System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() VCSEL芯片驰豫振荡频率预估方法、装置、设备、介质和程序产品制造方法及图纸_技高网

VCSEL芯片驰豫振荡频率预估方法、装置、设备、介质和程序产品制造方法及图纸

技术编号:43875265 阅读:7 留言:0更新日期:2024-12-31 18:58
本申请涉及一种VCSEL芯片驰豫振荡频率预估方法、装置、设备、介质和程序产品。所述方法包括:获取VCSEL芯片的RIN测试数据;基于RIN测试数据中表征各频率下的RIN强度的数据点集,得到频率响应曲线图;频率响应曲线图的横轴表示频率大小且纵轴表示RIN强度大小;对频率响应曲线图进行微分处理,得到一阶导数曲线图;将一阶导数曲线图中零点对应的频率,作为VCSEL芯片的理论弛豫振荡频率。采用本方法能够利用VCSEL芯片已有的RIN测试数据确定出VCSEL芯片的理论弛豫振荡频率,提高VCSEL芯片测试过程的数据利用率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及芯片测试,特别是涉及一种vcsel芯片驰豫振荡频率预估方法、装置、设备、介质和程序产品。


技术介绍

1、垂直腔面发射激光器(vertical cavity surface emitting laser ,vcsel)是一种广泛应用于光通信领域的半导体激光器。vcsel由于其复杂的制造工艺和工作原理,从而在生产过程中通常需要进行繁多的性能测试项目,包括rin测试、s参数测试等,这些性能测试项目对于保证vcsel的性能和质量是至关重要的。

2、随着光通信领域的快速发展,市面上对于vcsel的生产效率也提出了更高的要求。然而,目前在vcsel的生产过程中,对vcsel进行测试时无法有效利用vcsel已有的测试数据,导致了每一颗vcsel芯片都需要进行全面的性能测试,进而会导致vcsel的测试过程不仅十分繁琐还消耗了大量的时间人力成本。显然地,现有技术这种无法有效利用vcsel已有的测试数据的生产方式,不利于提高vcsel在大规模生产时的生产效率。


技术实现思路

1、基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够提高vcsel芯片测试效率的vcsel芯片驰豫振荡频率预估方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。

2、第一方面,本申请提供了一种vcsel芯片驰豫振荡频率预估方法,包括:

3、获取vcsel芯片的rin测试数据;

4、基于rin测试数据中表征各频率下的rin强度的数据点集,得到频率响应曲线图;频率响应曲线图的横轴表示频率大小且纵轴表示rin强度大小;

5、对频率响应曲线图进行微分处理,得到一阶导数曲线图;

6、将一阶导数曲线图中零点对应的频率,作为vcsel芯片的理论弛豫振荡频率。

7、第二方面,本申请还提供了一种vcsel芯片驰豫振荡频率预估装置,包括:

8、获取模块,用于获取vcsel芯片的rin测试数据;

9、响应模块,用于基于rin测试数据中表征各频率下的rin强度的数据点集,得到频率响应曲线图;频率响应曲线图的横轴表示频率大小且纵轴表示rin强度大小;

10、微分模块,用于对频率响应曲线图进行微分处理,得到一阶导数曲线图;

11、预估模块,用于将一阶导数曲线图中零点对应的频率,作为vcsel芯片的理论弛豫振荡频率。

12、第三方面,本申请还提供了一种计算机设备。所述计算机设备包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现本申请实施例第一方面任一方法中所描述的部分或全部步骤。

13、第四方面,本申请还提供了一种计算机可读存储介质。所述计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现本申请实施例第一方面任一方法中所描述的部分或全部步骤。

14、第五方面,本申请还提供了一种计算机程序产品。所述计算机程序产品,包括计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现本申请实施例第一方面任一方法中所描述的部分或全部步骤。

15、上述vcsel芯片驰豫振荡频率预估方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品,获取vcsel芯片的rin测试数据;基于rin测试数据中表征各频率下的rin强度的数据点集,得到频率响应曲线图;频率响应曲线图的横轴表示频率大小且纵轴表示rin强度大小;对频率响应曲线图进行微分处理,得到一阶导数曲线图;基于一阶导数曲线图中零点对应的频率,作为vcsel芯片的理论弛豫振荡频率。采用本申请提供的vcsel芯片驰豫振荡频率预估方法,能够通过利用vcsel芯片已有的rin测试数据确定出vcsel芯片的理论弛豫振荡频率,提高了vcsel芯片测试过程的数据利用率,从而能够提高vcsel芯片测试效率。

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【技术保护点】

1.一种VCSEL芯片驰豫振荡频率预估方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述RIN测试数据中表征各频率下的RIN强度的数据点集,得到频率响应曲线图,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述对所述初始响应曲线图中的数据点集包括的至少一个数据点进行去噪处理,得到所述频率响应曲线图,包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述一阶导数曲线图中零点对应的频率,作为所述VCSEL芯片的理论弛豫振荡频率,包括:

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述第一目标频率范围在所述VCSEL芯片的带宽的±10GHz范围内。

7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述预设零点条件为所述零点左侧一定频率范围内的RIN强度变化率大于0,零点右侧一定频率范围内的RIN强度变化率小于0。

10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述一定频率范围在所述零点对应的频率的±5 GHz范围内。

11.一种VCSEL芯片驰豫振荡频率预估装置,其特征在于,所述装置包括:

12.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至10中任一项所述的方法的步骤。

13.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至10中任一项所述的方法的步骤。

14.一种计算机程序产品,包括计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至10中任一项所述的方法的步骤。

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【技术特征摘要】

1.一种vcsel芯片驰豫振荡频率预估方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述rin测试数据中表征各频率下的rin强度的数据点集,得到频率响应曲线图,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述对所述初始响应曲线图中的数据点集包括的至少一个数据点进行去噪处理,得到所述频率响应曲线图,包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述一阶导数曲线图中零点对应的频率,作为所述vcsel芯片的理论弛豫振荡频率,包括:

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述第一目标频率范围在所述vcsel芯片的带宽的±10ghz范围内。

7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述方法...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘点昊陈浩
申请(专利权)人:浙江老鹰半导体技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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