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【技术实现步骤摘要】
本申请涉及辐射检查,特别涉及一种辐射扫描检查设备。
技术介绍
1、用于货物/车辆辐射检查的辐射扫描检查设备是为了满足港口、海关等地大宗货物运输不停车快速检查的需要而设计的产品,可提供基于物质组成信息的高分辨率的扫描图像,检查人员能够有效快速的在不停车、不开箱情况下检查出藏匿于货物中的走私物品和各类违禁物。
2、相关技术中,辐射扫描检查设备的射线发射源的出束位置高度一般低于被扫描货物的车辆底盘上表面,且出束位置高度不能改变。射线从靶点发出,照向车辆及货物,对于车辆上部远离车辆底盘的货物,射线穿透成像不含有底盘信息;对于与车辆底盘贴近的货物,射线先穿过底盘,再经过货物成像,射线穿透成像信息为底盘与货物的重叠信息。由于底盘的复杂性,重叠的成像信息很难甄别。对于需要货物单独成像的场景,相关技术的辐射扫描检查设备无法满足需求。
3、上述陈述仅用于提供与本申请有关的
技术介绍
信息,而不必然地构成现有技术。
技术实现思路
1、本申请的目的在于提供一种辐射扫描检查设备,旨在解决相关技术的辐射扫描检查设备对被检物进行检查时成像信息中底盘信息与货物信息重叠的问题。
2、本申请提供一种辐射扫描检查设备,包括:
3、基体,被配置为在所述辐射扫描检查设备对被检物进行扫描检查时形成供所述被检物通过的通道;
4、透射扫描装置,包括用于发射射线的射线源和用于探测所述射线源发出的射线的探测器;和
5、臂架,所述透射扫描装置安装于所述臂架上,所述臂
6、在一些实施例的辐射扫描检查设备中,在不同的扫描工作位置所述探测器相对于所述射线源的位姿相同。
7、在一些实施例的辐射扫描检查设备中,所述射线源与所述探测器固定于所述臂架上。
8、在一些实施例的辐射扫描检查设备中,所述辐射扫描检查设备包括臂架转动铰座,所述臂架通过所述臂架转动铰座铰接于所述基体上。
9、在一些实施例的辐射扫描检查设备中,所述臂架转动铰座相对于所述基体位置可改变地设置。
10、在一些实施例的辐射扫描检查设备中,所述臂架被配置为绕水平轴转动。
11、在一些实施例的辐射扫描检查设备中,所述基体包括臂架结构外罩,所述臂架可转动地位于所述臂架结构外罩的内部空间内。
12、在一些实施例的辐射扫描检查设备中,所述辐射扫描检查设备还包括舱体,所述射线源位于所述舱体的内部空间内。
13、在一些实施例的辐射扫描检查设备中,所述臂架包括:
14、第一臂,所述射线源设置于所述第一臂上;
15、第二臂,所述第二臂与所述第一臂间隔地设置于所述通道的两侧,所述第二臂的底端与所述基体铰接;和
16、第三臂,连接于所述第一臂和所述第二臂的顶部,所述探测器设置于所述第二臂和/或所述第三臂上。
17、在一些实施例的辐射扫描检查设备中,
18、所述辐射扫描检查设备还包括舱体,所述射线源位于所述舱体的内部空间内;
19、所述基体包括臂架结构外罩,所述臂架可转动地位于所述臂架结构外罩的内部空间内,所述臂架结构外罩与所述舱体连接,且所述舱体的内部空间与所述臂架结构外罩的内部空间连通。
20、在一些实施例的辐射扫描检查设备中,所述臂架结构外罩包括:
21、第一罩体,所述第一罩体的下端与所述舱体连接,所述第一臂位于所述第一罩体内;
22、第二罩体,与所述第一罩体间隔地设置于所述通道的两侧,所述第二臂位于所述第二罩体内,所述第二臂的底部铰接于所述第二罩体的底部;和
23、第三罩体,所述第三罩体连接于所述第一罩体和所述第二罩体的顶部,所述第三臂位于所述第三罩体内。
24、在一些实施例的辐射扫描检查设备中,所述辐射扫描检查设备还包括驱动装置,所述驱动装置与所述臂架驱动连接,被配置为驱动所述臂架相对于所述基体转动。
25、在一些实施例的辐射扫描检查设备中,辐射扫描检查设备还包括:
26、车辆底盘高度获取装置,用于获取被检物中车辆底盘的高度信息;和
27、控制装置,与所述车辆底盘高度获取装置信号连接,被配置为根据所述车辆底盘高度获取装置获取的所述高度信息控制所述出束位置的高度。
28、基于本申请提供的辐射扫描检查设备,由于透射扫描装置安装于臂架上,而臂架相对于基体可转动地设置,因此可以通过臂架相对于基体转动使透射扫描装置具有至少两个扫描工作位置,其中,在不同的扫描工作位置,射线源的出束位置的高度不同,从而在对被检物进行检查时,可以根据底盘的高度不同选择不同的扫描工作位置,使扫描工作位置与底盘的高度更好地匹配,使得辐射扫描检查设备对被检物进行检查时成像信息中底盘信息与货物信息无重叠,提高成像质量,最终提高检查的准确率。
29、通过以下参照附图对本申请的示例性实施例的详细描述,本申请的其它特征及其优点将会变得清楚。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种辐射扫描检查设备,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的辐射扫描检查设备,其特征在于,在不同的扫描工作位置所述探测器(62)相对于所述射线源(61)的位姿相同。
3.根据权利要求1所述的辐射扫描检查设备,其特征在于,所述射线源(61)与所述探测器(62)固定于所述臂架(3)上。
4.根据权利要求1所述的辐射扫描检查设备,其特征在于,包括臂架转动铰座(5),所述臂架(3)通过所述臂架转动铰座(5)铰接于所述基体上。
5.根据权利要求4所述的辐射扫描检查设备,其特征在于,所述臂架转动铰座(5)相对于所述基体位置可改变地设置。
6.根据权利要求1所述的辐射扫描检查设备,其特征在于,所述臂架(3)被配置为绕水平轴转动。
7.根据权利要求1所述的辐射扫描检查设备,其特征在于,所述基体包括臂架结构外罩(2),所述臂架(3)可转动地位于所述臂架结构外罩(2)的内部空间内。
8.根据权利要求1所述的辐射扫描检查设备,其特征在于,还包括舱体(1),所述射线源(61)位于所述舱体(1)的内部空间内。
...【技术特征摘要】
1.一种辐射扫描检查设备,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的辐射扫描检查设备,其特征在于,在不同的扫描工作位置所述探测器(62)相对于所述射线源(61)的位姿相同。
3.根据权利要求1所述的辐射扫描检查设备,其特征在于,所述射线源(61)与所述探测器(62)固定于所述臂架(3)上。
4.根据权利要求1所述的辐射扫描检查设备,其特征在于,包括臂架转动铰座(5),所述臂架(3)通过所述臂架转动铰座(5)铰接于所述基体上。
5.根据权利要求4所述的辐射扫描检查设备,其特征在于,所述臂架转动铰座(5)相对于所述基体位置可改变地设置。
6.根据权利要求1所述的辐射扫描检查设备,其特征在于,所述臂架(3)被配置为绕水平轴转动。
7.根据权利要求1所述的辐射扫描检查设备,其特征在于,所述基体包括臂...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘明,高克金,孟辉,樊旭平,史俊平,宋全伟,
申请(专利权)人:同方威视技术股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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