【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种分光装置。
技术介绍
1、在红外分光分析中，提出了如下技术：通过使用在量子力学上具有相关性的光子对，从而不需要红外线的检测，能够通过仅检测可见光来进行分光分析(例如参照非专利文献1、非专利文献2以及非专利文献3)。
2、现有技术文献
3、非专利文献
4、非专利文献1：anna paterova,hongzhi yang,chengwu an,dmitry kalashnikovand leonid krivitsky,“measurement of infrared optical constants with visiblephotons”,new journal of physics,april 2018,volume 20 043015
5、非专利文献2：chiara lindner,sebastian wolf,jens kiessling,and drankkuhnemann,“fourier transforminfrared spectroscopy with visible light”,opticsexpress,vol.28,issue 4,pp.4426-4432(2020)
6、非专利文献3：y.mukai,m.arahata,t.tashima,r.okamoto,and s.takeuchi,“quantum fourier-transform infrared spectroscopy for complex transm
技术实现思路
1、专利技术要解决的问题
2、然而，在进行光子对的生成等的光学系统中存在如下问题：在产生了杂散光、干扰光、光学元件的荧光等噪光的情况下，分光分析的精度由于该噪光的影响而变差。
3、本专利技术的目的在于提供一种能够抑制因噪光的影响导致的精度的降低的分光装置。
4、用于解决问题的方案
5、在本说明书中包含在2022年3月8日申请的日本专利申请/日本特愿2022-035693号的全部内容。
6、本专利技术的一个方式是，一种分光装置，具备：光源，其射出泵浦光；量子光学系统，其具有一个以上的非线性光学元件，并且具备试样配置器具，所述泵浦光入射到所述非线性光学元件，所述非线性光学元件通过纠缠光子对产生过程来从所述泵浦光产生闲频光及信号光的光子对，所述试样配置器具用于将试样配置在所述闲频光的光路上；检测部，其检测从所述量子光学系统输出的光的光强度；以及解析装置，其基于所述光强度来获取干涉图，其中，所述量子光学系统构成为使第一信号光和第二信号光以互不相同的光程射出，所述检测部具备从所述量子光学系统接收第一信号光和第二信号光的分束器，所述检测部对从所述分束器射出的两束光各自的光强度进行检测，所述解析装置根据由所述检测部检测到的所述两束光来获取所述干涉图。
7、专利技术的效果
8、根据本专利技术的一个方式，能够抑制因噪光的影响导致的精度的降低。
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1.一种分光装置，具备：
2.根据权利要求1所述的分光装置，其中，
3.根据权利要求1所述的分光装置，其中，
4.根据权利要求3所述的分光装置，其中，
5.根据权利要求1所述的分光装置，其中，
6.根据权利要求1所述的分光装置，其中，
7.根据权利要求5或6所述的分光装置，其中，
8.根据权利要求1所述的分光装置，其中，
9.根据权利要求1所述的分光装置，其中，
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种分光装置，具备：
2.根据权利要求1所述的分光装置，其中，
3.根据权利要求1所述的分光装置，其中，
4.根据权利要求3所述的分光装置，其中，
5.根据权利要求1所述的分光装...
【专利技术属性】
技术研发人员：久光守，若林直树，德田胜彦，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：
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