【技术实现步骤摘要】
本公开实施例涉及半导体，尤其涉及一种集成电路的测试方法和非易失性可读存储介质。
技术介绍
1、在集成电路设计完成后，需要对集成电路进行验证。现有的仿真工具(例如，finesim或spice等)通过产生大量的测量激励(pattern)，以验证不同的逻辑功能以及各逻辑功能之间的相互组合是否正确。
2、然而，这些验证仅是逻辑功能的仿真，并未考虑到实际电路中的时序信息，无法对实际电路的时序信息进行模拟。
技术实现思路
1、根据本公开实施例的第一方面，提供一种集成电路的测试方法，包括：
2、获取所述集成电路中的测量单元；
3、对所述测量单元添加标记信息；其中，所述标记信息包括所述测量单元的预设时序参数；
4、对所述集成电路执行仿真操作，生成仿真结果；其中，所述仿真结果至少包括所述测量单元的测量时序参数；
5、根据所述测量时序参数和所述预设时序参数生成测量文件；其中，所述测量文件用于指示所述集成电路是否满足时序要求。
6、在一些实施例中，所述测量单元包括锁存器和/或触发器；
7、所述预设时序参数包括：建立时间裕量和保持时间裕量；
8、所述测量时序参数包括：建立时间和保持时间。
9、在一些实施例中，所述测量单元包括锁存器和/或触发器；所述获取所述电路中的测量单元，包括：
10、根据第一指令获取所述集成电路中的多个反馈单元；其中，所述反馈单元包括反馈结构，所述反馈结构包括第一子元
11、对所述多个反馈单元进行筛选，以确定所述测量单元。
12、在一些实施例中，所述对所述多个反馈单元进行筛选，以确定所述测量单元，包括：
13、在所述反馈单元包括传输门时，确定所述反馈单元为所述测量单元。
14、在一些实施例中，所述预设时序参数包括：建立时间裕量和保持时间裕量；所述测量时序参数包括：建立时间和保持时间；
15、所述根据所述测量时序参数和所述预设时序参数生成测量文件，包括：
16、在所述建立时间满足所述建立时间裕量，且所述保持时间满足所述保持时间裕量时，生成所述测量文件，所述测量文件指示所述集成电路满足所述时序要求；
17、或者，
18、在所述建立时间不满足所述建立时间裕量，和/或，所述保持时间不满足所述保持时间裕量时，生成所述测量文件，所述测量文件指示所述集成电路不满足所述时序要求。
19、在一些实施例中，在所述建立时间满足所述建立时间裕量，且所述保持时间满足所述保持时间裕量时，所述测量文件包括所述预设时序参数；
20、在所述建立时间不满足所述建立时间裕量时，所述测量文件包括所述建立时间；和/或，在所述保持时间不满足所述保持时间裕量时，所述测量文件包括所述保持时间。
21、在一些实施例中，所述对所述测量单元添加标记信息，包括：
22、根据第二指令对所述测量单元添加所述标记信息；其中，所述第二指令和所述第一指令不同。
23、在一些实施例中，所述对所述测量单元添加标记信息，包括：
24、生成测量表格；其中，所述测量表格包括所述测量单元的名称和所述测量单元的预设时序参数；
25、根据所述测量表格对所述测量单元添加所述标记信息。
26、在一些实施例中，所述预设时序参数包括：所述测量单元在不同工艺角的预设时序参数。
27、根据本公开实施例的第二方面，提供一种电子设备，所述电子设备包括：存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如本公开实施例第一方面中任一实施例所述的测试方法。
28、根据本公开实施例的第三方面，提供一种非易失性可读存储介质，所述非易失性可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如本公开实施例第一方面中任一实施例所述的测试方法。
29、本公开实施例中，通过获取集成电路中的测量单元；对测量单元添加标记信息，标记信息包括测量单元的预设时序参数；对集成电路执行仿真操作，生成仿真结果，仿真结果至少包括测量单元的测量时序参数；根据测量时序参数和预设时序参数生成测量文件，测量文件用于指示集成电路是否满足时序要求；第一方面，可在集成电路的全芯片仿真中生成包括测量时序参数和预设时序参数的测量文件，检查集成电路的设计是否满足时序要求，提高集成电路验证的覆盖率，寻找集成电路设计中的弱点(weak point)，从而调整集成电路的设计、优化集成电路的性能；第二方面，测量文件可直观地报告出电路设计内部时序裕量不足的节点，更易于设计者优化电路；第三方面，可精确地设定判断标准(即预设时序参数)，更易于分析测量结果。
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1.一种集成电路的测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，
3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测量单元包括锁存器和/或触发器；所述获取所述电路中的测量单元，包括：
4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述对所述多个反馈单元进行筛选，以确定所述测量单元，包括：
5.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述预设时序参数包括：建立时间裕量和保持时间裕量；所述测量时序参数包括：建立时间和保持时间；
6.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，在所述建立时间满足所述建立时间裕量，且所述保持时间满足所述保持时间裕量时，所述测量文件包括所述预设时序参数；
7.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述对所述测量单元添加标记信息，包括：
8.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述对所述测量单元添加标记信息，包括：
9.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述预设时序参数包括：所述测量单元在不同工艺角的预设时序参数。
10.一种非易失性可读存储介质，其特征在于，所述非易失性可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至9任一所述的测试方法。
...【技术特征摘要】
1.一种集成电路的测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，
3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测量单元包括锁存器和/或触发器；所述获取所述电路中的测量单元，包括：
4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述对所述多个反馈单元进行筛选，以确定所述测量单元，包括：
5.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述预设时序参数包括：建立时间裕量和保持时间裕量；所述测量时序参数包括：建立时间和保持时间；
6.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，在所述建立时间...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵飞龙，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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