一种闪存颗粒测试装置制造方法及图纸

本技术涉及闪存颗粒技术领域，具体涉及一种闪存颗粒测试装置，包括支座、上压盖以及下压盖；所述支座设于上压盖与下压盖之间；所述支座的顶部设有上顶针模组；所述支座的底部设有下顶针模组；所述支座在上顶针模组与下顶针模组之间设有电路板；所述上顶针模组的底部与电路板的顶部连接；所述下顶针模组的顶部与电路板的底部连接；所述上压盖设有与上顶针模组的顶部配合的上压块；所述下压盖设有与下顶针模组的底部配合的下压块。本技术将上压盖与下压盖关闭之后，即可以同时对多个闪存颗粒进行同步测试，并且由于闪存颗粒分别在支座的顶部与底部进行测试，无需将多个闪存颗粒进行平铺，从而能够使得总线线路长度得到优化，并且节约空间。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及闪存颗粒，具体涉及一种闪存颗粒测试装置。

技术介绍

1、闪存颗粒作ssd固态硬盘应用时，为了获得大容量的ssd闪存盘，往往需要4颗或8颗闪存颗粒组合在一起；为了在研发、生产阶段检测闪存颗粒的各项性能是否达标，如上盘容量确认、h2对比、cdm速度、bi t老化、拷贝/读取/删除文件、数据性能校验等等测试，而现有的测试治具是把4或8个测试座平铺在一个平面(pcb底板)，这样闪存颗粒的命令总线和数据总线的走线长度和实际应用时增加数倍，和真实应用的应用场景有差距，和实际的ssd盘的线路架构也有相当大的差距，这样测试出来的结果不精准，速度变慢或掉盘等情况。

技术实现思路

1、本技术的目的是针对现有技术中的上述不足，提供了一种闪存颗粒测试装置。

2、本技术的目的通过以下技术方案实现：一种闪存颗粒测试装置，包括支座、上压盖以及下压盖；所述支座设于上压盖与下压盖之间；所述支座的顶部设有上顶针模组；所述支座的底部设有下顶针模组；所述支座在上顶针模组与下顶针模组之间设有电路板；

3、所述上顶针模组的底部与电路板的顶部连接；所述下顶针模组的顶部与电路板的底部连接；所述上压盖设有与上顶针模组的顶部配合的上压块；所述下压盖设有与下顶针模组的底部配合的下压块。

4、本技术进一步设置为，所述上压盖的一端与支座顶部的一端铰接；所述上压盖的另一端与支座顶部的另一端可拆卸连接。

5、本技术进一步设置为，所述上压盖的另一端设有第一卡块；所述支座顶部的另一端设有与第一卡块卡接的第二卡块。

6、本技术进一步设置为，所述下压盖的一端与支座底部的一端铰接；所述下压盖的另一端与支座底部的另一端可拆卸连接。

7、本技术进一步设置为，所述下压盖的另一端设有第三卡块；所述支座底部的另一端设有与第三卡块卡接的第四卡块。

8、本技术进一步设置为，所述上压块的底部以及下压块的顶部均设有硅胶块。

9、本技术进一步设置为，所述支座的顶部开设有开槽；所述上顶针模组设有固定板；所述固定板与开槽可拆卸连接。

10、本技术进一步设置为，所述支座在开槽的底部设有容置槽；所述电路板设于容置槽；所述电路板与容置槽可拆卸连接。

11、本技术进一步设置为，所述支座的底部开设有窗口；所述下顶针模组显露于窗口处。

12、本技术的有益效果：本技术将上压盖与下压盖关闭之后，即可以同时对多个闪存颗粒进行同步测试，并且由于闪存颗粒分别在支座的顶部与底部进行测试，无需将多个闪存颗粒进行平铺，从而能够使得总线线路长度得到优化，并且节约空间。

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【技术保护点】

1.一种闪存颗粒测试装置，其特征在于：包括支座(1)、上压盖(2)以及下压盖(3)；所述支座(1)设于上压盖(2)与下压盖(3)之间；所述支座(1)的顶部设有上顶针模组(41)；所述支座(1)的底部设有下顶针模组(42)；所述支座(1)在上顶针模组(41)与下顶针模组(42)之间设有电路板(43)；

2.根据权利要求1所述的一种闪存颗粒测试装置，其特征在于：所述上压盖(2)的一端与支座(1)顶部的一端铰接；所述上压盖(2)的另一端与支座(1)顶部的另一端可拆卸连接。

3.根据权利要求2所述的一种闪存颗粒测试装置，其特征在于：所述上压盖(2)的另一端设有第一卡块(51)；所述支座(1)顶部的另一端设有与第一卡块(51)卡接的第二卡块(52)。

4.根据权利要求1所述的一种闪存颗粒测试装置，其特征在于：所述下压盖(3)的一端与支座(1)底部的一端铰接；所述下压盖(3)的另一端与支座(1)底部的另一端可拆卸连接。

5.根据权利要求4所述的一种闪存颗粒测试装置，其特征在于：所述下压盖(3)的另一端设有第三卡块(53)；所述支座(1)底部的另一端设有与第三卡块(53)卡接的第四卡块(54)。

6.根据权利要求1所述的一种闪存颗粒测试装置，其特征在于：所述上压块(21)的底部以及下压块(31)的顶部均设有硅胶块(22)。

7.根据权利要求1所述的一种闪存颗粒测试装置，其特征在于：所述支座(1)的顶部开设有开槽(11)；所述上顶针模组(41)设有固定板(6)；所述固定板(6)与开槽(11)可拆卸连接。

8.根据权利要求7所述的一种闪存颗粒测试装置，其特征在于：所述支座(1)在开槽(11)的底部设有容置槽(12)；所述电路板(43)设于容置槽(12)；所述电路板(43)与容置槽(12)可拆卸连接。

9.根据权利要求1所述的一种闪存颗粒测试装置，其特征在于：所述支座(1)的底部开设有窗口(13)；所述下顶针模组(42)显露于窗口(13)处。

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【技术特征摘要】

1.一种闪存颗粒测试装置，其特征在于：包括支座(1)、上压盖(2)以及下压盖(3)；所述支座(1)设于上压盖(2)与下压盖(3)之间；所述支座(1)的顶部设有上顶针模组(41)；所述支座(1)的底部设有下顶针模组(42)；所述支座(1)在上顶针模组(41)与下顶针模组(42)之间设有电路板(43)；

2.根据权利要求1所述的一种闪存颗粒测试装置，其特征在于：所述上压盖(2)的一端与支座(1)顶部的一端铰接；所述上压盖(2)的另一端与支座(1)顶部的另一端可拆卸连接。

3.根据权利要求2所述的一种闪存颗粒测试装置，其特征在于：所述上压盖(2)的另一端设有第一卡块(51)；所述支座(1)顶部的另一端设有与第一卡块(51)卡接的第二卡块(52)。

4.根据权利要求1所述的一种闪存颗粒测试装置，其特征在于：所述下压盖(3)的一端与支座(1)底部的一端铰接；所述下压盖(3)的另一端与支座(1)底部的另一端可拆卸连接。

5.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：张治强，陈宝纯，杨师，卢冠华，张茜，
申请(专利权)人：广东长兴半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：