【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光纤缺陷检测分析，具体涉及一种掺镱光纤涂层缺陷检测分析方法。
技术介绍
1、光纤激光器已经在工业制造、医疗、军事国防等领域得到了广泛应用。光纤激光器在向更大功率方向发展，配置千瓦至数万瓦级的大功率光纤激光器的工业装备将会成为高端制造业的主流设备。掺镱光纤作为光纤激光器的核心器件，可以现大功率激光输出，输出功率达到万瓦级。随着激光输出功率增大，对涂层质量要求有明显提升，由于掺镱光纤通常使用低折射率涂料实现双包层结构，与一般光纤相比，掺镱光纤内涂层也进行光路传输。但是如果掺镱光纤内部存在缺陷，极易导致掺镱光纤在激光器工作中，出现从缺陷位置处漏光、熔断等问题，因此对掺镱光纤涂层缺陷进行检测分析室解决涂层缺陷问题的首要步骤。
2、现有技术中，对于掺镱光纤的检测分析工作，通常采用普通的光纤检测方式，即通过检测信号光耦合进入待测光纤，配合光检测探头和光功率计检测漏出的光信号，在此过程中光纤两端分别缠绕在复绕机或者卷绕机上，随着两个复绕机的同步转动使光纤传递，实现缺陷检测。但是涉及到掺镱光纤的检测会涉及到芯层、包层、内涂层及外涂层的位置，而上述检测方式仅能够判断涂层缺陷，无法确定涂层的具体缺陷位置，因此该种传递的方式无法适用。另外涉及到匹配液的使用，采用光纤传递的方式时匹配液会出现严重的泄露，检测过程中不便于清洁，且浪费严重。
技术实现思路
1、本专利技术实施例提供一种掺镱光纤涂层缺陷检测分析方法，旨在能够解决现有的光纤涂层检测方式无法适用于掺镱光纤的检测的问题。>
2、为实现上述目的，本专利技术采用的技术方案是：提供一种掺镱光纤涂层缺陷检测分析方法，包括如下步骤：
3、原料及工具准备，准备具有透光孔及导入孔的光纤固定模，使所述透光孔和所述导入孔互相垂直且互相连通设置，在所述透光孔的一端设置透光板；同时准备待测掺镱光纤、显微镜、匹配液、拍摄设备；
4、光纤固定安装，将待测掺镱光纤的一端穿过所述导入孔，且与导入孔密封连接；随后将所述光纤固定模放置在所述显微镜的载物台上，且使具有所述透光板的一端对应所述显微镜的载物台下的透光区；
5、光纤旋转式检测，向所述透光孔中加入所述匹配液，待匹配液稳定后通过显微镜对掺镱光纤进行观测，并在观测过程中旋转掺镱光纤，分别对芯层、包层、内涂层及外涂层进行观测；
6、缺陷记录及分析，通过所述拍摄设备对缺陷处进行拍摄记录，并分析原因。
7、在一种可能的实现方式中，所述掺镱光纤涂层缺陷检测分析方法还包括步骤工具表面清洁，在原料及工具准备步骤之后，对所述透光板的表面以及显微镜载物台的表面进行清洁。
8、在一种可能的实现方式中，所述工具表面清洁步骤中采用吹尘枪。
9、在一种可能的实现方式中，所述光纤固定模包括：
10、固定筒，具有筒腔，所述筒腔为所述透光孔；所述透光孔的一端设有供所述透光板嵌装的凹槽；所述固定筒的侧壁上设有与所述筒腔垂直且与所述筒腔连通的贯通孔，所述贯通孔在所述固定筒的侧壁上形成两个分孔；
11、旋转筒，设有两个，两个所述旋转筒分别转动设置在两个所述分孔中，每个所述旋转筒的一端均伸出所述固定筒，且在所述旋转筒的伸出端设有第一螺母部；每个所述旋转筒靠近所述筒腔的一端设有第一开孔，所述第一螺母部所在的一端设有第二开孔，所述第二开孔的孔径大于所述第一开孔的孔径，在所述第二开孔与所述第一开孔之间形成内环形面；
12、锁紧件，设有两个，两个所述锁紧件分别与两个所述旋转筒一一对应；每个所述锁紧件均与对应的所述第二开孔中的设置的内螺纹螺纹连接，所述锁紧件上设有贯通的穿孔；所述锁紧件具有与对应的所述内环形面适配的外环形面；每个所述锁紧件伸出所述第二开孔的一端均设有第二螺母部；
13、密封胶圈，设有两个，两个所述密封胶圈分别设置在两个所述内环形面处；各所述密封胶圈、各所述旋转筒、各所述锁紧件及所述贯通孔组合形成所述导入孔；所述密封胶圈用于在所述锁紧件相对所述旋转筒转动且被所述内环形面挤压后，向内延展，以与掺镱光纤的外壁密封抵接。
14、在一种可能的实现方式中，所述光纤固定模还包括限位卡件，所述限位卡件具有供所述旋转筒穿过的圆孔，且所述限位卡件具有两个分别对应两个所述第一螺母部的卡爪，每个所述卡爪上均设有供所述第一螺母进入并进行限位的卡口。
15、在一种可能的实现方式中，所述旋转筒与所述贯通孔之间设有密封轴承。
16、在一种可能的实现方式中，所述固定筒靠近所述透光板的端部固设有环形座，所述环形座远离所述透光板的一端设有环绕所述固定筒的环形槽。
17、在一种可能的实现方式中，所述环形座与所述旋转筒沿着所述固定筒的轴线方向间隔设置。
18、在一种可能的实现方式中，所述密封胶圈为硅橡胶材质。
19、在一种可能的实现方式中，所述透光板为玻璃板。
20、本实现方式中，设置了具有透光孔和导入孔的光纤固定模，能够在掺镱光纤穿过导入孔后，与掺镱光纤形成密封，避免匹配液泄露。通过对透光板及显微镜载物台的清洁工作，保证观测的准确度。另外，通过对掺镱光纤的旋转，实现对芯层、包层、内涂层及外涂层的位置进行分别观测，可定位涂层缺陷位于掺镱光纤结构中的具体位置，其检测工作更全面，适应性强。
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1.掺镱光纤涂层缺陷检测分析方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.如权利要求1所述的掺镱光纤涂层缺陷检测分析方法，其特征在于，所述掺镱光纤涂层缺陷检测分析方法还包括工具表面清洁步骤，所述工具表面清洁步骤在原料及工具准备步骤之后，对所述透光板的表面以及显微镜载物台的表面进行清洁。
3.如权利要求2所述的掺镱光纤涂层缺陷检测分析方法，其特征在于，所述工具表面清洁步骤中采用吹尘枪。
4.如权利要求1-3任一项所述的掺镱光纤涂层缺陷检测分析方法，其特征在于，所述光纤固定模包括：
5.如权利要求4所述的掺镱光纤涂层缺陷检测分析方法，其特征在于，所述光纤固定模还包括限位卡件，所述限位卡件具有供所述旋转筒穿过的圆孔，且所述限位卡件具有两个分别对应两个所述第一螺母部的卡爪，每个所述卡爪上均设有供所述第一螺母进入并进行限位的卡口。
6.如权利要求4所述的掺镱光纤涂层缺陷检测分析方法，其特征在于，所述旋转筒与所述贯通孔之间设有密封轴承。
7.如权利要求4所述的掺镱光纤涂层缺陷检测分析方法，其特征在于，所述固定筒靠近所述透光板的端
8.如权利要求7所述的掺镱光纤涂层缺陷检测分析方法，其特征在于，所述环形座与所述旋转筒沿着所述固定筒的轴线方向间隔设置。
9.如权利要求4所述的掺镱光纤涂层缺陷检测分析方法，其特征在于，所述密封胶圈为硅橡胶材质。
10.如权利要求1-3任一项所述的掺镱光纤涂层缺陷检测分析方法，其特征在于，所述透光板为玻璃板。
...【技术特征摘要】
1.掺镱光纤涂层缺陷检测分析方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.如权利要求1所述的掺镱光纤涂层缺陷检测分析方法，其特征在于，所述掺镱光纤涂层缺陷检测分析方法还包括工具表面清洁步骤，所述工具表面清洁步骤在原料及工具准备步骤之后，对所述透光板的表面以及显微镜载物台的表面进行清洁。
3.如权利要求2所述的掺镱光纤涂层缺陷检测分析方法，其特征在于，所述工具表面清洁步骤中采用吹尘枪。
4.如权利要求1-3任一项所述的掺镱光纤涂层缺陷检测分析方法，其特征在于，所述光纤固定模包括：
5.如权利要求4所述的掺镱光纤涂层缺陷检测分析方法，其特征在于，所述光纤固定模还包括限位卡件，所述限位卡件具有供所述旋转筒穿过的圆孔，且所述限位卡件具有两个分别对应两个所述第一螺母部的...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑旭龙，杨东海，沈一泽，武洋，崔立夫，潘蓉，王东波，陈立强，衣永青，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第四十六研究所，
类型：发明
国别省市：
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