权利要求10所述的读取方法,其中,所述光学特性为在所述记录层反射的光的强度。
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种记录介质,其包括:第一电介质层、第二电介质层、和具有通过照射光从而记录信息的记录区域并且位于所述第一电介质层与所述第二电介质层之间的记录层,
2.根据权利要求1所述的记录介质,其中,所述折射率n1与所述折射率n2之差为0.2以上,所述折射率n1与所述折射率n3之差为0.2以上。
3.根据权利要求1所述的记录介质,其中,所述折射率n1为1.65以上。
4.根据权利要求1所述的记录介质,其中,在所述记录层中,通过照射记录光从而形成凹形状的记录标记。
5.根据权利要求1所述的记录介质,其中,所述色素材料包含聚合物p1,所述聚合物p1包含具有非线性光吸收特性的基团。
6.根据权利要求5所述的记录介质,其中,所述聚合物p1具有来自乙烯基...
【专利技术属性】
技术研发人员:安藤康太,横山麻纱子,田头健司,荒濑秀和,
申请(专利权)人:松下知识产权经营株式会社,
类型:发明
国别省市:
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