【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及偏光片检测，具体涉及一种偏光片的外观缺陷检测方法和装置。
技术介绍
1、偏光片是一种具有特定光学特性的薄膜材料，主要用于控制光线的传播方向和强度。在液晶显示设备中，偏光片被放置在液晶面板的前后两侧，起到将自然光转化为适合显示的光源，并控制光线的通过方向，从而实现图像的显示。
2、在某一工艺下，偏光片生产制作流程主要包括如下步骤：通过裁断机，将偏光片卷材通过相应的模具加工成半成品片材；通过单板机，将样品加工对应迅速直接成型；通过清洁机，对片材的离保面进行粘尘清洁，确保洁净度；通过喷码机，对偏光片进行喷码，区分正反面及上下板；通过磨边机，将片材的边缘进行打磨精加工，确保尺寸及边缘封胶效果；通过检查工位，对偏光片进行外观缺陷的检测。
3、其中，在检查工位主要是检测偏光片的划痕、污渍、折痕、裂缝、残胶、夹杂物等外观缺陷，目前的检测方式主要有人工检查和机器自动检测两种。人工检查需要耗费大量的时间和人力资源，且准确性取决于人员的能力和精力。自动检测主要是采用机器视觉检测技术，然而，由于偏光片外观缺陷的种类繁多，机器视觉检测中采集的单幅图像只能检测到一小部分类型的外观缺陷，而多幅图像在图像处理和分析上会耗费较多时间，延长了偏光片在检查工位的停滞时间，影响生产效率。此外，偏光片为多层结构，外观缺陷可能出现在任一层，目前的机器视觉检测技术难以确定缺陷所处的层位。
技术实现思路
1、本专利技术为解决上述技术问题，提供了一种偏光片的外观缺陷检测方法和装置，不仅能够提
2、本专利技术采用的技术方案如下：
3、一种偏光片的外观缺陷检测方法，包括以下步骤：获取待检测偏光片的n个图像，其中，每两个所述图像具有至少一种不同的采集条件，n为大于1的整数；将n个所述图像输入缺陷检测模型，其中，所述缺陷检测模型引入注意力机制；在所述缺陷检测模型中，通过特征提取单元对每个所述图像进行特征提取，得到每个所述图像对应的特征信息；在所述缺陷检测模型中，将n个所述图像的特征信息分别一一对应地输入n个目标序列生成单元，在每个所述目标序列生成单元中，根据对应的图像的特征信息和多个查询向量生成该图像中目标缺陷的序列和目标缺陷所处的层位，其中，多个所述查询向量与所述待检测偏光片中的多个层位一一对应；在所述缺陷检测模型中，将n个所述图像中目标缺陷的序列分别一一对应地输入n个缺陷判断单元，在每个所述缺陷判断单元中，根据对应的图像的目标缺陷的序列判断该图像中目标缺陷的类型。
4、进一步地，所述采集条件包括：相机类型、光源类型、光源照射角度、光源相机位置关系。
5、进一步地，所述特征提取单元包括编码器，所述目标序列生成单元包括解码器，所述缺陷判断单元包括分类器。
6、进一步地，所述缺陷检测模型通过训练集训练得到，所述训练集包含偏光片缺陷样本图像，所述偏光片缺陷样本图像以缺陷类型作为标签进行标注。
7、进一步地，还将所述训练集中的偏光片缺陷样本图像以缺陷所处层位为标签进行标注，并在该标注方式下对所述缺陷检测模型实施新的训练，训练后得到每个缺陷所处层位对应的多个特征向量，将每个缺陷所处层位对应的多个特征向量求均值，得到该缺陷所处层位对应的查询向量。
8、一种偏光片的外观缺陷检测装置，包括：获取模块，所述获取模块用于获取待检测偏光片的n个图像，其中，每两个所述图像具有至少一种不同的采集条件，n为大于1的整数；输入模块，所述输入模块用于将n个所述图像输入缺陷检测模型，其中，所述缺陷检测模型引入注意力机制，在所述缺陷检测模型中，通过特征提取单元对每个所述图像进行特征提取，得到每个所述图像对应的特征信息；在所述缺陷检测模型中，将n个所述图像的特征信息分别一一对应地输入n个目标序列生成单元，在每个所述目标序列生成单元中，根据对应的图像的特征信息和多个查询向量生成该图像中目标缺陷的序列和目标缺陷所处的层位，其中，多个所述查询向量与所述待检测偏光片中的多个层位一一对应；在所述缺陷检测模型中，将n个所述图像中目标缺陷的序列分别一一对应地输入n个缺陷判断单元，在每个所述缺陷判断单元中，根据对应的图像的目标缺陷的序列判断该图像中目标缺陷的类型。
9、进一步地，所述采集条件包括：相机类型、光源类型、光源照射角度、光源相机位置关系。
10、进一步地，所述特征提取单元包括编码器，所述目标序列生成单元包括解码器，所述缺陷判断单元包括分类器。
11、进一步地，所述缺陷检测模型通过训练集训练得到，所述训练集包含偏光片缺陷样本图像，所述偏光片缺陷样本图像以缺陷类型作为标签进行标注。
12、进一步地，还将所述训练集中的偏光片缺陷样本图像以缺陷所处层位为标签进行标注，并在该标注方式下对所述缺陷检测模型实施新的训练，训练后得到每个缺陷所处层位对应的多个特征向量，将每个缺陷所处层位对应的多个特征向量求均值，得到该缺陷所处层位对应的查询向量。
13、本专利技术的有益效果：
14、本专利技术利用一个缺陷检测模型，对多个图像同时进行特征提取，并以多个目标序列生成单元和多个缺陷判断单元针对多个图像分别地进行目标缺陷序列的生成和目标缺陷类型的判断，以及通过结合查询向量的方式获取到目标缺陷所处的层位，由此，不仅能够通过一个计算机的运算实现偏光片各类外观缺陷的同时检测，提高偏光片外观缺陷检测的全面性和效率，而且能够检测到缺陷所处层位，为前置供料、工艺的更正、优化及后续缺陷修复提供指导。
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1.一种偏光片的外观缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的偏光片的外观缺陷检测方法，其特征在于，所述采集条件包括：相机类型、光源类型、光源照射角度、光源相机位置关系。
3.根据权利要求1所述的偏光片的外观缺陷检测方法，其特征在于，所述特征提取单元包括编码器，所述目标序列生成单元包括解码器，所述缺陷判断单元包括分类器。
4.根据权利要求3所述的偏光片的外观缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测模型通过训练集训练得到，所述训练集包含偏光片缺陷样本图像，所述偏光片缺陷样本图像以缺陷类型作为标签进行标注。
5.根据权利要求4所述的偏光片的外观缺陷检测方法，其特征在于，还将所述训练集中的偏光片缺陷样本图像以缺陷所处层位为标签进行标注，并在该标注方式下对所述缺陷检测模型实施新的训练，训练后得到每个缺陷所处层位对应的多个特征向量，将每个缺陷所处层位对应的多个特征向量求均值，得到该缺陷所处层位对应的查询向量。
6.一种偏光片的外观缺陷检测装置，其特征在于，包括：
7.根据权利要求6所述的偏光片的外
8.根据权利要求6所述的偏光片的外观缺陷检测装置，其特征在于，所述特征提取单元包括编码器，所述目标序列生成单元包括解码器，所述缺陷判断单元包括分类器。
9.根据权利要求8所述的偏光片的外观缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测模型通过训练集训练得到，所述训练集包含偏光片缺陷样本图像，所述偏光片缺陷样本图像以缺陷类型作为标签进行标注。
10.根据权利要求9所述的偏光片的外观缺陷检测装置，其特征在于，还将所述训练集中的偏光片缺陷样本图像以缺陷所处层位为标签进行标注，并在该标注方式下对所述缺陷检测模型实施新的训练，训练后得到每个缺陷所处层位对应的多个特征向量，将每个缺陷所处层位对应的多个特征向量求均值，得到该缺陷所处层位对应的查询向量。
...【技术特征摘要】
1.一种偏光片的外观缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的偏光片的外观缺陷检测方法，其特征在于，所述采集条件包括：相机类型、光源类型、光源照射角度、光源相机位置关系。
3.根据权利要求1所述的偏光片的外观缺陷检测方法，其特征在于，所述特征提取单元包括编码器，所述目标序列生成单元包括解码器，所述缺陷判断单元包括分类器。
4.根据权利要求3所述的偏光片的外观缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测模型通过训练集训练得到，所述训练集包含偏光片缺陷样本图像，所述偏光片缺陷样本图像以缺陷类型作为标签进行标注。
5.根据权利要求4所述的偏光片的外观缺陷检测方法，其特征在于，还将所述训练集中的偏光片缺陷样本图像以缺陷所处层位为标签进行标注，并在该标注方式下对所述缺陷检测模型实施新的训练，训练后得到每个缺陷所处层位对应的多个特征向量，将每个缺陷所处层位对应的多个特征向量求均值，得到该缺陷所处层位对应的查询向量。
【专利技术属性】
技术研发人员：赵毅，朱乐，
申请(专利权)人：南京冠石科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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