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【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及对包含在培养皿上培养的多个细胞的细胞试样的培养状态进行测量的细胞试样测量方法和细胞试样测量装置。
技术介绍
1、培养细胞的技术不仅在关于细胞的基础研究中很重要,在例如再生医疗等实用领域中也很重要。
2、在细胞的培养中,为了使细胞系和细胞株进一步增殖,进行从细胞培养体系中除去培养基,将培养的细胞转移到新的培养基中的被称为传代的操作。另外,在培养了多个细胞的细胞试样中,将实施了传代操作的次数称为传代数。
3、专利文献1:日本特开2019-150018号公报
4、专利文献2:日本特开2018-130093号公报
5、非专利文献1:p.hughes et al.,"the costs of using unauthenticated,over-passaged cell lines:how much more data do we need?",bio techniques vol.43(2007),pp.575-586
6、非专利文献2:e.larson et al.,"mid-infrared absorption by soft tissuesarcoma and cell ablation utilizing a mid-infrared interband cascade laser",j.biomed.opt.vol.26(2021),pp.043012-1-043012-10
7、非专利文献3:n.malpica et al.,"appl
技术实现思路
1、在如上述那样培养了多个细胞的细胞试样中,传代数或各个传代操作的条件等对在细胞试样中增殖的细胞的品质、培养状态等产生影响(例如,参照专利文献1、非专利文献1)。即,在细胞试样的传代操作中,多数情况下,所培养的细胞通过转移到新的环境而受到损伤、应力等,由此细胞的品质、状态劣化。
2、一般而言,已知传代数越多,由于分化增殖能力的变化、形态的变化、基因的变化等培养细胞的品质越劣化。因此,细胞试样的传代数、传代条件等培养状态是在使用细胞试样进行实验、测量等方面非常重要的信息。然而,迄今为止尚未确立对这样的细胞试样中的细胞的培养状态进行测量、评价的方法。
3、本专利技术的目的在于提供一种能够适当地进行关于包含多个细胞的细胞试样的培养状态的测量的细胞试样测量方法和细胞试样测量装置。
4、本申请专利技术人对培养有多个细胞的细胞试样进行了使用从量子级联激光器(qcl:quantum cascade laser)供给的激光等的光照射引起的细胞的活性化等的影响的研究。在对这样的细胞试样的光照射的影响的研究中,得到了如果以某种程度以上的照射量进行光照射,则产生死细胞的发现。进一步,对这样的光照射引起的细胞死亡进行了详细调查,结果发现死细胞的产生依赖于细胞试样的传代数等培养状态,从而完成了本专利技术。
5、本专利技术的实施方式是细胞试样测量方法。细胞试样测量方法包括:(1)准备步骤,将包含在培养皿上培养的多个细胞的测量对象的对象细胞试样载置于试样载置台上;(2)评价光照射步骤,对在对象细胞试样中对多个细胞的培养区域内进行区分而设定的n个照射区域(n为2以上的整数),分别以不同的照射量照射从照射光源供给的具有中红外区域的波长的评价光;(3)死细胞数测量步骤,针对对象细胞试样的n个照射区域的各自测量根据评价光的照射量而产生的死细胞数;和(4)培养状态分析步骤,针对对象细胞试样,求出关于n个照射区域的评价光的照射量与死细胞数的对象相关关系,该对象相关关系成为对象细胞试样的培养状态的评价指标。
6、本专利技术的实施方式是细胞试样测量装置。细胞试样测量装置包括:(1)试样载置台,其载置包含在培养皿上培养的多个细胞的测量对象的对象细胞试样;(2)评价光照射部,其对在对象细胞试样中对多个细胞的培养区域内进行区分而设定的n个照射区域(n为2以上的整数),分别以不同的照射量照射从照射光源供给的具有中红外区域的波长的评价光;(3)死细胞数测量部,其针对对象细胞试样的n个照射区域的各自,测量根据评价光的照射量而产生的死细胞数;和(4)培养状态分析部,其针对对象细胞试样,求出n个照射区域的评价光的照射量与死细胞数的对象相关关系,该对象相关关系成为对象细胞试样的培养状态的评价指标。
7、在上述的细胞试样测量方法和细胞试样测量装置中,在包含在单一的培养皿上培养的多个细胞的对象细胞试样的测量中,使用具有中红外区域的波长的评价光,对在对象细胞试样中将培养区域内进行区分而设定的n个照射区域分别以不同的照射量照射评价光,并且针对n个照射区域的各自,测量根据评价光的照射量而产生的死细胞数。然后,基于该测量结果,针对对象细胞试样求出关于n个照射区域的评价光的照射量与死细胞数的对象相关关系。
8、根据这样的结构,针对在培养皿上培养有多个细胞的对象细胞试样,区分培养区域内而设定多个照射区域,并对各照射区域分别以不同的照射量照射评价光,由此能够适当地测量能够用作对象细胞试样中的细胞的培养状态的评价指标的、评价光的照射量与死细胞数的对象相关关系。
9、根据本专利技术的细胞试样测量方法和细胞试样测量装置,能够适当地进行包含多个细胞的细胞试样的培养状态的测量。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种细胞试样测量方法,其中,
2.如权利要求1所述的细胞试样测量方法,其中,
3.如权利要求2所述的细胞试样测量方法,其中,
4.如权利要求2或3所述的细胞试样测量方法,其中,
5.如权利要求1~4中任一项所述的细胞试样测量方法,其中,
6.如权利要求5所述的细胞试样测量方法,其中,
7.如权利要求1~6中任一项所述的细胞试样测量方法,其中,
8.如权利要求1~7中任一项所述的细胞试样测量方法,其中,
9.如权利要求1~8中任一项所述的细胞试样测量方法,其中,
10.如权利要求1~9中任一项所述的细胞试样测量方法,其中,
11.一种细胞试样测量装置,其中,
12.如权利要求11所述的细胞试样测量装置,其中,
13.如权利要求12所述的细胞试样测量装置,其中,
14.如权利要求12或13所述的细胞试样测量装置,其中,
15.如权利要求11~14中任一项所述的细胞试样测量装置,其中,
16.如权利要求1
17.如权利要求11~16中任一项所述的细胞试样测量装置,其中,
18.如权利要求11~17中任一项所述的细胞试样测量装置,其中,
19.如权利要求11~18中任一项所述的细胞试样测量装置,其中,
20.如权利要求11~19中任一项所述的细胞试样测量装置,其中,
...【技术特征摘要】
1.一种细胞试样测量方法,其中,
2.如权利要求1所述的细胞试样测量方法,其中,
3.如权利要求2所述的细胞试样测量方法,其中,
4.如权利要求2或3所述的细胞试样测量方法,其中,
5.如权利要求1~4中任一项所述的细胞试样测量方法,其中,
6.如权利要求5所述的细胞试样测量方法,其中,
7.如权利要求1~6中任一项所述的细胞试样测量方法,其中,
8.如权利要求1~7中任一项所述的细胞试样测量方法,其中,
9.如权利要求1~8中任一项所述的细胞试样测量方法,其中,
10.如权利要求1~9中任一项所述的细胞试样测量方法,其中,
11.一种细胞试样...
【专利技术属性】
技术研发人员:高木登纪雄,山内丰彦,道垣内龙男,河田阳一,清水良幸,建部严,
申请(专利权)人:浜松光子学株式会社,
类型:发明
国别省市:
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