【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片运行仿真，具体是应用芯片测试数据的芯片运行仿真系统。
技术介绍
1、在现代电子设备中，芯片的性能和可靠性直接影响到整体系统的功能和稳定性。随着集成电路技术的快速发展，芯片的复杂性日益增加，仿真测试芯片的运行情况变得愈发重要。现有的芯片仿真测试方法通常依赖于硬件测试设备，通过对实际芯片的运行状态进行监测和分析。
2、现有芯片仿真测试方法存在以下缺陷：
3、测试数据分析不充分：现有的仿真系统往往依赖于设计阶段生成的理论数据，缺乏对实际应用场景中的测试数据的充分采集和利用，导致仿真结果与实际运行状态之间存在较大差距。
4、复杂性处理能力不足：随着芯片功能的不断扩展，现有仿真工具在处理高复杂度芯片时，可能出现性能瓶颈，导致仿真速度缓慢和资源消耗高。
5、因此怎样提高复杂芯片结构的仿真速度的同时，提高芯片仿真运行测试的准确率是现有技术的难点，为此提供应用芯片测试数据的芯片运行仿真系统。
技术实现思路
1、为了解决上述技术问题，本专利技术的目的在于提供应用芯片测试数据的芯片运行仿真系统。
2、为了实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
3、应用芯片测试数据的芯片运行仿真系统，包括管控中心，所述管控中心通信连接有测试数据采集模块、部件数据关联分析模块以及芯片运行仿真模块；
4、所述测试数据采集模块用于设置若干种芯片测试指令，并调取若干个相同的目标芯片同时执行多次芯片测试指令，进而采集各次芯片
5、所述部件数据关联分析模块用于根据目标芯片内运行部件分布建立若干个运行部件节点，并将各个运行部件节点依次连接得到部件分布结构树，进而根据各个芯片测试指令在部件分布结构树中遍历出相应的运行部件节点路径，同时根据各个芯片测试指令对应的历史测试数据集获得各个运行部件节点的多种运行数据区间，进而获取在不同芯片测试指令以及不同数据处理路径下，各个运行部件节点之间各个运行数据区间的交替概率，进而根据各个运行部件节点之间的交替概率，整合运行部件节点路径得到动态运行状态迁移网络；
6、所述芯片运行仿真模块用于获取实时芯片测试指令，并将实时芯片测试指令输入至动态运行状态迁移网络匹配相关的运行部件节点路径，根据匹配的运行部件节点路径在部件分布结构树内的各个运行部件节点之间设置运行状态偏移概率，进而将实时测试数据输入至部件分布结构树进行多次运行仿真模拟获得实时测试数据集，以及将实时测试数据输入目标芯片中获得实际测试数据集，根据实际测试数据集与实时测试数据集之间的相似度，判断是否对动态运行状态迁移网络进行修正。
7、进一步的，所述多次芯片测试指令的设置过程包括：
8、所述目标芯片由n个运行部件以及线路板组成，其中运行部件镶嵌于线路板上，进而测试数据采集模块对各个运行部件设置编号a1、a2、a3、……、an，其中n为大于0的自然数；
9、所述测试数据采集模块设置i份各不相同的测试数据，以及j个数据处理路径，其中i和j为大于0的自然数；
10、将各份测试数据与数据处理路径配对得到i*j个芯片测试指令，同时在各个运行部件安装数据监听节点，用于生成各个运行数据执行芯片测试指令过程的历史运行数据。
11、进一步的，所述历史测试数据集的生成过程包括：
12、测试数据采集模块将芯片测试指令同时发送至k个相同型号目标芯片的中央处理器，在测试数据沿着数据处理路径经过各个运行部件的过程中，当测试数据进入任一个运行部件时，对应运行部件内置的数据监听节点自动启动，进而数据监听节点同时监听运行部件各个引脚的工作状态，并生成相应历史运行数据；
13、当中央处理器判断测试数据经过数据处理路径内各个运行部件后，收集各个数据处理路径对应的各个运行部件的历史运行数据；
14、测试数据采集模块将各个芯片测试指令与对应的全部历史运行数据整合得到相应历史测试数据集，并设置编号sk，1，1，1、sk，1，1，1、……、sk，i，j，m，其中sk，i，j，m表示第k个目标芯片在第m次执行第i*j个芯片测试执行指令的历史测试数据集，其中k和m为大于0的自然数。
15、进一步的，所述部件分布结构树的建立过程包括：
16、部件数据关联模块根据目标芯片内的运行部件数量建立n个运行部件节点，并按照各个运行部件在目标芯片中的实际分布，将各个运行部件节点依次连接，得到对应目标芯片的部件分布结构树，同时对各个运行部件节点标注相应编号，以及根据各个运行部件节点对应运行部件的引脚数量，对各个运行部件节点设置相同数量的引脚数据节点；
17、进而部件数据关联分析模块首先根据编号下标数中间两位相同的历史测试数据集中提取出各个运行部件的各项历史运行数据，并将不同数据处理路径但对应同一个运行部件的各项历史运行数据，映射于对应运行部件节点的引脚数据节点中。
18、进一步的，所述运行部件节点的运行数据区间的获取过程包括：
19、在各个引脚数据节点中建立多维坐标系，进而将引脚数据节点中来自不同历史测试数据集且为同种类数据的历史运行数据同时映射于多维坐标系上，随机选取历史运行数据在多维坐标系上关联的一个坐标轴，并在对应坐标轴上划分出若干份间隔距离相等的数值点位；
20、通过数值点位将各个历史运行数据划分为运行数据点位，将对应同一个数值点位的运行数据点位进行正态分布，进而根据正态分布横坐标选取坐标值中心30%的数据区间作为对应种类数据在相应数值点位的正常坐标区间，其余部分记为异常坐标区间；
21、将各个数值点位对应正常坐标区间以及异常坐标区间依次连接，进而得到在对应测试数据以及数据处理路径下，相应运行部件节点的一项历史运行数据的正常运行数据区间以及多个异常运行数据区间。
22、进一步的，所述动态运行状态迁移网络的建立过程包括：
23、在部件分布结构树中遍历出各个数据处理路径对应的运行部件节点路径，并根据各个历史测试数据集编号下标数的中间两位，将各个历史测试数据集对应生成的各个运行部件之间的正常运行数据区间以及多个异常运行数据区间，映射于相应的运行部件节点路径中的运行部件节点之间；
24、进而统计在不同测试数据以及不同数据处理路径下，各个运行部件节点之间正常运行数据区间以及异常运行数据区间的交替概率；
25、重复上述获取交替概率操作，将各种测试数据以及各种数据处理路径下，各个运行部件节点之间各种运行数据区间的交替概率映射于对应运行部件节点路径内相关运行部件节点之间的引脚数据节点中，整合全部运行部件节点路径并关联相应芯片测试指令得到动态运行状态迁移网络。
26、进一步的，实时测试数据与动态运行状态迁移网络匹配的过程包括：
27、将实时测试数据划分为若干段实时测试数据片段，进而将各个实时测试数据片段从各个测试数据的第一本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.应用芯片测试数据的芯片运行仿真系统，包括管控中心，其特征在于，所述管控中心通信连接有测试数据采集模块、部件数据关联分析模块以及芯片运行仿真模块；
2.根据权利要求1所述的应用芯片测试数据的芯片运行仿真系统，其特征在于，所述多次芯片测试指令的设置过程包括：
3.根据权利要求2所述的应用芯片测试数据的芯片运行仿真系统，其特征在于，所述历史测试数据集的生成过程包括：
4.根据权利要求3所述的应用芯片测试数据的芯片运行仿真系统，其特征在于，所述部件分布结构树的建立过程包括：
5.根据权利要求4所述的应用芯片测试数据的芯片运行仿真系统，其特征在于，所述运行部件节点的运行数据区间的获取过程包括：
6.根据权利要求5所述的应用芯片测试数据的芯片运行仿真系统，其特征在于，所述动态运行状态迁移网络的建立过程包括：
7.根据权利要求6所述的应用芯片测试数据的芯片运行仿真系统，其特征在于，实时测试数据与动态运行状态迁移网络匹配的过程包括：
8.根据权利要求7所述的应用芯片测试数据的芯片运行仿真系统，其特征在于，判断
...【技术特征摘要】
1.应用芯片测试数据的芯片运行仿真系统，包括管控中心，其特征在于，所述管控中心通信连接有测试数据采集模块、部件数据关联分析模块以及芯片运行仿真模块；
2.根据权利要求1所述的应用芯片测试数据的芯片运行仿真系统，其特征在于，所述多次芯片测试指令的设置过程包括：
3.根据权利要求2所述的应用芯片测试数据的芯片运行仿真系统，其特征在于，所述历史测试数据集的生成过程包括：
4.根据权利要求3所述的应用芯片测试数据的芯片运行仿真系统，其特征在于，所述部件分布结构树的建立过程包括：
<...【专利技术属性】
技术研发人员：吴晋，祁姝音，林仪峰，
申请(专利权)人：宁波淞宸智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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