【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光电测量，尤其涉及一种偏振emccd器件参数测试系统。
技术介绍
1、偏振成像能够提供与目标表面的含水量、纹理、电导率、粗糙度等表面特性相关的偏振信息，利用目标与背景间偏振特性的差异，可以凸显隐蔽在自然背景中的军事目标。偏振成像技术可以凸显人造目标，在一定程度上弥补传统军事侦察的不足。对于典型的军事打击目标，通过偏振成像技术，有效利用偏振矢量信息，就可以增强图像对比度，提高信噪比，从而在军事应用上可以改善目标探测成像的质量、提高探测精度，为及时发现敌方目标提供有效的手段。
2、基于集成偏振emccd器件的成像，充分结合emccd低照度探测能力与偏振成像的特点，同时获取被测目标的光强信息与偏振信息，突破对偏振信息的提取与解算、偏振目标光强与偏振图像的融合等关键技术，提升在雨、雾、霾等复杂战场环境中对虚假、伪装、隐身人造目标的识别能力，进而提高战场上获取情报的能力，为光电侦察探测装备系统感知能力的增强提供一种技术手段。通常，在图像传感器应用之前，对其各项性能参数进行测试是首要之事。根据测试结果可判断该器件是否满足整个系统的性能要求，保证系统的整体性能指标。目前对偏振emccd器件测试的研究相对较少，无法满足对偏振emccd器件参数的性能进行客观评价的需求。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于克服现有技术中的不足，提供一种偏振emccd器件参数测试系统，解决现有技术中缺少对偏振emccd器件参数的性能进行客观评价技术手段的技术问题。
2、为达到上
3、本专利技术提供了一种偏振emccd器件参数测试系统，包括均匀光源、偏振角度控制模块、暗箱以及上位机参数测试系统；所述暗箱用于放置待测偏振emccd器件；所述均匀光源用于产生目标波长和目标光强的均匀光并照射至所述偏振角度控制模块，所述偏振角度控制模块用于将均匀光转变成目标偏振角度的线偏振光并照射至所述待测偏振emccd器件，所述上位机参数测试系统用于与所述均匀光源、所述偏振角度控制模块以及所述待测偏振emccd器件通信连接，进行参数测试。
4、可选的，所述均匀光源包括依次设置的卤钨灯、单色仪、光衰减模块和积分球，所述卤钨灯发出连续且稳定的原始光；所述单色仪从原始光中分离出目标波长的单色光；所述光衰减模块将单色光调节至目标光强，经所述积分球输出均匀光。
5、可选的，所述偏振角度控制模块包括退偏器和起偏器，通过所述退偏器和所述起偏器对均匀光进行综合转换，得到目标目标偏振角度的线偏振光。
6、可选的，所述参数测试包括：
7、将均匀光的波长作为控制变量，获取所述待测偏振emccd器件中标准探测器输出的电流和电压，并计算所述标准探测器的光谱响应率：
8、；
9、式中，为标准探测器波长的定标值，为标准探测器面积，为积分时间；
10、根据目标波长范围内的波长及其对应的光谱响应率绘制光谱响应率曲线，作为所述标准探测器的参数测试结果。
11、可选的，所述参数测试包括：
12、将线偏振光的偏振角度作为控制变量，获取所述待测偏振emccd器件中偏振光敏元的偏振响应，并计算所述偏振光敏元的偏振透过率：
13、；
14、式中，为均匀光的当前波长对应的光谱响应率；
15、根据预设的多个偏振角度对应的偏振透过率进行均值计算，得到最终的所述偏振光敏元的偏振透过率。
16、可选的，所述参数测试包括：
17、将线偏振光的偏振角度作为控制变量，获取所述待测偏振emccd器件中偏振光敏元的灰度图像的像素最大值和像素最小值，并计算所述偏振光敏元的消光比：
18、；
19、根据预设的多个偏振角度对应的消光比进行均值计算，得到最终的所述偏振光敏元的消光比。
20、可选的，所述参数测试包括：
21、关闭均匀光源，获取所述待测偏振emccd器件的采集图像，记为背景图像；
22、开启均匀光源，获取所述待测偏振emccd器件的采集图像，记为光照图像；
23、调节均匀光的光强直至所述光照图像的白光通道灰度值达到最大灰度值的90%，得到有用信息图像；
24、根据所述背景图像和所述有用信息图像计算所述待测偏振emccd器件的采集图像的信噪比：
25、；
26、式中，为有用信息图像和背景图像的方差。
27、与现有技术相比，本专利技术所达到的有益效果：
28、本专利技术提供的一种偏振emccd器件参数测试系统，通过均匀光源产生目标波长和目标光强的均匀光并照射至偏振角度控制模块，通过偏振角度控制模块将均匀光转变成目标偏振角度的线偏振光并照射至待测偏振emccd器件，通过上位机参数测试系统与均匀光源、偏振角度控制模块以及待测偏振emccd器件通信连接，进行参数测试。通过上位机参数测试系统可以实现串口控制、图像采集、参数测试等功能，并且具有直观的图形用户界面，方便用户进行操作和监控，实时参看各个参数的数值，从而实现对集成偏振emccd器件参数的性能进行客观评价。
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1.一种偏振EMCCD器件参数测试系统，其特征在于，包括均匀光源、偏振角度控制模块、暗箱以及上位机参数测试系统；所述暗箱用于放置待测偏振EMCCD器件；所述均匀光源用于产生目标波长和目标光强的均匀光并照射至所述偏振角度控制模块，所述偏振角度控制模块用于将均匀光转变成目标偏振角度的线偏振光并照射至所述待测偏振EMCCD器件，所述上位机参数测试系统用于与所述均匀光源、所述偏振角度控制模块以及所述待测偏振EMCCD器件通信连接，进行参数测试。
2.根据权利要求1所述的偏振EMCCD器件参数测试系统，其特征在于，所述均匀光源包括依次设置的卤钨灯、单色仪、光衰减模块和积分球，所述卤钨灯发出连续且稳定的原始光；所述单色仪从原始光中分离出目标波长的单色光；所述光衰减模块将单色光调节至目标光强，经所述积分球输出均匀光。
3.根据权利要求1所述的偏振EMCCD器件参数测试系统，其特征在于，所述偏振角度控制模块包括退偏器和起偏器，通过所述退偏器和所述起偏器对均匀光进行综合转换，得到目标目标偏振角度的线偏振光。
4.根据权利要求1所述的偏振EMCCD器件参数测试系统
5.根据权利要求1所述的偏振EMCCD器件参数测试系统，其特征在于，所述参数测试包括：
6.根据权利要求1所述的偏振EMCCD器件参数测试系统，其特征在于，所述参数测试包括：
7.根据权利要求1所述的偏振EMCCD器件参数测试系统，其特征在于，所述参数测试包括：
...【技术特征摘要】
1.一种偏振emccd器件参数测试系统，其特征在于，包括均匀光源、偏振角度控制模块、暗箱以及上位机参数测试系统；所述暗箱用于放置待测偏振emccd器件；所述均匀光源用于产生目标波长和目标光强的均匀光并照射至所述偏振角度控制模块，所述偏振角度控制模块用于将均匀光转变成目标偏振角度的线偏振光并照射至所述待测偏振emccd器件，所述上位机参数测试系统用于与所述均匀光源、所述偏振角度控制模块以及所述待测偏振emccd器件通信连接，进行参数测试。
2.根据权利要求1所述的偏振emccd器件参数测试系统，其特征在于，所述均匀光源包括依次设置的卤钨灯、单色仪、光衰减模块和积分球，所述卤钨灯发出连续且稳定的原始光；所述单色仪从原始光中分离出目标波长的单色光；所...
【专利技术属性】
技术研发人员：韩秀秀，那启跃，姜恺文，王仕鑫，任李营，
申请(专利权)人：华东光电集成器件研究所，
类型：发明
国别省市：
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