System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 采样电路版图的确定方法、装置、设备、介质及程序产品制造方法及图纸_技高网

采样电路版图的确定方法、装置、设备、介质及程序产品制造方法及图纸

技术编号:43716224 阅读:19 留言:0更新日期:2024-12-18 21:30
本申请提供一种采样电路版图的确定方法、装置、设备、介质及程序产品。其中,方法包括:创建初始参考电容单元;对初始参考电容单元进行验证得到验证结果,确定验证结果对应的电容调整量,利用电容调整量对初始参考电容单元进行调整,得到目标电容单元;将至少一个目标电容单元进行排布,得到初始采样电路版图;对初始采样电路版图进行误差分析,根据误差分析结果调整初始采样电路版图的排布,得到目标采样电路版图。这样,能够自动对初始参考电容单元进行调整得到目标电容单元,以及自动对排布的初始采样电路版图进行调整得到目标采样电路版图,进而更加快速准确的得到目标电容单元和目标采样电路版图,有效避免人为参与的误差。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及电子电路,尤其涉及一种采样电路版图的确定方法、装置、设备、介质及程序产品


技术介绍

1、随着科技的迅速发展,采样电路的应用越来越广泛,采样电路是由至少一个电容与对应的开关连接构成的电路,具体可以通过开关接通向电容充电输入电压,然后开关断开让电容保持对应的输入电压。

2、目前对于采样电路需要人工对版图进行反复调整才能得到,对应人工调整过程消耗时间长,并且人力成本比较高。


技术实现思路

1、有鉴于此,本申请的目的在于提出一种采样电路版图的确定方法、装置、设备、介质及程序产品,用以解决或部分解决上述技术问题。

2、基于上述目的,本申请提供了一种采样电路版图的确定方法,包括:

3、创建初始参考电容单元;

4、对所述初始参考电容单元进行验证得到验证结果,确定所述验证结果对应的电容调整量,利用所述电容调整量对所述初始参考电容单元进行调整,得到目标电容单元;

5、将至少一个目标电容单元进行排布,得到初始采样电路版图;

6、对所述初始采样电路版图进行误差分析,根据误差分析结果调整所述初始采样电路版图的排布,得到目标采样电路版图。

7、基于同一专利技术构思,本公开还提供了一种采样电路版图的确定装置,包括:

8、参考电容创建模块,被配置为创建初始参考电容单元;

9、参考电容调整模块,被配置为对所述初始参考电容单元进行验证得到验证结果,确定所述验证结果对应的电容调整量,利用所述电容调整量对所述初始参考电容单元进行调整,得到目标电容单元;

10、采样电容排布模块,被配置为将至少一个目标电容单元进行排布,得到初始采样电路版图;

11、采样电容调整模块,被配置为对所述初始采样电路版图进行误差分析,根据误差分析结果调整所述初始采样电路版图的排布,得到目标采样电路版图。

12、基于同一专利技术构思,本公开还提供了一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可由所述处理器执行的计算机程序,所述处理器在执行所述计算机程序时实现如上所述的方法。

13、基于同一专利技术构思,本公开还提供了一种非暂态计算机可读存储介质,所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令,所述计算机指令用于使计算机执行如上所述的方法。

14、基于同一专利技术构思,本申请还提供了一种计算机程序产品,包括计算机程序指令,当所述计算机程序指令在计算机上运行时,使得所述计算机执行如上所述的方法。

15、从上面所述可以看出,本申请提供的采样电路版图的确定方法、装置、设备、介质及程序产品,在创建初始参考电容单元之后,会对该初始参考电容单元进行验证,根据验证结果对应的电容调整量自动对初始参考电容单元进行调整,进而得到更加准确的目标电容单元;并且将至少一个目标电容单元排布得到初始采样电路版图之后,为了保证初始采样电路版图的准确性,会对其进行误差分析,根据误差分析结果自动对初始采样电路版图的排布进行调整,进而更加快速得到准确的目标采样电路版图;这样能够将采样电路布图的工作量减少至原本工作量的万分之一,极大的提高了布图效率,降低了人力成本,并且有效减少人为操作的误差。

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【技术保护点】

1.一种采样电路版图的确定方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述创建初始参考电容单元包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述初始参考电容单元进行验证得到验证结果,确定所述验证结果对应的电容调整量,利用所述电容调整量对所述初始参考电容单元进行调整,得到目标电容单元,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述基于所述初始参考电容单元,导出初始参考电容格式数据,包括:

5.根据权利要求3或4所述的方法,其特征在于,所述利用寄生提取程序对所述初始参考电容格式数据,进行寄生电容提取,得到第一寄生电容值,包括:

6.根据权利要求3或4所述的方法,其特征在于,所述响应于所述比对结果超出所述第一预定范围,根据比对结果确定电容调整量,利用电容调整量对所述初始参考电容单元进行调整,包括:

7.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述将至少一个目标电容单元进行排布,得到初始采样电路版图,包括:

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述利用电路创建程序按照设定的比例数据调取至少一个目标电容单元,创建第一采样电容电路,包括:

9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述基于所述采样电容电路模型,将设定数量的目标电容单元按照所述比例数据进行分配连接,得到连接好的采样电容电路模型,包括:

10.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述对所述第一采样电容电路版图中的至少一个目标电容单元,进行区域排布,得到初始采样电路版图,包括:

11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,所述将单元数量大于等于第一数量阈值的排,分别设置在两个边缘区域,包括:

12.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述对所述初始采样电路版图进行误差分析,根据误差分析结果调整所述初始采样电路版图的排布,得到目标采样电路版图,包括:

13.根据权利要求12所述的方法,其特征在于,所述初始采样电路版图中的至少一个目标电容单元的按照比例数据的每项比例值进行数量排布;所述第二寄生电容包括:与每项比例值对应的目标电容单元的第一子寄生电容值,所述第二预定范围包括:比例误差范围;

14.根据权利要求12所述的方法,其特征在于,所述第二寄生电容包括:所述初始采样电路版图中至少一个目标电容单元统一的第一端与地线之间的第二子寄生电容值,所述第二预定范围包括:对地电容设定范围;

15.一种采样电路版图的确定装置,其特征在于,包括:

16.一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至14任意一项所述的方法。

17.一种非暂态计算机可读存储介质,所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令,其特征在于,所述计算机指令用于使计算机执行权利要求1至14任一所述方法。

18.一种计算机程序产品,包括计算机程序指令,其特征在于,当所述计算机程序指令在计算机上运行时,使得所述计算机执行如权利要求1至14中任一项所述的方法。

...

【技术特征摘要】

1.一种采样电路版图的确定方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述创建初始参考电容单元包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述初始参考电容单元进行验证得到验证结果,确定所述验证结果对应的电容调整量,利用所述电容调整量对所述初始参考电容单元进行调整,得到目标电容单元,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述基于所述初始参考电容单元,导出初始参考电容格式数据,包括:

5.根据权利要求3或4所述的方法,其特征在于,所述利用寄生提取程序对所述初始参考电容格式数据,进行寄生电容提取,得到第一寄生电容值,包括:

6.根据权利要求3或4所述的方法,其特征在于,所述响应于所述比对结果超出所述第一预定范围,根据比对结果确定电容调整量,利用电容调整量对所述初始参考电容单元进行调整,包括:

7.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述将至少一个目标电容单元进行排布,得到初始采样电路版图,包括:

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述利用电路创建程序按照设定的比例数据调取至少一个目标电容单元,创建第一采样电容电路,包括:

9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述基于所述采样电容电路模型,将设定数量的目标电容单元按照所述比例数据进行分配连接,得到连接好的采样电容电路模型,包括:

10.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述对所述第一采样电容电路版图中的至少一个目标电容单元,进行区域排...

【专利技术属性】
技术研发人员:王继伟
申请(专利权)人:笔特科技成都有限公司
类型:发明
国别省市:

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