【技术实现步骤摘要】
本技术涉及惯性导航器件制备，具体涉及一种用于微半球谐振子q值测试的夹持装置。
技术介绍
1、半球谐振陀螺是一种新型的测量进动角的固态导航陀螺仪，且核心部件为熔融石英精加工而成的半球谐振子，微半球品质因数是衡量其加工精度以及性能的常用参数，对称性高的半球谐振子具备稳定的物理特性，即具备高的品质因素(q值)，但受限于当前技术加工条件，半球谐振子存在不同程度的质量均匀性误差，导致半球谐振子的品质因素降低，从而影响了半球谐振陀螺的实时和长期测量精度，因此加工后的半球谐振子需要进行q值测试，通常通过多普勒激光干涉仪进行测试。具体为在高真空条件下，通过物理敲击、压电激励、电容静电激励等方法使半球谐振子共振，并通过多普勒激光干涉仪对其固有频率、幅值及衰减时间进行检测，再根据固有频率和幅值计算得到其品质因素。
2、由于微半球谐振子由熔融石英材料制成，具有质脆、壁薄、易碎等特点，且微半球的尺寸较小，通常情况下直径一般在5-10mm，高度在3-5mm，特别是微半球球壳的厚度仅为几十个微米，而测试需要将半球谐振子固定在真空腔内的转台或其他固定位上，且测试过程中半球谐振子需要起振和转动，经常会存在由于人为不当操作或不良的夹持方式造成半球谐振子破裂损坏而报废的现象，导致材料和加工成本大大增加。q值测试时，当夹持结构与半球中轴线不重合或夹持不牢靠时，根据振动理论，振子的振动能极易通过支撑点向基底损耗，极易导致q值测试结果误差。
3、除此之外，为了避免水汽或表面杂质对q值的影响(会大幅度降低测试结果)，半球测试之前通常需要夹持以进行专
技术实现思路
1、本技术要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种用于微半球谐振子q值测试的夹持装置，能够提高谐振子q值测试结果的准确性。
2、为解决上述技术问题，本专利技术采用以下技术方案：
3、一种用于微半球谐振子q值测试的夹持装置，包括夹持组件和旋盖，
4、所述夹持组件从上至下包括夹持部、螺纹部和安装部，所述安装部用于与微半球谐振子q值测试装置相连，所述夹持部顶面开设有与微半球谐振子的锚柱配合的定位孔，所述夹持部的侧壁顶端部为从下至上外径逐渐减小的锥形面，夹持部的上部侧壁周向间隔开设有多个与定位孔连通的侧槽，以将夹持部的上部分为多个夹持块，
5、所述旋盖的顶面开设有供微半球谐振子的锚柱穿过的通孔，所述旋盖套设在夹持组件上，其上部与夹持部配合，其下部与螺纹部螺纹连接；所述旋盖在旋至其下部与螺纹部螺纹连接的过程中，其上部驱动夹持块沿旋转方向朝向相邻的夹持块靠近，以使定位孔缩小至锁紧所述微半球谐振子的锚柱。
6、作为上述技术方案的进一步改进：
7、所述夹持部与螺纹部可拆卸相连。
8、所述螺纹部的顶面开设有与夹持部的下部配合的中心孔，所述夹持部的下部插入中心孔以使所述夹持部与螺纹部可拆卸相连。
9、所述中心孔和定位孔同轴布置。
10、所述夹持部的上部和下部交界的位置具有限位部，以限制夹持部的上部伸入所述中心孔内。
11、所述夹持部的上部外径大于其下部，所述限位部为所述夹持部的上部和下部之间形成的台阶。
12、所述夹持部的上部外径大于其下部，所述限位部为所述夹持部的上部下端部开设的倒角面。
13、所述旋盖的上部外表面为与所述微半球谐振子配合的半球面。
14、所述旋盖的上部外表面具有便于人工旋转旋盖的防滑部。
15、所述螺纹部和安装部一体成型。
16、所述旋盖的下部内表面具有内螺纹，所述螺纹部的外表面具有与所述内螺纹配合的外螺纹，通过所述内螺纹和外螺纹的配合以使所述旋盖的下部与螺纹部螺纹连接。
17、与现有技术相比，本技术的优点在于：
18、1、本技术的微半球谐振子夹持装置，通过夹持组件和旋盖的巧妙设计和配合，具体地，旋盖的上部与夹持组件的夹持部配合，其下部能与夹持组件的螺纹部螺纹连接，应用时，将旋盖罩于夹持组件上，再将微半球谐振子的锚柱穿过旋盖上端的通孔后伸入夹持部的定位孔中，由于夹持部的侧壁顶端部为从下至上外径逐渐减小的锥形面，且夹持部的上部侧壁周向间隔开设有多个与定位孔连通的侧槽，以将夹持部的上部分为多个夹持块，而旋盖的上部为与夹持部配合的锥形面，具有内收趋势，从而通过向下旋转旋盖，使得旋盖在旋至其下部与螺纹部螺纹连接的过程中，其上部会驱动夹持块沿旋转方向朝向相邻的夹持块靠近，以使定位孔缩小至锁紧微半球谐振子的锚柱。从而在微半球谐振子测试过程中锚柱被牢牢夹紧，微半球谐振子不会存在滑移或晃动现象，保证了谐振子q值测试结果的准确性。
19、2、本技术的微半球谐振子夹持装置，整体结构简单，连接少，材料杨氏模量高，微半球谐振子q值测试过程中压电陶瓷传递的能量损耗少，测试结果更精确。
20、3、本技术的微半球谐振子夹持装置，无需使用沥青、蜂蜡等易污染半球的胶粘材料，能够保持半球谐振子清洁，减少清洗流程，降低损耗风险。
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1.一种用于微半球谐振子Q值测试的夹持装置，其特征在于，包括夹持组件和旋盖(2)，
2.根据权利要求1所述的用于微半球谐振子Q值测试的夹持装置，其特征在于，所述夹持部(3)与螺纹部(4)可拆卸相连。
3.根据权利要求2所述的用于微半球谐振子Q值测试的夹持装置，其特征在于，所述螺纹部(4)的顶面开设有与夹持部(3)的下部配合的中心孔(41)，所述夹持部(3)的下部插入中心孔(41)以使所述夹持部(3)与螺纹部(4)可拆卸相连。
4.根据权利要求3所述的用于微半球谐振子Q值测试的夹持装置，其特征在于，所述中心孔(41)和定位孔(32)同轴布置。
5.根据权利要求3所述的用于微半球谐振子Q值测试的夹持装置，其特征在于，所述夹持部(3)的上部和下部交界的位置具有限位部(34)，以限制夹持部(3)的上部伸入所述中心孔(41)内。
6.根据权利要求5所述的用于微半球谐振子Q值测试的夹持装置，其特征在于，所述夹持部(3)的上部外径大于其下部，所述限位部(34)为所述夹持部(3)的上部和下部之间形成的台阶。
7.根据权利要求
8.根据权利要求1-7任一项所述的用于微半球谐振子Q值测试的夹持装置，其特征在于，所述旋盖(2)的上部外表面为与所述微半球谐振子配合的半球面。
9.根据权利要求1-7任一项所述的用于微半球谐振子Q值测试的夹持装置，其特征在于，所述旋盖(2)的上部外表面具有便于人工旋转旋盖(2)的防滑部(21)。
10.根据权利要求1-7任一项所述的用于微半球谐振子Q值测试的夹持装置，其特征在于，所述螺纹部(4)和安装部(5)一体成型。
...【技术特征摘要】
1.一种用于微半球谐振子q值测试的夹持装置，其特征在于，包括夹持组件和旋盖(2)，
2.根据权利要求1所述的用于微半球谐振子q值测试的夹持装置，其特征在于，所述夹持部(3)与螺纹部(4)可拆卸相连。
3.根据权利要求2所述的用于微半球谐振子q值测试的夹持装置，其特征在于，所述螺纹部(4)的顶面开设有与夹持部(3)的下部配合的中心孔(41)，所述夹持部(3)的下部插入中心孔(41)以使所述夹持部(3)与螺纹部(4)可拆卸相连。
4.根据权利要求3所述的用于微半球谐振子q值测试的夹持装置，其特征在于，所述中心孔(41)和定位孔(32)同轴布置。
5.根据权利要求3所述的用于微半球谐振子q值测试的夹持装置，其特征在于，所述夹持部(3)的上部和下部交界的位置具有限位部(34)，以限制夹持部(3)的上部伸入所述中心孔(41)内。
6.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员：王飞，卢广锋，王凡，龚朝辉，张捷，
申请(专利权)人：湖南二零八先进科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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