【技术实现步骤摘要】
本申请涉及半导体元器件，具体而言，涉及一种测试电路以及测试装置。
技术介绍
1、在现代电子
，射频放大器芯片作为一种关键的信号处理组件，被广泛应用于音频设备、无线通信、雷达系统等多个领域。由于射频放大器芯片的性能直接影响到整个系统的稳定性和效率，因此，对其进行精确、高效的测试显得尤为重要。
2、目前，仅可实现对普通脉冲式放大器芯片测试，传统的测试方法往往需要复杂的测试设备和较长的时间，导致测试成本较高。其次，现有的测试技术在面对高频、高功率应用场景时，测试精度和可靠性难以满足要求。
3、但是射频放大器芯片在工作时发热严重，通过对普通脉冲式放大器芯片测试无法解决射频放大器芯片的发热问题，影响对射频放大器芯片的结果的准确性。
技术实现思路
1、本申请的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种测试电路以及测试装置，降低温度变化对待测射频放大器芯片的影响，提高对待测射频放大器芯片测试结果的准确性。
2、为实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案如下：
3、第一方面，本申请一实施例提供了一种测试电路，所述电路包括：
4、脉冲控制电路、直流偏置电路以及射频微带线；其中，所述直流偏置电路包括：串联的多级电感，从所述多级电感中第一级电感的一端为所述直流偏置电路的输出端，所述多级电感中最后一级电感的另一端为所述直流偏置电路的输入端；
5、所述脉冲控制电路的电源端用于连接预设直流电源，所述脉冲控制电路的输入端用于连接预设
6、可选地，所述第一级电感为高频锥形电感，所述多级电感中第二级电感至所述最后一级电感中的各级电感的感值依次增大。
7、可选地，所述直流偏置电路还包括：多个第一电阻；
8、所述多级电感中第二级电感至所述最后一级电感中的各级电感分别并联一个第一电阻。
9、可选地，所述直流偏置电路还包括：第一电容以及多级第二电容；
10、所述第一级电感的另一端通过所述第一电容并联接地，所述多级电感中第二级电感至所述最后一级电感中的各级电感的另一端依次通过所述多级第二电容并联接地。
11、可选地，所述各级电感的另一端依次通过电容值依次增大的所述多级第二电容并联接地；
12、所述多个第二电容的电容值均大于所述第一电容的电容值。
13、可选地，所述多级第二电容还分别串联有多个第二电阻。
14、可选地，所述脉冲控制电路包括：第一开关管和第二开关管；
15、其中，所述第一开关管的源级为所述脉冲控制电路的电源端，用于连接所述预设直流电源，所述第一开关管的漏极为所述脉冲控制电路的输出端，所述第一开关管的源级和栅极之间串联第三电阻，所述第一开关管的栅级连接所述第二开关管的漏极，所述第二开关管的源极接地，所述第二开关管的栅极为所述脉冲控制电路的输入端，用于连接所述预设脉冲控制端。
16、第二方面，本申请另一实施例提供了一种测试装置，所述装置包括：
17、底座和两个测试电路板，每个测试电路板上设置有一个上述第一方面中任一所述的测试电路，以及射频微带线；
18、所述底座的两部分分别连接所述两个测试电路板上的射频微带线，所述两个测试电路板上的射频微带线分别用于连接待测射频放大器芯片的射频输入端和射频输出端，所述两个测试电路板上测试电路中脉冲控制电路的电源端分别用于连接两个预设直流电源，所述两个测试电路板上测试电路中直流偏置电路的输出端分别用于连接所述待测射频放大器芯片的栅极电源端以及漏极电源端。
19、可选地，所述底座的两部分中第一部分设置有凹槽部，所述底座的两部分的第二部分在对应位置处设置有与所述凹槽部配合的突出部，所述凹槽部和所述突出部对接滑动连接。
20、可选地，所述凹槽部上垂直于预设滑动方向的位置处设置有可调旋钮，以对所述凹槽部的滑动位置进行锁紧。
21、本申请的有益效果是：
22、本申请提供一种测试电路以及测试装置，该测试电路包括脉冲控制电路以及直流偏置电路；其中，直流偏置电路包括：串联的多级电感，从多级电感中第一级电感的一端为直流偏置电路的输出端，多级电感中最后一级电感的另一端为直流偏置电路的输入端；脉冲控制电路的电源端用于连接预设直流电源，脉冲控制电路的输入端用于连接预设脉冲控制端，以接收脉冲测试信号，脉冲控制电路的输出端连接直流偏置电路的输入端，直流偏置电路的输出端用于连接待测射频放大器芯片的预设电源端。本申请中的直流偏置电路通过多级电感串联，可以提升电感的品质因数，增加电感隔离带宽，提升直流偏置电路的宽带性能，同时本申请提供的测试电路通过接收预设脉冲控制端发送的脉冲测试信号，为待测射频放大器芯片间断供电，减少待测射频放大器芯片的发热情况，降低温度变化对待测射频放大器芯片的影响，提高对待测射频放大器芯片测试结果的准确性。
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1.一种测试电路，其特征在于，所述测试电路包括：脉冲控制电路以及直流偏置电路；其中，所述直流偏置电路包括：串联的多级电感，从所述多级电感中第一级电感的一端为所述直流偏置电路的输出端，所述多级电感中最后一级电感的另一端为所述直流偏置电路的输入端；
2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述第一级电感为高频锥形电感，所述多级电感中第二级电感至所述最后一级电感中的各级电感的感值依次增大。
3.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述直流偏置电路还包括：多个第一电阻；
4.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述直流偏置电路还包括：第一电容以及多级第二电容；
5.根据权利要求4所述的测试电路，其特征在于，所述各级电感的另一端依次通过电容值依次增大的所述多级第二电容并联接地；
6.根据权利要求4所述的测试电路，其特征在于，所述多级第二电容还分别串联有多个第二电阻。
7.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述脉冲控制电路包括：第一开关管和第二开关管；
8.一种测试装置，其特征在于，
9.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述底座的两部分中第一部分设置有凹槽部，所述底座的两部分的第二部分在对应位置处设置有与所述凹槽部配合的突出部，所述凹槽部和所述突出部对接滑动连接。
10.根据权利要求8所述的测试电路，其特征在于，所述凹槽部上垂直于预设滑动方向的位置处设置有可调旋钮，以对所述凹槽部的滑动位置进行锁紧。
...【技术特征摘要】
1.一种测试电路，其特征在于，所述测试电路包括：脉冲控制电路以及直流偏置电路；其中，所述直流偏置电路包括：串联的多级电感，从所述多级电感中第一级电感的一端为所述直流偏置电路的输出端，所述多级电感中最后一级电感的另一端为所述直流偏置电路的输入端；
2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述第一级电感为高频锥形电感，所述多级电感中第二级电感至所述最后一级电感中的各级电感的感值依次增大。
3.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述直流偏置电路还包括：多个第一电阻；
4.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述直流偏置电路还包括：第一电容以及多级第二电容；
5.根据权利要求4所述的测试电路，其特征在于，所述各级电感的另一端依次通过电容值依次增大的所述多级第二电容并联...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑赫男，
申请(专利权)人：北京中科飞鸿科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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