【技术实现步骤摘要】
本申请涉及显示，尤其涉及面板装配方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、microled(微型发光二极管)显示技术以其功耗低、寿命长、亮度高等特点，逐渐成为新一代显示的主流产品。
2、目前，在采用microled显示技术的投影产品的制造流程中，投影模组中各单色发光面板的装配过程至关重要，然而，目前面板的装配对齐处理依赖于人工调试，过程操作繁琐，且难以形成统一、标准化的调整方案，难以确保面板装配对准偏差所导致的成像偏移问题能被有效识别并修正，使得出厂产品的成像质量参差不齐。
3、综上，如何有效检测并修正成像偏移问题以提升投影产品的成像效果，俨然已成为本领域亟需解决的技术问题。
技术实现思路
1、本申请的主要目的在于提供一种面板装配方法、装置、电子设备及存储介质，旨在有效检测并修正成像偏移问题以提升投影产品的成像效果。
2、为实现上述目的，本申请提出一种面板装配方法，面板装配方法包括：
3、获取测试投影模组分别通过各投影通道对预设的测试图像进行投影显示时的各投影画面；
4、根据各所述投影画面计算所述测试投影模组中各单色发光面板之间的面板偏移值；
5、根据所述面板偏移值调整各所述单色发光面板的装配位置，以使所述面板偏移值满足预设的装配精度需求。
6、在一实施例中，所述获取测试投影模组分别通过各投影通道对预设的测试图像进行投影显示时的各投影画面的步骤之前，还包括：
7、按照预设的装配需求
8、在各所述投影通道之间的亮度差值超过预设阈值时，将预设的圆阵列图像确定为测试图像，其中，各所述投影通道投影显示的各圆阵列图像中圆的大小不同；
9、在各所述投影通道之间的亮度差值未超过所述预设阈值时，将预设的网格图像确定为测试图像。
10、在一实施例中，所述根据各所述投影画面计算所述测试投影模组中各单色发光面板之间的面板偏移值的步骤，包括：
11、对于各所述投影画面，确定所述投影画面中各特征点的位置；
12、对于各所述特征点，计算所述特征点在不同投影画面中位置的位移差值；
13、根据各所述特征点的位移差值计算所述测试投影模组中各单色发光面板之间的面板偏移值。
14、在一实施例中，所述对于各所述投影画面，确定所述投影画面中各特征点的位置的步骤，包括：
15、在所述测试图像为圆阵列图像时，对于各所述投影画面，确定所述投影画面中各圆形区域的圆心位置，并将各所述圆心位置作为各特征点的位置；
16、在所述测试图像为网格图像时，对于各所述投影画面，确定所述投影画面中的各格点位置，并将各所述格点位置作为各特征点的位置。
17、在一实施例中，所述根据各所述特征点的位移差值计算所述测试投影模组中各单色发光面板之间的面板偏移值的步骤，包括：
18、对各所述特征点的位移差值进行求和取均值处理，得到各所述投影画面的像素偏移值；
19、根据所述像素偏移值计算所述测试投影模组中各单色发光面板之间的面板偏移值，其中，所述面板偏移值与所述像素偏移值成线性正比。
20、在一实施例中，所述根据所述面板偏移值调整各所述单色发光面板的装配位置的步骤之后，还包括：
21、获取测试投影模组分别通过各投影通道对所述测试图像进行投影显示时的各验证画面；
22、根据各所述验证画面中的特征点位置确定各所述单色发光面板之间的面板偏移值；
23、根据各所述面板偏移值确定各所述单色发光面板的装配位置是否满足所述装配精度需求。
24、在一实施例中，所述根据所述面板偏移值调整各所述单色发光面板的装配位置的步骤，包括：
25、在所述单色发光面板包括红光面板、绿光面板和蓝光面板时，将所述红光面板的装配位置作为基准装配位置；
26、根据所述绿光面板与所述红光面板之间的面板偏移值，调整所述绿光面板的装配位置；
27、根据所述蓝光面板与所述红光面板之间的面板偏移值，调整所述蓝光面板的装配位置。
28、此外，为实现上述目的，本申请还提出一种面板装配装置，面板装配装置包括：
29、画面获取模块，用于获取测试投影模组分别通过各投影通道对预设的测试图像进行投影显示时的各投影画面；
30、偏移值计算模块，用于根据各所述投影画面计算所述测试投影模组中各单色发光面板之间的面板偏移值；
31、装配模块，用于根据所述面板偏移值调整各所述单色发光面板的装配位置，以使所述面板偏移值满足预设的装配精度需求。
32、此外，为实现上述目的，本申请还提出一种电子设备，设备包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，计算机程序配置为实现如上文的面板装配方法的步骤。
33、此外，为实现上述目的，本申请还提出一种存储介质，存储介质为计算机可读存储介质，存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如上文的面板装配方法的步骤。
34、本申请提出了一种面板装配方法，本申请中，由测试投影模组通过自身各个独立的投影通道，对预先设定的测试图像进行投影显示，并获取投影显示的各投影画面，然后，根据获取的各投影画面计算测试投影模组中各单色发光面板之间的面板偏移值，最后，根据计算出的面板偏移值对各个单色发光面板的装配位置进行调整，以使各单色发光面板的面板偏移值满足预设的装配精度需求。
35、综上可知，本申请通过在测试投影模组的面板装配过程中，自动获取测试投影模组通过各投影通道分别投影测试图像时的投影画面，根据各投影画面确定各单色发光面板之间的面板偏移值，进而根据面板偏移值自动调整各单色发光面板的装配位置，以使调整后的测试投影模组中各投影通道的成像画面能够重合，通过标准化的计算与调整，确保了每个投影产品的面板装配精度都能达到出厂标准，同时提高了面板装配效率，也减少了因人工装配对准不齐而导致的成像偏移问题，提升了投影产品的成像效果。
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1.一种面板装配方法，其特征在于，所述面板装配方法包括：
2.如权利要求1所述的面板装配方法，其特征在于，所述获取测试投影模组分别通过各投影通道对预设的测试图像进行投影显示时的各投影画面的步骤之前，还包括：
3.如权利要求1所述的面板装配方法，其特征在于，所述根据各所述投影画面计算所述测试投影模组中各单色发光面板之间的面板偏移值的步骤，包括：
4.如权利要求3所述的面板装配方法，其特征在于，所述对于各所述投影画面，确定所述投影画面中各特征点的位置的步骤，包括：
5.如权利要求3所述的面板装配方法，其特征在于，所述根据各所述特征点的位移差值计算所述测试投影模组中各单色发光面板之间的面板偏移值的步骤，包括：
6.如权利要求1所述的面板装配方法，其特征在于，所述根据所述面板偏移值调整各所述单色发光面板的装配位置的步骤之后，还包括：
7.如权利要求1至6中任一项所述的面板装配方法，其特征在于，所述根据所述面板偏移值调整各所述单色发光面板的装配位置的步骤，包括：
8.一种面板装配装置，其特征在于，所述面板装
9.一种电子设备，其特征在于，所述设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序配置为实现如权利要求1至7中任一项所述的面板装配方法的步骤。
10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质为计算机可读存储介质，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的面板装配方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种面板装配方法，其特征在于，所述面板装配方法包括：
2.如权利要求1所述的面板装配方法，其特征在于，所述获取测试投影模组分别通过各投影通道对预设的测试图像进行投影显示时的各投影画面的步骤之前，还包括：
3.如权利要求1所述的面板装配方法，其特征在于，所述根据各所述投影画面计算所述测试投影模组中各单色发光面板之间的面板偏移值的步骤，包括：
4.如权利要求3所述的面板装配方法，其特征在于，所述对于各所述投影画面，确定所述投影画面中各特征点的位置的步骤，包括：
5.如权利要求3所述的面板装配方法，其特征在于，所述根据各所述特征点的位移差值计算所述测试投影模组中各单色发光面板之间的面板偏移值的步骤，包括：
6.如权利要求1所述的面板装配...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐振宾，
申请(专利权)人：歌尔光学科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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