【技术实现步骤摘要】
本申请涉及存储器测试，特别是涉及一种故障数据获取方法、装置、测试数据处理系统及可读存储介质。
技术介绍
1、存储器件在出厂之前需要进行测试以尽早发现故障，避免故障在出厂后用户使用过程中发现，给用户带来不必要的损失。测试方法通常是通过处理器将预先设置的数据写入被测存储器件，然后对写入数据进行读取，将写入的数据和读取的数据进行比较，以此来测试存储器件是否出现故障。对于批次存储器件的测试，可通过多个被测存储器件进行多次测试后统计累计故障次数，得到批次存储器件的故障数据。在被测存储器件数量多、容量大、测试次数多的情况下，会产生大量的测试数据用于进行故障数据的统计。而这些测试数据需要进行逐一读取和判断才能得到对应的故障结果，导致测试数据的处理和故障数据统计时间长，统计效率低下。
2、针对相关技术中存在的存储器件故障数据统计的处理时间长、效率低下的问题，目前还没有提出有效的解决方案。
技术实现思路
1、在本实施例中提供了一种故障数据获取方法、装置、测试数据处理系统及可读存储介质，以解决相关技术中存在的存储器件故障数据统计的处理时间长、效率低下的问题。
2、第一个方面，在本实施例中提供了一种故障数据获取方法，所述方法包括：
3、基于接收到的故障数据读取指令，获取批量测试数据的故障数量阈值，以及所述批量测试数据在被测存储器件中的访问地址信息；
4、基于所述访问地址信息，依次获取所述批量测试数据中的故障测试数据和对应的访问地址，并累计所述故障测试数据的
5、在所述故障测试数据的累计数量达到所述故障数量阈值的情况下，停止获取所述故障测试数据和对应的访问地址的过程，并返回基于所述故障测试数据和对应的访问地址生成的故障统计数据。
6、在其中的一些实施例中，所述基于所述访问地址信息，依次获取所述批量测试数据中的故障测试数据和对应的访问地址包括：
7、基于所述访问地址信息，依次获取所述批量测试数据中的测试数据和对应的访问地址；
8、基于所述测试数据的值，确定所述测试数据是否为故障测试数据；
9、在所述测试数据是故障测试数据的情况下，基于所述故障测试数据和对应的访问地址生成对应的故障统计数据。
10、在其中的一些实施例中，所述基于所述访问地址信息，依次获取所述批量测试数据中的测试数据和对应的访问地址包括：
11、基于所述访问地址信息，依次获取所述批量测试数据中的测试数据在所述被测存储器件中的访问地址和物理地址；
12、将所述访问地址依次存入地址缓存；
13、基于所述物理地址，依次读取对应的测试数据，并将所述测试数据依次存入数据缓存；
14、按照存入顺序依次读取所述数据缓存和所述地址缓存，获取所述测试数据和对应的访问地址。
15、在其中的一些实施例中，所述访问地址信息包括访问地址范围和地址映射关系，所述基于所述访问地址信息，依次获取所述批量测试数据中的测试数据在所述被测存储器件中的访问地址和物理地址包括：
16、基于所述访问地址范围，获取所述批量测试数据在所述被测存储器件中的行起始地址、行结束地址、列起始地址和列结束地址；
17、基于所述行起始地址、行结束地址、列起始地址和列结束地址进行行累加或列累加，依次获取所述测试数据的访问地址；
18、基于所述访问地址和所述地址映射关系，获取所述访问地址对应的物理地址。
19、在其中的一些实施例中，所述基于所述访问地址和所述地址映射关系，获取所述访问地址对应的物理地址包括：
20、基于所述地址映射关系中访问地址位与物理地址位的对应关系，以及所述访问地址位的值，确定对应的物理地址位的值；
21、将所述物理地址位按顺序排列，得到所述访问地址对应的物理地址。
22、在其中的一些实施例中，所述基于所述测试数据的值，确定所述测试数据是否为故障测试数据包括：
23、基于所述故障数据读取指令，获取所述测试数据的访问数据位；
24、基于所述访问数据位，读取所述测试数据中对应的数据值；
25、基于所述数据值，确定所述测试数据是否为故障数据。
26、在其中的一些实施例中，在所述基于所述测试数据的值，确定所述测试数据是否为故障测试数据之后，所述方法还包括：
27、在确定所述测试数据不是故障测试数据的情况下，丢弃所述测试数据和对应的访问地址；
28、在确定所述测试数据是故障测试数据的情况下，通过故障标识位对所述测试数据进行标识。
29、在其中的一些实施例中，所述基于所述故障测试数据和对应的访问地址生成对应的故障统计数据包括：
30、将所述故障测试数据和对应的访问地址进行组合，生成对应的故障统计数据；
31、将所述故障统计数据存入故障数据缓存。
32、在其中的一些实施例中，所述方法还包括：
33、基于所述访问地址信息，获取所述批量测试数据中的测试数据总数量；
34、在所述故障测试数据的累计数量未达到所述故障数量阈值的情况下，重复获取所述故障测试数据和对应的访问地址的过程，直至已读取的测试数据数量达到所述测试数据总数量。
35、第二个方面，在本实施例中提供了一种故障数据获取装置，所述装置包括：
36、第一获取模块，用于基于接收到的故障数据读取指令，获取批量测试数据的故障数量阈值，以及所述批量测试数据在被测存储器件中的访问地址信息；
37、第二获取模块，用于基于所述访问地址信息，依次获取所述批量测试数据中的故障测试数据和对应的访问地址，并累计所述故障测试数据的数量；
38、返回模块，用于在所述故障测试数据的累计数量达到所述故障数量阈值的情况下，停止获取所述故障测试数据和对应的访问地址的过程，并返回基于所述故障测试数据和对应的访问地址生成的故障统计数据。
39、第三个方面，在本实施例中提供了一种测试数据处理系统，所述测试数据处理系统包括如第二个方面所述的故障数据获取装置，以及存储单元、数据缓存、地址缓存和结果缓存；
40、所述故障数据获取装置用于从所述存储单元中依次读取测试数据，将所述测试数据和对应的访问地址分别存入数据缓存和地址缓存，以及将所述故障统计数据存入所述结果缓存。
41、第四个方面，在本实施例中提供了一种可读存储介质，其上存储有程序，所述程序被处理器执行时实现上述第一个方面所述的故障数据获取方法的步骤。
42、与相关技术相比，在本实施例中提供的故障数据获取方法，通过基于接收到的故障数据读取指令，获取批量测试数据的故障数量阈值，以及批量测试数据在被测存储器件中的访问地址信息，给出了批量测试数据的最大故障数量条件以及用于获取批量测试数据的地址；通过基于访问地址信息，依次获取批量测试数据中的故障测试数据和对应的访问地址，并累计本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种故障数据获取方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述访问地址信息，依次获取所述批量测试数据中的故障测试数据和对应的访问地址包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述访问地址信息，依次获取所述批量测试数据中的测试数据和对应的访问地址包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述访问地址信息包括访问地址范围和地址映射关系，所述基于所述访问地址信息，依次获取所述批量测试数据中的测试数据在所述被测存储器件中的访问地址和物理地址包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述访问地址和所述地址映射关系，获取所述访问地址对应的物理地址包括：
6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述测试数据的值，确定所述测试数据是否为故障测试数据包括：
7.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述基于所述测试数据的值，确定所述测试数据是否为故障测试数据之后，所述方法还包括：
8.根据权利要求2所述的方法，其特征在
9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
10.一种故障数据获取装置，其特征在于，所述装置包括：
11.一种测试数据处理系统，其特征在于，所述测试数据处理系统包括权利要求10所述的故障数据获取装置，以及存储单元、数据缓存、地址缓存和结果缓存；
12.一种可读存储介质，其上存储有程序，其特征在于，所述程序被处理器执行时实现权利要求1至9中任一项所述的故障数据获取方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种故障数据获取方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述访问地址信息，依次获取所述批量测试数据中的故障测试数据和对应的访问地址包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述访问地址信息，依次获取所述批量测试数据中的测试数据和对应的访问地址包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述访问地址信息包括访问地址范围和地址映射关系，所述基于所述访问地址信息，依次获取所述批量测试数据中的测试数据在所述被测存储器件中的访问地址和物理地址包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述访问地址和所述地址映射关系，获取所述访问地址对应的物理地址包括：
6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述测试数...
【专利技术属性】
技术研发人员：李豪，赵法福，郭美红，
申请(专利权)人：长迈半导体成都有限公司，
类型：发明
国别省市：
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