【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及图像处理，尤其涉及一种红外图像去坏点方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、坏像元(以下简称坏点)是指，在红外像元阵列中存在的一些不能反映红外辐照强度信息的像素点，坏点的值不能作为图像的信息输入，应当由算法根据周围像元值计算进行补偿，补偿后的值代替原值，坏点包括两种，一种称为静态坏点，另外一种称为动态坏点。静态坏点的特征是，无论红外辐照强度如何变化，其值长期处于较低水平、长期处于较高水平或长期跳变(闪烁)，每一帧图像的静态坏点都需要补偿。动态坏点的特征是，有时其值能够反应辐照强度信息，其值可用，但有时其值不能够反应辐照强度信息，需要补偿。
2、现有的坏点判定方法为了避免邻域内的坏点对当前点的判断造成影响，使用了分组判定的策略，但当图片中存在高频纹理时，高频处的点四周存在较多与其值差距较大的点，因分组判定的原因，就会导致某些分组的像素点被误判为坏点的可能。同时，在进行坏点补偿时，直接使用坏点周围的正常点的均值进行补偿，未考虑周围像素的梯度关系，补偿后的像素值不一定能够反应坏点的真实值，导致坏点补偿的准确度较差。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种红外图像去坏点方法、装置、电子设备及存储介质，其主要目的在于解决相关技术中提供的红外图像的非均匀性校正准确度较差的问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供的一种红外图像去坏点方法，包括：计算预先获取的红外图像中每个像素点与预设的邻域像素点之间的像素差值及像素和值；根据像素差值及像素和值确定像素
3、本专利技术还提供一种红外图像去坏点装置，包括：像素差值及像素和值计算模块，用于计算预先获取的红外图像中每个像素点与预设的邻域像素点之间的像素差值及像素和值；连通状态确定模块，用于根据像素差值及像素和值确定像素点与邻域像素点之间的连通状态；坏点类别确定模块，用于根据连通状态确定像素点的坏点类别；像素点补偿模块，用于根据坏点类别对像素点进行像素值补偿，得到去坏点红外图像。
4、本专利技术还提供一种电子设备，包括：与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，处理器用于执行存储在存储器上的计算机程序；存储器存储有可被至少一个处理器执行的计算机程序，计算机程序被至少一个处理器执行，以使至少一个处理器能够执行上述的一种红外图像去坏点方法。
5、本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，实现上述任意一项的红外图像去坏点方法。
6、本专利技术实施例通过计算每个像素点与预设的邻域像素点之间的像素差值及像素和值，可以根据像素差值及像素和值确定像素点与邻域像素点之间的连通状态，以对像素点进行更细致的分类；根据连通状态确定像素点的坏点类别，以根据坏点类别确定需要补偿的待补偿坏点，可以避免在梯度较大的极端场景中，将正常点当作坏点的误判；根据坏点类别进行像素值补偿，可以使得像素值补偿后的像素值点更接近相应场景的真实值，有效地提高红外图像去坏点的精确度，得到坏点补偿更准确的去坏点红外图像。因此本专利技术提出的一种红外图像去坏点方法、装置、电子设备及存储介质，可以解决红外图像去坏点准确性较差的问题。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种红外图像去坏点方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的一种红外图像去坏点方法，其特征在于，所述计算红外图像中每个像素点与每个邻域像素点之间像素值的像素差值，以及计算所述红外图像中所述像素点与每个邻域像素点的像素和值，包括：
3.如权利要求1所述的一种红外图像去坏点方法，其特征在于，所述根据所述像素差值及所述像素和值确定所述像素点与所述邻域像素点之间的连通状态，包括：
4.如权利要求1所述的一种红外图像去坏点方法，其特征在于，所述根据所述连通状态确定所述像素点的坏点类别，包括：
5.如权利要求1所述的一种红外图像去坏点方法，其特征在于，所述根据所述坏点类别对所述像素点进行像素值补偿，得到去坏点红外图像，包括：
6.如权利要求5所述的一种红外图像去坏点方法，其特征在于，所述根据所述坏点类别识别所述像素点中的待补偿坏点，包括：
7.如权利要求5所述的一种红外图像去坏点方法，其特征在于，所述根据所述方向梯度对所述待补偿坏点进行像素值补偿，得到去坏点红外图像，包括：
8.一种红外图像
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：
10.一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时，实现权利要求1至7中任意一项所述的红外图像去坏点方法。
...【技术特征摘要】
1.一种红外图像去坏点方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的一种红外图像去坏点方法，其特征在于，所述计算红外图像中每个像素点与每个邻域像素点之间像素值的像素差值，以及计算所述红外图像中所述像素点与每个邻域像素点的像素和值，包括：
3.如权利要求1所述的一种红外图像去坏点方法，其特征在于，所述根据所述像素差值及所述像素和值确定所述像素点与所述邻域像素点之间的连通状态，包括：
4.如权利要求1所述的一种红外图像去坏点方法，其特征在于，所述根据所述连通状态确定所述像素点的坏点类别，包括：
5.如权利要求1所述的一种红外图像去坏点方法，其特征在于，所述根据所述坏...
【专利技术属性】
技术研发人员：冷鉴霄，谢文刚，王迎磊，隋煜，王磊，
申请(专利权)人：深圳市国微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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