【技术实现步骤摘要】
本技术属于测试座，具体涉及一种自锁开窗式测试座。
技术介绍
1、芯片在使用前需要通过测试，现有的芯片测试方法为通过芯片测试座进行测试。现有的芯片测试座是通过芯片放置在测试座的芯片放置位置，将压盖盖在芯片放置位置，芯片被夹在底部座子与上部盖片之间，即可让芯片的管脚与弹管顶针接触完全，芯片可被控制完成特定功能。然而，该盖片的一端一般可转动地设置在芯片测试座本体的一侧，这个过程需要人手动将盖片闭合，由于盖片设置在芯片测试座本体的一侧，因此存在一个斜面压盖的过程，操作过程时间较长，操作繁现复杂。
技术实现思路
1、(1)要解决的技术问题
2、针对现有技术的不足，本技术的目的在于提供一种自锁开窗式测试座，该测试座旨在解决现有技术芯片固定过程操作负责的技术问题。
3、(2)技术方案
4、为了解决上述技术问题，本技术提供了这样一种自锁开窗式测试座，该测试座包括本体，本体的顶部滑动设置有上盖，上盖的前后两侧中部均安装有对芯片进行限位的钩子，上盖的左右两侧中部均固定安装有顶块，本体上且与顶块相对应的位置处固定安装有保护罩，顶块与保护罩滑动连接，顶块与对应的保护罩之间还设置有连接机构。
5、优选地，钩子的中部通过销轴转动安装于本体上，钩子还通过销轴转动连接于两个竖杆上，竖杆的顶端与上盖的底部固定连接，竖杆的侧面开设有导向槽，本体上固定连接有与导向槽相配合的导向杆。
6、进一步的，连接机构包括连接杆、连接凸块和弹簧，上盖和顶块的中部均开设有用于
7、更进一步的，保护罩的内部开设有用于顶块伸缩的空腔，本体的底部开设有下弹簧腔，下弹簧腔的内部固定连接有弹簧，连接凸块直径较大端的内部开设有上弹簧腔。
8、更进一步的，保护罩的内顶壁开设有多个限位滑槽，顶块的底端外表面固定连接有多个与限位滑槽相配合的第一限位滑块，且第一限位滑块滑动连接于限位滑槽的内部。
9、更进一步的，连接凸块直径较大端外表面固定连接有多个与限位滑槽相配合的第二限位滑块，且第一限位滑块滑动连接于限位滑槽的内部，且第二限位滑块位于第一限位滑块的下方。
10、(3)有益效果
11、与现有技术相比，本技术的有益效果在于：
12、本技术首先通过向下第一次按压上盖后，能够将钩子向上抬起，然后将芯片放入本体上，然后再次向下按压上盖能够压缩弹簧，再次下压上盖之后再松开上盖之后在弹簧的复位作用下能够将上盖复位，从而使得钩子压住芯片，取放产品更加方便，该测试座固定芯片的步骤简单，仅需按压一下上盖即可放入芯片，然后再按压一下上盖即可完成对芯片的固定，其实现能大大降低工人的劳动强度，使用更加方便、快捷。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种自锁开窗式测试座，该测试座包括本体(1)，其特征在于：所述本体(1)的顶部滑动设置有上盖(2)，所述上盖(2)的前后两侧中部均安装有对芯片进行限位的钩子(3)，所述上盖(2)的左右两侧中部均固定安装有顶块(4)，所述本体(1)上且与顶块(4)相对应的位置处固定安装有保护罩(5)，所述顶块(4)与保护罩(5)滑动连接，所述顶块(4)与对应的保护罩(5)之间还设置有连接机构(6)。
2.根据权利要求1所述的一种自锁开窗式测试座，其特征在于：所述钩子(3)的中部通过销轴转动安装于本体(1)上，所述钩子(3)还通过销轴转动连接于两个竖杆(7)上，所述竖杆(7)的顶端与上盖(2)的底部固定连接，所述竖杆(7)的侧面开设有导向槽，所述本体(1)上固定连接有与导向槽相配合的导向杆(8)。
3.根据权利要求1所述的一种自锁开窗式测试座，其特征在于：所述连接机构(6)包括连接杆(61)、连接凸块(62)和弹簧(63)，所述上盖(2)和顶块(4)的中部均开设有用于连接杆(61)贯穿的通孔，所述顶块(4)的底部开设有容纳连接凸块(62)直径较小端的上凹槽(41)，所述连
4.根据权利要求3所述的一种自锁开窗式测试座，其特征在于：所述保护罩(5)的内部开设有用于顶块(4)伸缩的空腔，所述本体(1)的底部开设有下弹簧腔(11)，所述弹簧(63)的一端固定连接于下弹簧腔(11)的内部接有，所述连接凸块(62)直径较大端的内部开设有上弹簧腔(611)，所述弹簧(63)的另一端延伸至空腔和上弹簧腔(611)的内部。
5.根据权利要求4所述的一种自锁开窗式测试座，其特征在于：所述保护罩(5)的内顶壁开设有多个限位滑槽(51)，所述顶块(4)的底端外表面固定连接有多个与限位滑槽(51)相配合的第一限位滑块(21)，且第一限位滑块(21)滑动连接于限位滑槽(51)的内部。
6.根据权利要求5所述的一种自锁开窗式测试座，其特征在于：所述连接凸块(62)直径较大端外表面固定连接有多个与限位滑槽(51)相配合的第二限位滑块(621)，且第二限位滑块(621)滑动连接于限位滑槽(51)的内部，且第二限位滑块(621)位于第一限位滑块(21)的下方。
...【技术特征摘要】
1.一种自锁开窗式测试座，该测试座包括本体(1)，其特征在于：所述本体(1)的顶部滑动设置有上盖(2)，所述上盖(2)的前后两侧中部均安装有对芯片进行限位的钩子(3)，所述上盖(2)的左右两侧中部均固定安装有顶块(4)，所述本体(1)上且与顶块(4)相对应的位置处固定安装有保护罩(5)，所述顶块(4)与保护罩(5)滑动连接，所述顶块(4)与对应的保护罩(5)之间还设置有连接机构(6)。
2.根据权利要求1所述的一种自锁开窗式测试座，其特征在于：所述钩子(3)的中部通过销轴转动安装于本体(1)上，所述钩子(3)还通过销轴转动连接于两个竖杆(7)上，所述竖杆(7)的顶端与上盖(2)的底部固定连接，所述竖杆(7)的侧面开设有导向槽，所述本体(1)上固定连接有与导向槽相配合的导向杆(8)。
3.根据权利要求1所述的一种自锁开窗式测试座，其特征在于：所述连接机构(6)包括连接杆(61)、连接凸块(62)和弹簧(63)，所述上盖(2)和顶块(4)的中部均开设有用于连接杆(61)贯穿的通孔，所述顶块(4)的底部开设有容纳连接凸块(62)直径较小端的上凹槽(41)，所述连接杆(61)的底端外表面固定连接有外螺纹，所述连接凸块(62)直径较小...
【专利技术属性】
技术研发人员：涂炳超，
申请(专利权)人：东莞市台易电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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